无损检测仪器设备的期间核查方法

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1、无损检测仪器设备的期间核查方法一、射线检测1、曝光曲线的核查方法1.1核查周期射线设备均应制作曝光曲线，曝光曲线每年至少核查一次；射线设备更换重要部件或经较大修理后，应及时对曝光曲线进行核查。1.2准备准备一块阶梯试块（图1）和2块补充试块，材料与被透照工件相同或相近。其中补充试块尺寸长*宽*高为210*100*10（mm）。胶片、增感屏等材料与制作曝光曲线时一致。图1制作曝光曲线的阶梯试块1.3透照各机型按表一选择低、中、高三个管电压进行曝光三次，曝光时其他参数（曝光时间、焦距）与制作曝光曲线时一致。得到一组胶片。

2、表一机型管电压（KV）低中高160560100140200580130180250512018023030051402102801.4暗室处理：按照制作曝光曲线时的暗室处理条件进行冲洗胶片。1.5测定：分别测定底片黑度为3.0（该黑度值与曝光曲线一致）时，对应的阶梯试块厚度。1.6核查结果判定：当上述测定的三个厚度值，与低、中、高管电压查原曝光曲线的厚度值之差在±2mm范围内，曝光曲线合格。否则为不合格，应重新制作。1.7曝光曲线核查记录，按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL120”的表格进行记录。2、黑度

3、计（光学密度计）的核查方法2.1.适用范围本规程用于对射线照相底片的黑度测量的黑度计的校验，使黑度计能够对射线底片黑度作出可靠的测定。黑度计应每6个月校验一次，标准黑度片应每2年送计量单位检定一次。2.2.校验需用标准器具检定合格的标准黑度片一个。2.3操作步骤2.3.1接通黑度计电源和测量开关，预热10min左右。2.3.2用标准黑度片的零黑度点校准黑度计零点。校准后顺序测量黑度片上不同黑度的各点的黑度，记录测量值。2.3.3按3.2的规定反复测量三次。2.3.3计算出各点测量值的平均值，以平均值与黑度片该点的黑度

4、值之差作为黑度计的测量误差。2.3.4对黑度不大于4.5的各点的测量误差均应不超过±0.05，否则黑度计应校准、修理或报废。2.4记录及标识校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按黑度计校验报告内容对测试数据认真记录并评价结论。2.5黑度计核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL121”的表格进行记录。3、观片灯的亮度和均匀度的核查方法3.1核查周期观片灯的亮度和均匀度，应每年进行核查。3.2技术要求3.2.1亮度观片灯应具有按照照相底片的黑度进行亮度选择的装置。观片灯亮度要求的最小值见表二。表二2底片

5、黑度观片灯亮度（cd/m）1.03004.01000002透过射线照相底片的亮度，当底片黑度≤2.5时，应不小于30cd/m；当底片黑度>2.52时，应不小于10cd/m。3.2.2均匀系数观察屏各部分应有均匀照明，均匀系数应大于0.5。3.3核查方法3.3.1一般要求所有的光度测定均在暗室进行，照明光度计必须放在测定范围的中心，而且即使当观察屏完全被遮住后，从观片灯漏出的光不影响测定。3.3.2核查设备试验时所用设备须持有国家计量单位签发的有效证书，测量光学参数时所用的亮度计应符合JJG221的要求。3.3.3亮度

6、测定观片灯亮度测定用亮度计进行。3.3.4均匀系数测定照明均匀系数测定用亮度计进行。把观察屏分成若干正方形，正方形每边长3.5cm，分别测定每个正方形的亮度。找出四个最大亮度值和四个最小亮度值，并计算出Lmax和Lmin亮度的算术平均值，均匀系数g=Lmin/Lmax。3.4观片灯的亮度和均匀度核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL122”的表格进行记录。二、超声检测1试块的核查方法1.1初次使用的标准试块、对比试块，应有有效的合格证书。1.2标准试块、对比试块每次使用前，应进行外观腐蚀及机械损伤情况

7、核查；每4年应采用经校准的器具对其半径及其他尺寸进行核查。1.3超声试块的核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL123”的表格进行记录。2水平线性和垂直线性核查方法水平线性和垂直线性核查方法见我公司“超声波探伤系统校验规程”，每隔3个月应核查一次。垂直线性核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL124”的表格进行记录。水平线性核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL125”的表格进行记录。3探头使用前主要参数核查方法探头使用前，应进行前沿距离（入射点）、K值与双峰、主声束偏

8、离等主要参数核查。3.1前沿距离的核查方法3.1.2测试设备探伤仪及CSK-IA试块。3.1.3测试方法将斜探头压在试块上如图2所示的位置，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。使声束朝向R100mm的曲面，并在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，至曲面回波的幅度达到最大。读出试块上R100mm圆心标记线所对应的探头图侧2面刻度