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《JJG810-1993波长色散X射线荧光光谱仪.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、中华人民共和国国家计量检定规程JJG810-1993波长色散X射线荧光光谱仪WavelengthDispersiveX一RayFluorescenceSpectrometers1993一02一13发布1993一06一01实施国家技术监督局发布ddG810-1993波长色散X射线产。.O.口.O.口.O.。，。.O.O.口.O.O.O.、弓仓荧光光谱仪检定规程弓仑;JJG810-1993}bVerificationRegulationfor弓令、.o.o.o.0.0.o.o.o.0.o.o.价.o.o.口WavelengthDispersiveX一RayFl
2、uorescenceSpectrometers本检定规程经国家技术监督局于1993年02月13日批准，并自1993年06月01日起施行。归口单位:国家标准物质研究中心起草单位:国家标准物质研究中心本规程技术条文由起草单位负责解释JJG510-1993本规程主要起草人:茅祖兴(国家标准物质研究中心)参加起草人:梁国立(地矿部岩矿测试技术研究所)高新华(冶金部钢铁研究总院)JJG810-1993目录概述·······，，，····················，，············，，，，，，，···········，，，，，，-··········⋯
3、⋯(二技术要求·········，·····················，····················，······························⋯⋯(三检定条件····················································································⋯⋯(四f八j、卫检定项目和检定方法⋯⋯声五、r6‘卫检定结果处理和检定周期了‘，、附录1检定记录格式················⋯⋯If、Q1附录2常用分光晶体与适用的元素范围尹.lic810
4、-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程本规程适用于新生产、使用中和修理后的各种类型波长色散x射线荧光光iA仪的检定。一概述X射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。工作的基本原理是X射线管发出的初级X射线激光试样中的原子，产生的荧光X射线通过晶体分光并用探测器测量，根据各种元素特征X荧光谱线的波长和强度进行元素的定性和定量分析。波长色散X射线荧光光谱仪的基本结构如图1所示。图1顺序式波长色散X射线荧光光谱仪结构示意图1-x射线管高压电源;a一第一准直器;2-x射线管;9一晶仕和晶体架;3一光源滤波片;10-第二准直器;4一进样装置;11-闪烁
5、计数器;5-样品盒;12-流动气体正比计数器;6一光阑;13-侧角仪;7-衰减器:14-控制、显示、记录和数据处理系统二技术要求l外观1.1仪器应有仪器名称、制造厂、出厂日期和编号的标志。1.2所有部件连接良好、动作正常。1.3面板上的仪表、指示灯和安全保护装置工作正常。JJG810-19932技术性能技术性能分为A,B二个级别，分别包括精密度、稳定性、X射线计数率、探测器分辨率和仪器的计数线性(见表1)0表1技术性能级别注检测项目一川精密度(RSDg2“·六·100%g3.0·六·100%一(2)稳定性(RR)(0.2‘6·N1Nx100)I-‘。·‘·
6、6·六·100)%)仪器技术标准规定的测量)仪器技术标准规定的测量条件下初始计数率的60%,条件下初始计数率的50%,X射线计数率(3)或)仪器出厂指标值的或)仪器出厂指标值的9080%流动气体正比计数器蕊如%(AIK,)g45%(AIK.)探测闪烁计数器}-60%(CuKa)X70%(CuK,)器分封闭He,}54v}A%封闭He,X65丫万%辨封闭Ar,545在%封闭Ar,X55,/A%率封闭气体正比计数器(4)封闭Kr,X52万%封闭Kr,_71万%封闭Xe,g60在%封闭Xe,_89,反%90%仪器规定最大线性计数60%仪器规定最大线性计数仪器的计
7、数线性率的计数率偏差率的计数率偏差(5)CD,I%CD匕1%注:(1)精密度以测量的相对标准偏差RSD表示。N为20次测量的平均计数值，N,Ix10'计数。(2)稳定性以相对极差RR表示。N为400次测量的平均计数值，N},4x106计数。(3)更换X射线管或晶体等重大部件后，按仪器技术标准要求相同的测量条件测定X射线计数率。若测定的计数率高于出厂指标值，则更换部件后最初的X射线计数率代替原有的“仪器技术标准规定的测量条件下初始的计数率”，作为检定X射线计数率的标准;若更换部件后最初的X射线计数率等于或低于出厂指标值，则出厂指标值代替原有的“仪器技术标准规
8、定的测量条件下初始的计数率”，作为检定X射线计数率的标准。(4)A
