JJG889-1995磁阻法测厚仪.pdf

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1、中华人民共和国国家计量检定规程JJG889-1995磁阻法测厚仪MagneticResistanceThinessGauge1995一02一08发布1995一05一01实施国家技术监督局发布.IIG889-1995产。.O.‘，.口.O.O.‘，.砚，.‘，.口.O.口.O.O.磁阻法测厚仪检定规程.价，.入臼.扒︺.乙VerificationRegulationof︺.之，JJG889-1995.了，.扒该MagneticResistance.乙︾.ThinessGauge本检定规程经国家技术监督局于1995年02月08日批准，并自1995年

2、05月01日起施行。归口单位:天津市技术监督局起草单位:天津市计量技术研究所本规程技术条文由起草单位负责解释.1.IG889-1995本规程主要起草人:王心航(天津市计量技术研究所)孟继恒(天津市计量技术研究所)参加起草人:李饵(天津市技术监督局实验工厂)JJG889-1995目录概述·······，·············。·····，·，·，······················································，·，··⋯(1)二检定项目和检定条件···························

3、······································⋯⋯(2)三检定要求和检定方法···································································⋯⋯(3)四检定结果的处理和检定周期···········。·····，··········································⋯⋯(6)JJG889-1995磁阻法测厚仪检定规程本规程适用于新制造、使用中和修理后的磁阻法测厚仪的检定。一概述磁阻法测厚仪一般用于铁磁基体上非磁性涂层

4、和镀层厚度的测量。其原理是:当仪器测头与被测涂层或镀层接触时，测头即与磁性基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻增加，磁阻的变化随着被测覆层厚度的大小而变化，仪器能过对磁阻大小的测量，由表头或显示器指示出被测覆层的厚度。仪器基本分为指针型、数字型、智能型三种型式，测量范围一般在(0-10)mm内大小不等，分辨率最高可达0.1um，仪器外形分别参见图1、图2和图30校准旋钮指不表调零旋电源开关电压指示图1指针型测厚仪测头插座厚度.iv示测头插座厚度显示窗薄膜开关面板校准键功能键功能按键测头N9头图2数字型测厚仪图3智能型测厚仪d7G

5、889-1995二检定项目和检定条件1检定项目和主要检定用的工具列于表to2检定条件2.1检定室内温度:(2015)'C2.2检定室内湿度:成65%2.3仪器预热时间:不少于巧min2.4仪器所用电源:AC220x(1+10%)VDC不得超过仪器使用标称电压的士5%BAT不低于额定电压10%2.5外部环境:检定室附近不得有强磁场干扰。表1检定类别IT-检定项目主要检定工具号新制造使用中修理后1外观+++2各部分相互作用+++表面粗糙度测量仪及03基体表面粗糙度及平面度+++级刀口尺三等量块及光学计或电4仪器校准厚度片++十感仪5示值变动性标准厚

6、度片及检定台架+++标准厚度片组及平面基6示值误差+++体标准厚度组及磁性圆柱7曲面厚度测量的准确度++面基体50x50xlmm基体及8薄型基体上的测量准确度++标准厚度片9示值稳定度标准厚度片及检定台架+++一l注:“+”表示应检定，“一”表示可不检定。JJG889-1995三检定要求和检定方法3外观3.1要求3.1.1仪器及附件的外表面应无划痕、锈蚀、起泡、脱落等现象。3.1.2仪器及附件上的文字、符号、数值及单位应字迹清晰，铭牌必须标明制造厂名、仪器编号及出厂日期。3.1.3测头的测量端应无明显磨损痕迹，所有连接线缆应完好无损。3.1.4

7、干电池、充电器连接处应有明显极性标志。3.1.5使用中和修理后的仪器允许有不影响准确度的外观缺陷。3.2检定方法:目力观察。4各部分的相互作用4.1要求4.1.1各操作开关、旋钮、按键、指示灯均能正常工作，准确无误。4.1.2各插头、插座及线缆应安装牢固、连接方便。4.1.3测头的弹簧套应滑动灵活，不得出现卡滞、爬行。4.1.4测头置仪器所附基体中心，其外圆至基体边缘的最小距离应大于巧mm.4.1.5仪器表头指针的机械零位应准确并指示平稳;厚度显示器的数字显示应完整、清晰、稳定。4.1.6具有统计、打印等功能的仪器应工作可靠，准确无误。4.2检

8、定方法:试验与观察。5基体表面粗糙度与平面度5.1要求:表面粗糙度R=毛0.20fzm;平面度簇1ymo5.2检定方法5.2.1表面粗糙度可参照《表面