YST63.16-2006铝用碳素材料检测方法第16部分：微量素的测定X射线荧光光谱分析方法.pdf

《YST63.16-2006铝用碳素材料检测方法第16部分：微量素的测定X射线荧光光谱分析方法.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、ICS71.100.10Q52中华人民共和国有色金属行业标准YS/T63.16-2006铝用炭素材料检测方法第is部分微量元素的测定x身寸线荧光光谱分析方法Carbonaceousmaterialsusedintheproductionofaluminium-Part16:AnalysisusinganX-rayfluorescencemethod(ISO12980:2000,Carbonaceousmaterialsusedintheproductionofaluminium-Greencokeandcalcinedcokeforelec

2、trodes-AnalysisusinganX-rayfluorescencemethod，MOD)2006-03-07发布2006-08-01实施国家发展和改革委员会发布YS/T63.16-2006911舀YS/T63((铝用炭素材料检测方法》共有20部分:YS/丁63.1第1部分阴极糊试样焙烧方法、焙烧失重的测定及生坯试样表观密度的测定—YS门、63.2第2部分阴极炭块和预焙阳极室温电阻率的测定-YS/T63.3第3部分热导率的测定比较法-YS/T63.4第4部分热膨胀系数的测定-YS/I'63.5第5部分有压下底部炭块钠膨胀率的测定-

3、YS/T63.6第6部分开气孔率的测定液体静力学法--YS/'T63.7第7部分表观密度的测定尺寸法-YS/T63.8第8部分二甲苯中密度的测定比重瓶法-YS/T63.9第9部分真密度的测定氦比重计法YS/T63.10第10部分空气渗透率的测定-YS/T63.11第11部分空气反应性的测定质量损失法-YS/T63.12第12部分预焙阳极CO反应性的测定质量损失法-YS/T63.13第13部分杨氏模量的测定静测法一一YS/T63.14第14部分抗折强度的测定三点法一一YS/T63.15第15部分耐压强度的测定-YS/T63.16第16部分微量

4、元素的测定X射线荧光光谱分析方法一YS/T63.17第17部分挥发分的测定一-YS/T63.18第18部分水分含量的测定一一YS/T63.19第19部分灰分含量的测定一一YS/T63.2。第20部分硫分的侧定本部分为第16部分本部分修改采用了ISO12980:2000((铝生产用炭素材料一石油焦和缎后焦一X射线荧光光谱分析方法》。为方便对照，在附录A中列出了本部分的章条和对应的ISO12980:200。章条的对照表。本部分修改采用ISO12980:200。时，将其目录、前言和引言删除。并根据国内的具体情况增加和修改了一些规定，这些规定用垂直

5、单线标识在它们所涉及的条款的页边空白处。这些规定有:—删除了“仪器和材料”中有关仪器配置的内容和后四项材料以增强标准的适用性;—按照YS/T63.3的规定取样;一删除了国际标准中的测量条件，使用了国内现有设备的实际测量条件;—增加了校正后强度的计算公式;—因为仪器配置中包含控制样品，所以删除了ISO原文的6.4.2“选择与制备控制样品”;一一测定元素增加了Ti元素本部分附录A为资料性附录本部分由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口本部分由中国铝业股份有限公司郑州研究院负责起草。本部分由中国铝业股份有限公司河南分公司起草。本部分主要起草人:

6、王晓雯、梁倩、周建民、王成英、赵镁翼、石洪玉本部分由全国有色金属标准技术委员会负责解释YS/T63.16-2006铝用炭素材料检测方法第16部分微量元素的测定X射线荧光光谱分析方法范围本标准规定了预焙阳极中钠、铝、硅、硫、钙、钦、钒、铁、镍含量的测定方法本标准适用于预焙阳极中钠、铝、硅、硫、钙、钦、钒、铁、镍含量的同时测定。其他铝用炭素材料也可参照使用。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研

7、究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分YS/丁62.3铝用炭素材料取样方法第3部分预焙阳极3方法原理X射线荧光光谱法是通过化学元素二次激发所发射的X射线谱线的波长和强度测量来进行定性和定量分析。由光管发生的初级X射线束照射在试样上，试样内各化学元素被激发出各自的二次特征辐射，这种二次射线通过准直器到达分光晶体。只有满足衍射条件的某个特定波长的辐射在出射晶体时得到加强，而其它波长的辐射被削弱。根据Bragg定理，即公式(1):从=2dsinO······························⋯

8、⋯(1)式中:。—衍射级数;几—人射光束(特征辐射)的波长;d—晶体面间距;0一一人射光与晶面间的夹角。随晶体的旋转，0角发生变化，二次射线发生衍射，色散成光谱。当晶体转过0角时