a现代研究方法总结

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1、一.阳极靶的选择(1)2靶〈Z试样(2)自动滤波2靶=Z试样+1或+2(3)Z靶〉〉Z试样最忌Z靶+1或+2=7试样二.布拉非点阵：由等同点(表示原子分布规律的代表点)构成的点阵叫布拉菲点阵。三.倒易点阵的性质1、正点阵晶胞的体积V与倒易点阵晶胞的体积V*成倒数关系。1/v2、正点阵的基矢与倒易点阵的基矢互为倒易，即：a=(b*c*)/v*b=(c*a*)/v*c=(a*b*)/v*3、任意倒易矢量g=ha*+kb*+lc*必然垂直于正点阵中的(hkl)面。4、

2、g

3、=l/d(hkl)四.实际晶体的倒易点阵简单立方点阵的倒易点阵仍为

4、简单立方，晶胞边长为1/a。BCC点阵的倒易点阵为FCC，晶胞边长为2/aFCC点阵的倒易点阵是BCC,其晶胞边长为2/a。简单六方点阵的倒易点阵仍为简单六方五.厄瓦尔德图解作图法：1、画出晶体倒易点阵。2、画出入射光波矢量，求出球心。3、以1/入为半径画一球。4、分析凡与球面相交徳倒易点都可发生衍射。六.系统消光：由原子在晶胞中位置不同而引起的某些方向上衍射线的消失。七.劳埃法：用多色(连续)光，照射固定不动的单晶体，G不变，X变化。所以有一系列与之相对应的反射球连续分布在一定的区域。而使反射球总有机会与某些倒易点相交。多晶体衍射

5、方法(粉末法)：用单色(标识)X光照射多晶体样品。不变，变，固定不动的多晶体就其晶粒间的位向关系而言，相当于单晶体转动的情况。反射球有充分的机会与某些倒易节点相交而发生衍射。周转晶体法：用单色(标识)X光，照射转动的单晶体。X不变，()变，使反射球总有机会与某些倒易节点相交。八.德拜一谢乐(粉末照相)法成像原理：一系列倒易球与反射球相交而形成一系列衍射圆锥。

6、g

7、〉2/A吋两球不相交即为衍射极限条件。X射线衍射仪工作原理：样品为弯曲的形成聚焦园，但实际G变化聚焦园半径1也变化。所以试样做成平面状。聚焦园半径1与-=Zcos(--^)

8、=/sim9Z=—^―0有关：22所以0越大1越小(R—定)要保持试样与聚焦园相切，必须试样转G角，而探测器转动2G角，才能保证聚焦。九.物相鉴定程序：(1)从前反射区(20<90o)中选収强度最大的三根线，并使其d值按强度递减次序排列，其余线条的d递减列于三强之后。(2)在数字索引屮找到对应的dl组。(3)按次强线的d2找到接近的儿列。(4)再看d3是否与待测样数据对应，如某•一列或几列符合，再依次向下查看，直到八强线数据均进行对照为止。最后从屮找出最可能的物相及卡片号。(5)查出相应卡片，将实验所得d，I/Il与卡片上数据详细对

9、照，若完全符合鉴定告结束。十.如何提高显微镜的分辨率根据分辨率Ard的计算公式可知，要想提高显微镜的分辨率，关键是降低照明光源的波长。比可见光波长更短的有：1)紫外线波长在13-390nin之间，会被物体强烈的吸收；2）X射线一但是，迄今为止还没有找到能使X射线改变方叫、发生折射和聚焦成像的物质,也就是说还没有X射线的透镜存在。因此目前紫外线、X射线均不能作为显微镜的照明光源。3）电子波一电子波不仅具有短波长，而且存在使之发生折射聚焦的物质。所以电子波可以作为照明光源，由此形成电子显微镜。电子波可做为显微镜的照明光源，这种显微镜即为

10、电子显微镜。十一.差热分析：是在程序控制温度下，测量物质和参比物的温度差和温度关系的一种技术。原理：当试样发生任何物理或化学变化吋，所释放或吸收的热量是试样温度高于或低于参比物的温度。从而相应的在热分析曲线上可得到放热或吸热峰。差热曲线（DTA曲线）是由差热分析得到的记录曲线。曲线的纵坐标为试样与参比物的温度差（AT）向上表示放热反应,向下表示吸热反应。十二.差示扫描量热法：它是在程序控制温度下，测:W:输入到物质和参比物的功率与温度的关系的一种技术。原理：1.功率补偿型DSC:试样和参比物分别具有独立的加热器和传感器。整个仪器由两

11、个控制系统进行监控。其中一个控制温度，使试样和参比物在预定的速率下升温或降温；另一个用于补偿试样和参比物之间所产生的温差。这个温差是巾试样的放热或吸热效应产生的。通过功率补偿使试样和参比物的温度保持相同（所谓零平衡），这样就可从补偿的功率直接求算热流率。2.热流型DSC:该仪器的特点是利用康铜盘把热呈传输到试样和参比物的，并且康铜盘还作为测量温度的热电偶结点的一部分。传输到试样和参比物的热流差通过试样和参比物平台下的镍铬板与康铜盘的结点所构成的镍铬~康铜热电偶进行监控。试样温度由镊铬板下方的镍铬-镍铝热电偶直接监控。十三.TEM特点

12、（应用）：A、电子束透过薄膜样品B、用于观察样品的形态C、通过电子衍射测定材料的结构，确定材料的物相。SEM特点（应用）A、清晰地显示粗糙样品的表面形貌（具有立体感）B、观察断门表妞微观形态，分析断裂原因和机理C、获取样品的成分信息。