gbt5254-85锗单晶晶向x光衍射测定方法

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1、GB/T5254-85锗单晶晶向X光衍射测定方法中华人民共和国国家标准锗单晶晶向X光衍射测定方法GB/T5254-85——————————————————————————————————————本标准适用于测定锗单晶棒及片的晶向。1原理当一束波长为λ的单色X光入射到单晶表面，与晶体主晶面之间的掠射角θ符合布喇格定律时，将发生X光衍射。利用计数器探测衍射线，根据衍射线出现的位置，可以确定晶体的主晶向。应用X光定向仪测定锗单晶的晶向，一般使用铜靶的Ka辐射，经过镍滤光片，可以获得近似的单色X光，波长λ=0.154178nm。布喇格公式：adsinθ=nλ…

2、………………………………………………⑴式中：θ—布喇格角（掠射角），度（分）；λ—X光波长，λCuKa=0.154178nm；n—干涉级，正整数；d—衍射晶面间距，。d=a／√h2+k2+l2……………………………………………⑵式中：a—晶格常数，a=5.6575（Ge）；h,k,l—晶面指数（密勒指数）。入射X光束，衍射X光束和衍射面的法线在同一平面内，衍射X光束与透射X光束的夹角为2θ。测量原理见图1。 图1采用CuKd辐射为入射X光束时(λ=0.154178nm)，在锗的低指数晶面发生衍射的布喇格角（掠射角）衍射角h、k、l布喇格角θ11113°

3、39＇22022°40＇31126°52＇40033°02＇33136°26＇42241°52＇2试样对被测面无特殊要求，光滑平整的良好切割面即可。单晶棒生长轴晶向的测定，应使被测面垂直生长轴。3测量仪器和设备3.1X光定向仪定向仪主轴应与X光入射束严格垂直，试样台位置读数精度为5°。3.2X射线防护装置4测量步骤4.1锗片晶向偏离角的测定4.1.1初步确定晶片被测面的大致晶向，将锗片置于真空吸气试样台上（或弹簧试样台上）使被测面与X光入射束垂直（即被测面平行定向仪主轴）。4.1.2根据大致确定的主晶面的晶面指数，查表或计算相应的衍射角θ（布喇格角）。

4、4.1.3计数管置2θ角位置。4.1.4试样台置θ角位置；调节试样台绕主轴转动，使衍射束的强度最大，记录试样台读数刻度盘上的数值（即掠射角）Ψ1。4.1.5试样以自身法线为轴。顺时针转动90°角，重复4.1.4条，并记录此时的掠射角Ψ2。4.1.6试样以自身法线为轴。顺时针转动90°角（此时相对初始位置转动了180°角），重复4.1.4条记录此时的掠射角Ψ3。4.1.7试样以自身法线为轴，顺时针转动90°角（此时相对初始位置转动了270°角）重复。4.1.8记录此时的掠射角Ψ4。4.2单晶生长轴的晶向偏离角的测定4.2.1单晶棒固定在夹具上，并安放在定

5、向仪的主轴上使被测面垂直X光入射束（即晶体生长轴垂直定向仪主轴）。4.2.2按4.1.2~4.1.7条步骤进行测量。5结果的计算5.1计算晶向偏离角的水平和垂直分量α和β。α=(Ψ1－Ψ3)/2………………………………………⑶β=(Ψ2－Ψ4)/2………………………………………⑷5.2计算晶向偏离角ΨtgΨ=(tg2α+tg2β)1/2…………………………………………⑸当Ψ<5°时，上式简化为Ψ=(α2+β2)1/2………………………………………⑹6测量报告a.试样编号。b.属于或接近的晶向。c.晶向偏离角在水平和垂直方向上的分量α和β。d.晶向偏离角

6、Ψ。e.操作人员及日期。f.根据需要应写入的内容。7精确度一般本标准可达到的精度不劣于±15′。 附录A关于锗单晶晶向X光衍射测定方法的安全规定（补充件）A1X光对物质有一定的穿透能力，射入人体会杀伤细胞，使人体组织受到一定的损伤。由于人体有相当的自身恢复机能，在不超过规定的照射剂量时，受害的细胞组织可以很快恢复机能。一般全身照射的每周最大允许安全剂量为01雷姆(rem)，实际正常操作远小于这个剂量。A2工作时，在X光主光束方向不应有任何人员，操作人员不应用手去拿试样，更不能在主光束方向观看。A3操作人员工作时，最好穿带防护衣，带铝玻璃眼镜。按国家有关

7、规定，定期进行身体检查。____________________附加说明：本标准由中华人民共和国冶金工业部、中国有色金属工业总公司提出。本标准由北京有色金属研究总院负责起草。本标准主要起草人翟富义。国家标准局1984-01-17发布1984-12-01实施