《数字电子技术》实验指导书

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1、实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试一、实验目的1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱1台2、万用表1只3、元器件:CD401174LS04各一块导线若干三、实验内容1、测试74LS04(六非门)的逻辑功能将74LS04正确接入面包板,注意识别1脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为1脚)重点讲解,按表1-1要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。得表达式为2、测试CD4011(四2输入端与非门)逻辑功能将C

2、D4011正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-2要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平,得表达式3、测试74LS55(二路四输入与或非门)逻辑功能将74LS55正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-3要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,填入表中。(表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据)本器件的逻辑表达式为,与实测值相比较,功能正确。4、测试74LS86(四异或门)逻辑功能将74LS86正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-4要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平。得表达式为Y=A⊕B四、实验结果分析(回答问题)若测试7

3、4LS55的全部数据,所列测试表应有256种输入取值组合。用实验箱、万用表作一个实验示范,并强调测试方法及万用表的用法。实验二组合逻辑电路的实验分析一、实验目的1、学会组合逻辑电路的实验分析方法。2、验证半加器、全加器的逻辑功能。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱1台2、万用表2只3、元器件:CD401174LS20各一块74LS5574LS86各一电阻及导线若干三、实验线路图四、实验内容1、测试用与非门构成的电路的逻辑功能按图3-1接线。按下表要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器,写出逻辑表达式为

4、:Y=A⊕BZ=AB2、测试用异或门和与非门组成的电路的逻辑功能按图3-2接线。按下表要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器,写出逻辑表达式为3、测试用异或门、非门和与或非门组成的电路的逻辑功能按图3-3接线。按下表要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器,写出逻辑表达式为:五、实验结果分析(回答问题)1、总结用实验来分析组合逻辑电路功能的方法为:按图接线,将输入的所有取值组合对应输出测出来,得到该电路的真值表,进而写出逻辑函数表达式,概述电路的逻辑功能讲解74LS1

5、38的用法及数据选择器在微机控制等领域的应用。此为学生自拟实验由学生自拟,老师着重是辅导。实验三触发器逻辑功能测试一、实验目的1、学会测试触发器逻辑功能的方法。2、进一步熟悉RS触发器、集成JK触发器和D触发器的逻辑功能及触发方式。3、进一步熟悉数字逻辑实验箱中单脉冲和连续脉冲发生器的使用方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱1台2、万用表1只3、双踪示波器一台4、元器件:CD401174LS74各1块74LS2074LS76各1块导线若干三、实验线路图四、实验内容(简单实验步骤、实验数据及波形)1、基本RS触发器逻辑功能测试利用数字逻

6、辑实验箱测试由与非门组成的基本RS触发器的逻辑功能,R、S接电平开关,Q、Q接电平显示,将结果记录在下表中。2、集成JK触发器逻辑功能测试按下表的要求,改变SD和RD(J、K及CP处于任意状态)在或期间任意改变J、K及CP的状态,观察和记录Q和的状态。(1)直接置0和置1端的功能测试(2)JK逻辑功能的测试按下表测试并记录JK触发器的逻辑功能(表中CP信号由实验箱操作板上的单次脉冲发生器提供)。 (3)JK触发器计数功能测试使触发器处于计数状态(J=K=1),CP信号由实验箱操作板中的连续脉冲(矩形波)发生器提供,可分别用低频(f=1~10

7、HZ)和高频(f=20~150KHZ)两档进行输入,分别用实验箱上的LED电平显示器和XJ4328双踪示波器观察工作情况,记录CP与Q的工作波形,Q状态更新发生在CP的下降沿。Q信号的周期是CP信号周期的两倍。3、集成D触发器逻辑功能测试(1)D触发器逻辑功能的测试按下表测试并记录D触发器的逻辑功能(表中CP信号由实验箱操作板上的单次脉冲发生器提供)。DCPQn+1Qn=0Qn=100→1000→10011→0111→011(2)D触发器计数功能测试使触发器处于计数状态(D=),CP端由实验箱操作板中的连续脉冲(矩形波)发生器提供,可分别用

8、低频(f=1-10HZ)和高频(f=20-150KHZ)两档进行输入,分别用实验箱上的LED电平显示器和XJ4318/XJ4328双踪示波器观察工作情况,记录CP与Q的工作波形,

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