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1、VLSI测试技术专题报告黑龙江大学电子工程学院VLSI测试技术报告课程名称：VLSI测试技术专业：集成电路班级：2011学号：20112174学生姓名：苏伟2013年1月1日项目与分值格式10选题10语言描述20基本原理20设计方案20参考文献10体会&建议10合计100分得分教师评语教师签名：2013年1月2日otherstaffoftheCentre.Duringthewar,ZhuwastransferredbacktoJiangxi,andDirectorofthenewOfficeinJingdez
2、hen,JiangxiCommitteeSecretary.Startingin1939servedasrecorderoftheWestNorthOrganization,SecretaryoftheSpecialCommitteeAfterthevictoryofthelongMarch,hehasbeentheNorthwestOfficeoftheFederationofStateenterprisesMinister,ShenmufuguSARmissions,DirectorofNingxiaCo
3、untypartyCommitteeSecretaryandrecorderoftheCountypartyCommitteeSecretary,Ministersand9VLSI测试技术专题报告专用可测性设计技术一．引言随着微电子技术的迅速发展、芯片集成度的不断提高以及电路板复杂性的不断增加，传统的测试模型和测试方法已经不能满足当前的测试要求,测试费用急剧增加。本文从可测性设计与VLSI测试，VLSI设计之间的关系出发，将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起，文中简要介绍了
4、VLSI可测性设计的理论基础和技术种类，可测性设计的现状，发展趋势，可测试性设计的内涵、意义和分类，并且探讨了可测性设计的实现方法。关键词：可测性设计，自动测试生产，扫描技术，边界扫描技术，嵌入式自测试。二．可测性设计技术概述2.1可测性的起源于发展过程20世纪70年代，美军在装备维护过程中发现，随着系统的复杂度不断提高，经典的测试方法已不能适应要求，甚至出现测试成本与研制成本倒挂的局面。20世纪80年代中，美国军方相继实施了综合诊断研究计划。并颁布《系统和装备的可测性大纲》，大纲将可测性作为与可靠性及维修等
5、同的设计要求，并规定了可测性分析，设计及验证的要求及实施方法。该标准的颁布标志这可测性作为一门独立学科的确立[1]。尽管可测性问题最早是从装备维护的角度提出，但随着集成电路（IC）技术的发展，满足IC测试的需求成为推动可测性技术发展的主要动力。从发展的趋势上看，半导体芯片技术发展所带来的芯片复杂性的增长远远超过了相应测试技术的进步。otherstaffoftheCentre.Duringthewar,ZhuwastransferredbacktoJiangxi,andDirectorofthenewOffic
6、einJingdezhen,JiangxiCommitteeSecretary.Startingin1939servedasrecorderoftheWestNorthOrganization,SecretaryoftheSpecialCommitteeAfterthevictoryofthelongMarch,hehasbeentheNorthwestOfficeoftheFederationofStateenterprisesMinister,ShenmufuguSARmissions,Directoro
7、fNingxiaCountypartyCommitteeSecretaryandrecorderoftheCountypartyCommitteeSecretary,Ministersand9VLSI测试技术专题报告随着数字电路集成度不断提高，系统日趋复杂，对其测试也变得越来越困难。当大规模集成电路LSI和超大规模集成电路VLSI问世之后，甚至出现研制与测试费用倒挂的局面。这就迫使人们想到能否在电路的设计阶段就考虑测试问题，使设计出来的电路既能完成规定的功能，又能容易的被测试，这就是所谓的可测性设计技术。因此
8、也就出现了可测性的概念。2.2可测性的基本原理可测试性大纲将可测试性(testability)定义为：产品能及时准确地确定其状态（可工作、不可工作、性能下降），隔离其内部故障的设计特性。以提高可测试性为目的进行的设计被称为可测试性设计(DFT:designfortestability)。可测试性是测试信息获取难易程度的表征[2]。一个产品的可测试性包括2方面的含义：一方面，是能通过外部控制激活产品状
