材料测试与研究方法重点

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1、材料测试y研究方法重点一.名词解释相对强度：同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。积分强度：扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。透射电镜的点线分辨率：点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离；线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。拉曼效应：散射光的散射强度中约有1%的光频率与入射光束的频率不同。除了在入射光频率处有一强的瑞利散射线以外，在他的较高（反斯托克斯线）和较低频率（斯托克斯线）还有比他弱的多的谱线。化学位移：由于原子所处的化学环境不同，而引起的原子内壳层电子结合能的变化，在谱图上表现为谱线的位移。Moseley定律：对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近

2、似成反比关系。差热分析：在程序控制温度下，测量物质和参比物的温度差与温度关系的一种方法。（DTA）差示扫描量热法：把试样和参比物的温度差保持为零时，所需要的能量对时间关系的一种技术。（DSC）拉曼位移：拉曼散射光与入射光频率之差。系统消光：把巾于Fhkl=0而使衍射线奋规律的消失的现象称为系统消光。x射线衍射方向：是两种相丁波的光程差是波长整数倍的方向。明暗场像：用物镜光栏挡去衍射朿，让透射束成像，冇衍射的为暗像，无衍射的为明像，这样形成的为明场像；用物镜光栏挡去透射朿和M:余衍射朿，让一朿强衍射成像，则无衍射的为暗像，又衍射的为明像，这样形成的为暗场像。二次电子：在入射电子作用下被轰出并

3、离开样品表而的原子的核外电子。背散射电了：入射电了与试样相互作用经多次散射后，重新逸出试样表而的电了。光电效应：当具冇一定能Shv的入射光了•与样品的原了互相作用时，单个光了把全部能S交换给原了•某壳层上一个受束缚的电子，这个电子就获得能量。如果该能跫大干电子的结合能Eb，该电子就将脱离原来受朿缚的能级；若还有多余的能量可以使电子克服功函数w,则电子就成为自山电子，并获得一定动能Ek并且hv=Eb+Ek+W。该过程称为光电效应。二，简答题1.X射线谱有哪两种类型？其含义是什么？两种类型：连续x射线谱和特征x射线谱。连续x射线谱：x射线管屮发出一部分的包含各种波长的光的光谱。从管屮释放的电子

4、与阳极碰摘的吋间和条件各不相同，绝大多数电子要经历多次碰撞，产生能M各不相同的辐射，因此出现连续x射线谱。特征x射线谱（标识射线谱）:由若干特定波氏而且强度很大的谱线构成,这种谘线只冇当管电Ils超过激发电压时冰能产生，而这种谱线的波K与x射线管的管电压，替屯流等工作条件无关，只収决于叩极材料。不M金诚制成的阳极将发出不同波长的谱线，并称为特征x射线谱。2.ka射线和klB射线的区别？哪种射线强度人，哪种射线波K:短？x射线衍射川的哪种射线？为什么kci射线屮包含kci1和kci2?ka是L壳层中的电了跳入k层空位时发出的X射线，Ke射线是M壳层中的电了跳入k层空位时发出的X射线;比kP强

5、度大，因为L层电子跳入k层空位的几率比M层屯子跳入K层空位的几率大；KP波长短；x射线衍射用的是K«射线（用滤波片吸收KP，选择原则）；K«射线是由KcH和Ka2组成，他们分别是电子由L3和L2子能级跳入K层空位吋产生的。3.晶体对X射线的散射有哪两类？四种基木类型的空间点阵是什么？晶体对x射线的散射冇相干散射（只改变方向，不改变能fi）和不相干散射（方向，能fi都改变）。四种点阵：简单立方，体心立方，面心立方，底心立方。4.结构因子的概念和影响因素。结构W子的绝对值是一个品胞的相干散射振幅和一个电子相干散射振幅的比值。结构W子只与原子种类和在品胞中的位置有关，不受晶胞人小和形状的影响。5

6、.晶体使x射线产生衍射的充分条仲足什么？什么足系统消光？充分条件是M吋M吋满足布拉格方程（2dsin0=nX）和Fhkl其0.把由于Fhkl=O使衍射线有规律的消失的现象称为系统消光（分为结构消光和点阵消光）。1.粉晶x射线衍射卞片（JCPDS或PDFf：•片）检索手册的本类型有几种？字母索引按物质英文名称的字母顺序哈氏索引8条强线按d值相对强度递减顺序排列芬克索引8条最强线以按d值递减顺序排列2.对一张浞合物相的x射线衍射阁进行定性分析吋，应注意哪些问题？优先考虑哪些衍射线？为什么？衍射仪用粉末试样的粒度是多少？（1）d值比对强度更为重要，核对时d值必须相当符合，一般只能在小数点后第二位

7、有分歧（2）低角度d值比高角度d值更粟要；（3）强线比弱线重要；（4）不与其他线秉叠的线（特征线）柬要；（5）结合其他信息，如成分，热处理过程；（6）借助其他测试方法共同表征粉末粒度是10~40um3.电子束与物质相互作用可以获得哪些信息？透射电子（样品微区成分，晶体结构）二次电子（样品表血形貌）背散射电子（表面平均成分分布，表面形貌）特征x射线（物象分析）荧光x射线（〒均成分）俄歇电子（电子壳层特征能量，元素种类分析）