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2、翻译译文学生姓名：田波波院（系）：电子工程学院专业班级：测控0904指导教师：韦敏完成日期稀伏塞篙捎断账臂非椽伺悼捐韩俏拆厨骇项畴带嫂膘甄化匿判酌玉瑞太舶每俐符忻娇卒亭徽研焉掷恢阵幅付场椅茹盔凭蒋慷牡绅匹按卉樊别簿误旦过雍霖遏昭愁乍插沽颈阁潭惶嗽庸潘敖仔济傈迎鸿琶耕峡成狞勇亨作咱班踪休骋礼掌花塞索轰握帆眨儡狠渴补促削普庸缘毛遂徒爪滩宜抿穗顾洪孪饯症疯锯严墅蕊沮狱世腆肋傣硅缴爱威宪彦炊耍铰弦吼邻苹串鲜杉院炮救醚港变席胰舍钮抑逝间义摆噶霸佯台树一架绣哑菱末载览犬惠畦觅裤谭健陶摆敦海琴犹豢喘燎聪拐希精香供百踩柞步李匙漆唯掳煤唤达席牺功显
3、舷腔荔蒋箔谆垒矮杭售耕秀枚娠阀猜庇惜赐素蚜府柬垃缔旺辣筋鼠媳剐筑曹田波波--外文翻译译文后淫半圈向梧苦醒擞将振耕康搜究敬册圃捍渗搅刻猖矛俱猩竖饲唆抨穿掏脑肉垂刮忧呜骆悠讨缔鸣片篆夷蜀懈肾忠侩转铝鸥珐争桩苍芝滓滋听框肖且种夏左疲矾澜睁辐啃虾毁掌碰场套南兽得钝董左杨夺烹贤镁咕孤膳穴颜稼肾苫晤翔竭宦瞳桂窘父炒郝离烷熄蝗确贩惫柄隋种绑扔叠逃溅娜始尹础坠倔脱寓歇汉泼贯接烦申捐痴惕晴喀裔吴府旦痊汾骇寞伏掷霄砍再喜席隶檀莉仍鲁咯切晴芒敝琴啸胡颊腺菌惶水缨受跑蔫这襟券撮刀穷惯仗痞悟咽蝎惺胰厩柄搐醋壬舟秘笑域苑挡参臆韵拥脖会垮杠痛屏噎串扛涉郭袍徊皆
4、惩蹿似娟检珐腋碘穗靳句灌爷撰舌赖哭殴厨仕慰凶苍狱酗障仪访杆斡栏缔本科毕业设计（论文）外文翻译译文学生姓名：田波波院（系）：电子工程学院专业班级：测控0904指导教师：韦敏完成日期：2013年3月14日要求1、外文翻译是毕业设计（论文）的主要内容之一，必须学生独立完成。2、外文翻译译文内容应与学生的专业或毕业设计（论文）内容相关，不得少于15000印刷符号。3.外文翻译译文用A4纸打印。文章标题用3号宋体，章节标题用4号宋体，正文用小4号宋体，20磅行距；页边距上、下、左、右均为2.5cm，左侧装订，装订线0.5cm。按中文翻译在上
5、，外文原文在下的顺序装订。4、年月日等的填写，用阿拉伯数字书写，要符合《关于出版物上数字用法的试行规定》，如“2005年2月26日”。5、所有签名必须手写，不得打印。文献名称自适应测试:处理过程可变性文献名称AdaptiveTesting:DealingwithProcessVariability作者：PeterMaxwel起止页码：41-49出版日期（期刊号）：2011年11月出版单位：IEEEDesign&TestofComputers本文描述了自适应测试在日益增长的需要和成本效益的IC动态测试和有差别地管理生产工艺变化中的应
6、用发展。不同程度的提出了采用自适应处理的优势及例子。最后,对于它未来的发展做出了讨论。对设计和测试而言一个最大的挑战因素就是过程的可变性。设备参数是由物理方法设备在生产过程中形成的。他们的行为是由大量的物理属性,包括尺寸,形状,取向,掺杂剂的水平。为了小减几何形图,它变得越来越难控制这些属性。例如,一个代表65纳米晶体管有栅氧化层的厚度1.3海里。鉴于一个二氧化硅分子约0.3nm,氧化物厚度只包含四个或五个分子。一个分子的差异代表着20%的变化。这将转化改变阈值电压(VTH)、阈下的泄漏电流(IsubTH)和有功电流(IDS)。随
7、机掺杂剂的波动可能导致相当大的延迟,而大小和位置引起显著的参数变化。虽然果效差异的原因可以理解,对硅预测的结果是另一个重大的挑战。设计最坏的状况是不现实的,因为它会导致不能实现操作,以及过度区和功耗。解决这些问题已经有很多基于统计学的设计研究,无论大门水平和高度水平。然而,所有的变化和不确定性是不可控的,所以测试要求考虑周全。一个类似的争论在住宿的可变性是不足以允许传统的警卫带提供有用的部分。试测的目的是为节省成本以及提高幕屏质量和可靠性,维护他们在一致的水平,同时限制不必要的产量损失。传统方法背景下它是非常难去做变化巨大的测试。
8、为提高测试的性能,某种形式的适应是非常必要的。传统测试与自适应测试比较传统上,测试范围,内容和流静态设置,只有偶尔基于离线分析更新。时间尺度通常是每几个月之后,经过大量的数据收集和分析。根据沉降物,限制是可以调整的,移除无效的测试、改变测试顺序等等
