x射线衍射谱线的线形分析 4-谱线宽化效应的分离

x射线衍射谱线的线形分析 4-谱线宽化效应的分离

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1、X射线衍射谱线的线形分析姜传海上海交通大学材料科学与工程学院2005年6月一、绪论二、衍射谱线的数学表达三、宽化效应及卷积关系四、谱线宽化效应的分离五、不完整晶体结构表征六、注意事项及应用实例四、谱线宽化效应的分离1、强度校正及Kα双线分离2、几何宽化与物理宽化的分离3、细晶宽化与显微畸变宽化的分离线形分析步骤主要包括:(1)测量出试样和标样的衍射线,试样和标样必须满足一定要求;(2)对两衍射线进行强度校正和Kα双线分离,得到各自的纯Kα1线形;(3)进行几何宽化与物理宽化分离,得到物理宽化线形;(4)进行细晶宽化、显微畸变宽化及其它与材料组织结

2、构有关的宽化分离。当物理宽度中只包含细晶宽化、只包含显微畸变效应或只包含其它效应时,可分别计算亚晶块尺寸、显微畸变量或其它参数。如果物理宽度中同时包括细晶宽化、显微畸变宽化以及其它宽化因素时,必须通过卷积关系分别确定。1、强度校正及Kα双线分离如果衍射谱线的背底比较平缓,可不进行强度校正,但必须扣除衍射背底。(1)扣除背底强度当衍射背底曲线比较平缓时,可将其近似视为一条直线。在保证衍射峰形完整的前提下选择前后背底角,连接两点作一条直线,将衍射峰形中各点强度减去该直线强度。为减小扣除衍射背底所造成的偶然误差,在前后背底角各取几点进行强度平均,分别作

3、为起始背底强度和终止背底强度。扣除背底后的衍射强度为(2)角因数校正如果要进行角因子校正,则角因子为强度校正公式为(3)原子散射因子校正结构因子中的原子散射因子,是θ角的函数式中为原子所包含的电子数,系数aj、bj和c值,可从有关手册中查阅。计算结果表明,原子散射因子的影响,将导致衍射线高角部分的强度下降。强度校正公式为(4)衍射谱线Kα双线分离实验中常用的Kα辐射线,实际是包含了Kα1与Kα2双线,导致衍射谱线增宽。当衍射谱线Kα双线完全分开时,可直接利用Kα1线形,否则必须进行Kα双线分离。即使无物理宽化因素的标准样品,其衍射线形也往往不能将

4、双线得开,实测曲线宽度是Kα双线的增宽效果。为了得到单一Kα1衍射线形,需要进行Kα双线分离工作。Kα双线分离的常用方法是Rechinger法,这种方法假定Kα双线的衍射线形相似且底宽相等,谱线Kα1与Kα2的峰值强度比值为2:1。当辐射线Kα1与Kα2的波长存在Δλ的偏差时,则衍射角2θ的分离度为利用X射线衍射仪,可获得一系列2θ角及对应衍射计数强度。双线分离度Δ(2θ)对应的采样点数m为式中δ(2θ)为扫描步进角度间隔。假设衍射峰有效数据共包含n个点,若分离前某点衍射计数强度为Ii,则分离后的Kα1线强度及Kα2线强度可表示为图中为实测X射线

5、衍射谱线,可见其衍射峰形很不对称。经过Kα双线分离后的衍射谱线,表明其Kα1峰形比较对称。2、几何宽化与物理宽化的分离完成对被测样品及标样的实测衍射谱线Kα双线分离后,利用它们的Kα1线形,进行几何宽化线形与物理宽化线形的分离工作。它们的卷积关系用实验测得的h(x)及g(x)数据,通过傅里叶变换求解卷积关系,可以精确求解物理宽化线形数据f(x)及物理宽度β,只是计算工作量相当大而繁,必须借助计算机技术。为了避开必须求解f(x)的困难,另一途径便是直接假设各宽化线形为某种已知函数,这便是所谓近似函数法。从数学角度,近似函数法似乎不很严谨,但它确实因

6、绕开了求解物理宽化线形函数的困难,而使工作大为简化。必须强调,标样的选择十分关键。利用没有任何物理宽化因素的标准样品,采用与待测试样完全相同的实验条件,测得标样的衍射线形,并以其峰宽定为仪器宽度。(1)傅立叶变换法在实际衍射线形中,有值区间是有限的,h(x)及g(x)均选取偶数n个数据点,先计算出再计算最后,得到物理宽化线形函数f(x)(2)近似函数法在常规的分析中近似函数图解法被广泛采用,并积累了不少经验,已发展成为一种比较成熟的方法。有三种常见的近似函数可供选择,分别为高斯函数、柯西函数及柯西平方函数近似函数法认定g(x)、f(x)符合某钟罩

7、函数,将三种函数按不同组合代入,便可解出实测综合宽化曲线积宽B、标样仪器宽化曲线积分宽b和待分析样品物理宽化积分宽β之间关系。这三种近似函数的组合,包括两个相同函数的组合或两个不同函数的组合,可有9种典型组合方式。表中列出了五种组合及其积分宽度关系这样,根据实测线形强度数据,经双线分离并得到待测试样及标样的纯Kα1曲线,分别确定它们的积分宽B和b,利用表中积分宽度关系式,即可计算出物理宽化积分宽β值。例如若确定h(x)与g(x)为高斯分布,由表中可知β=(B2-b2)1/2。若它们为柯西分布,则β=(B-b)。用近似函数法进行各种宽化分离的过程中

8、,选择线形近似函数类型是关键。因此,最好对近似函数与实测谱线进行拟合的离散度检验,h(x)与g(x)的离散度为式中Ih(x)及Ig(x)

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