长虹科技大厦基坑变形观测方案

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1、长虹科技大厦基坑及周边建筑物变形观测方案 四川省川建勘察设计院 2011年05月目录1、工程概述21.1项目概况21.2观测目的21.3技术依据21.4测量项目31.5精度等级31.6坐标系32仪器的选用和检校42.1仪器的选用42.2仪器的检校43、基准点的设置53.1水准基点53.2水平位移基点54、变形点的布设方案54.1基坑坡顶位移观测点的选埋54.2桩体深层侧向位移观测点的选埋55、观测周期65.1基坑水平位移观测、周边建筑物和地面沉降观测、桩体测斜65.2特殊情况66外业观测的实施66.1沉降观测

2、66.2基坑侧壁水平位移观测16.3桩体深层侧向位移观测方法及计算26.4外业观测的几点说明37、内业数据处理37.1.沉降37.2水平位移38、预警值与预警处理48.1预警值48.2预警报告49、提交的资料510、测绘生产安全与质量保证体系。51、工程概述1.1项目概况1、由成都长虹电子科技有限责任公司拟建的成都-长虹高科技研发基地（长虹科技大厦）位于成都市天府新城总部商务区内（成都市高新区大源组团）。总规划用地面积29076.86m,规划总建筑面积165229.04m,拟建物±0.000相当于绝对标高为48

3、9.00米，现场地自然标高约为486.80-489.40米;地下室主楼基础底标高1#楼约为-11.50米（筏板厚度暂按2.0米考虑），2#楼约为-10.50米（筏板厚度暂按1.5米考虑），纯地下室基础底标高基坑为-9.40米（底板厚400mm），根据各段自然地面的不同，以基坑西侧人行道路面为开挖基准面，绝对标高488.20米，基坑FAB段开挖深度约8.60米，基坑BC段开挖深度约7.80米,CD段开挖深度约8.60米，基坑DEF段开挖深度约8.60米;2、本基坑支护采用旋挖桩和喷锚支护相结合的结构的方法；3、本

4、基坑安全等级为一级，允许暴露时间为一年由于基坑开挖，需对基坑护坡坡顶进行水平位移观测和竖向位移观测。1.2观测目的本次变形观测目的是为了在基坑开挖后确保准确、及时、有效地反映该基坑及周边建筑物在施工过程中的变形情况，为建设有关方面提供准确可靠的变形数据。1.3技术依据执行标准：《建筑物变形测量规范》JGJ8-2007《建筑基坑工程监测技术规范》GB50497-2009参考标准：《工程测量规范》GB50026-2007《国家一、二等水准测量规范》GB12897-2006《国家三、四等水准测量规范》GB12898-

5、91《建筑地基基础设计规范》GB50007-2002。《成都地区建筑地基基础设计规范》DB51/T5026-20011.4测量项目根据本基坑支护及周围环境及主体建筑物的特点，监测的主要项目与监测时间段如下：1、基坑坡顶水平位移（基坑开挖和地下结构施工期间）；2、基坑坡顶竖向位移（基坑开挖和地下结构施工期间）；1.5精度等级该项目按照《建筑物变形测量规范》JGJ8-2007变形测量2级要求实施观测。监测项目、测点布置和精度要求表表1序号监测项目位置或监测对象仪器监测精度测点布置报警值1护壁坡顶水平位移冠梁顶部全站

6、仪1.0mm29点30mm，2mm/d3护壁坡顶竖向位移周边建筑物及地面电子水准仪0.3mm/km6点0.003L1.6坐标系本项目采用独立坐标系（包括平面坐标系和高程），独立坐标系的建立应根据现场情况，在首次观测时确定，以便以后各期采用相同的基准点进行数据处理。2仪器的选用和检校2.1仪器的选用2.1.1沉降观测仪器为确保整个工程质量，拟采用的DS1级光学水准仪LaicaNA2一台，DS05电子水准仪ZeissDini03电子水准仪一台。配套设施包括精密铟瓦钢尺、至少5kg重的尺垫和撑杆。2.1.2水平位移观

7、测仪器本工程水平位移观测设备采用日本TOPCONGTS332N全站仪，测角精度2〞,测距精度2mm+2ppm。2.1.3测斜仪：国产CX-03E精密数字测斜仪，主要工作性能指标±2mm/15m。2.1.4其他设备及软件记录：SHARPPC-E500计算机计算机：台式PC机绘图仪：HP7576A和ROLANDDPX-3500打印机：HPLESERJet1022SODPS2000沉降观测数据处理软件包Office2003,AutoCAD20042.2仪器的检校1）作业前应送有资质的单位进行检定，保证仪器符合相应等级

8、仪器的各项要求；2）作业开始后,每次观测前水准仪检校水准仪的i角一次，水准仪的i角不得大于15″。3）每次观测工作开始前应检校标尺圆水准器和水准仪及全站仪概略水准器。若对仪器某一部件的质量有怀疑时，随时进行相应项目的检验和修理，保证仪器有效运行。3、基准点的设置由于场地较小，本项目不布设工作基点。直接由基准点引测变形观测点。水准路线布设成闭合环。3.1水准基点经现场踏勘，本工程选埋三个