安捷伦液相仪器的故障排除

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1、1.系统(二元泵)进气系统进气会导致泵性能较差、检测器基线噪音、系统压力不稳定(压力波动),极端情况下会导致保留时间精度较差。系统中出现空气可能是以下原因引起:溶剂过滤器堵塞(过滤器中得压力梯度导致流动相中出现气泡)未对流动相进行脱气微量泄漏(空气进入系统,但没有流动相泄漏的明显迹象)未对泵进行充分吹扫泵部件有缺陷波动值波动值以系统压力的百分比形式表示压力波动(峰-峰)。波动值能够很好地反映泵性能。通常,波动值大于1%表明系统中含有空气压力测试压力测试用于测试从泵头的出口球形阀到检测器入口的系统部件的密闭性。泄漏测试失败表明系统中存在泄漏情况。泄漏测试泄漏测试用于验证泵部件的运行是否正常,并排

2、除导致问题的泵模块。PressureTest(binarypump)LeakTest(binarypump)1.系统(单元泵和四元泵)进气PressureTest(isocraticandquaternarypumps)LeakTest(isocraticandquaternarypumps)2.校正错误(DAD/MWD)正确的波长校正取决于检测器的光学和电子部件的正确对齐。校正不正确可能是以下原因引起的:新灯(建议在更换灯之后进行波长校正)灯安装不正确流通池安装不正确在先前的校正过程中,流通池未填满水(有气泡)波长校正波长校正测试检查使用氘灯的α(656.1nm)和β(486nm)发射线进行

3、的校正。如果测试表明校正不正确,则必须执行WavelengthRecalibration。WavelengthCalibrationTest2.校正错误(VWD)正确的波长校正取决于检测器的光学和电子部件的正确对齐。校正不正确可能是以下原因引起的:新灯(建议在更换灯之后进行波长校正)灯安装不正确流通池安装不正确在先前的校正过程中,流通池未填满水(有气泡)光栅未对齐波长校正测试波长校正测试用于检查检测器的校正设置。如果波长校正偏离了测试限值,则应执行波长重新校正。波长校正测试3.滤光片马达出现故障(DAD/MWD)氧化钬测试使用内置氧化钬滤光片的三个特征吸光度最大值来验证波长准确度。在测试过程中

4、,滤光片马达将滤光片移动到光程中。如果马达出现故障,则氧化钬测试失败。滤光片测试滤光片测试检查滤光片马达是否运转正常,并检查氧化钬滤光片的吸光度,以确定滤光片是否受到污染。如果马达无法运转,则测试失败。FilterTest3.滤光片马达出现故障(VWD)氧化钬测试使用内置氧化钬滤光片的三个特征吸光度最大值来验证波长准确度。在测试过程中,滤光片马达将滤光片移动到光程中。如果滤光片无法移动,则氧化钬测试失败。滤光片/光栅马达测试滤光片/光栅测试计算将滤光片马达和光栅马达移回到参比(传感器)位置所需的马达步径数目。如果到达参比位置所需的步径数目不同于预期的步径数目,则测试失败(表明滤光片马达可能出现

5、故障)。Filter/GratingMotorTest4.DAD/MWD氧化钬滤光片受到污染或出现故障氧化钬测试使用内置氧化钬滤光片的三个特征吸光度最大值来验证波长准确度。如果未检测到这三个最大值,则氧化钬测试失败。受到污染的氧化钬滤光片或出现故障的滤光片马达会导致氧化钬测试失败。DAD滤光片测试滤光片测试检查滤光片马达是否运转正常,并检查氧化钬滤光片的吸光度,以确定滤光片是否受到污染。5.VWD氧化钬滤光片或光栅组件出现故障氧化钬测试使用内置氧化钬滤光片的三个特征吸光度最大值来验证波长准确度。如果未检测到这三个最大值,则氧化钬测试失败。受到污染的氧化钬滤光片或出现故障的滤光片马达会导致氧化钬

6、测试失败。VWD滤光片/光栅测试VWD滤光片/光栅测试检查滤光片马达和光栅马达是否运转正常,并检查马达的实际位置与预期位置是否相同。如果滤光片马达出现故障,则氧化钬测试也将失败。VWDFilter/GratingTest6.DAD/MWD非线性DADFilterTest如果吸光度值较高(大于2AU)或存在电子故障,可能会导致检测器非线性。一个或多个光二极管的泄露电流过多可能会导致特定波长处的非线性。暗电流测试(DAD)暗电流测试测量每个光二极管的泄漏电流。该测试用于检查在特定波长处可能会导致非线性或过多噪音的泄漏二极管。DADDarkCurrentTest7.有缺陷的主动进口阀(二元泵)有缺陷

7、或泄漏的主动进口阀(AIV)会导致溶剂量的损失,从而导致泵性能较差、检测器基线噪音、系统压力不稳定(压力波动),在极端情况下会导致保留时间精度较差。进口阀周期AIV周期值表明主动进口阀的磨损程度。针对左侧和右侧主动进口阀提供该值。泄漏测试泄漏测试用于验证泵部件的运行是否正常,并排除导致问题的泵模块部件。LeftInlet-ValveCvclesRightInlet-ValveCvclesLeakT

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