讲义-可测性设计部分

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1、《系统可测性设计》第二部分（可测性设计技术）讲义目录1.概述11.1故障、诊断及测试性的基本概念11.1.1故障及其后果11.1.2故障诊断31.1.3测试性和机内测试71.1.4综合诊断101.2测试性及诊断技术的发展111.2.1由外部测试到机内测试111.2.2测试性成为一门独立的学科121.2.2综合诊断、人工智能及CAD的应用131.2.3国内测试性发展现状141.3常用测试性与诊断术语142.系统测试性设计及其通则192.1系统测试性设计192.1.1系统测试性顶层设计192.1.2系统测试性设计指南212.2

2、固有测试性设计概述232.2.1划分242.2.2功能和结构设计262.2.3初始化262.2.3测试控制282.2.5测试观测322.2.6元器件选择332.3测试性设计准则332.3.1电子功能结构设计332.3.2电子功能划分342.3.3测试控制342.3.4测试通路342.3.5元器件选择352.3.6模拟电路设计352.3.7大规模集成电路、超大规模集成电路和微处理器362.3.8射频（RF）电路设计362.3.9数字电路设计372.3.10机内测试（BIT）382.3.11性能监控382.3.12测试要求39

3、2.3.13测试数据392.3.14测试点392.3.15传感器402.3.16指示器402.3.17连接器412.3.18兼容性413.BIT设计技术433.1系统BIT设计433.1.1系统BIT顶层设计433.1.2系统BIT设计指南523.2常用BIT设计技术533.2.1数字BIT技术533.2.2模拟BIT技术653.2.3环绕BIT技术683.2.4冗余BIT技术703.2.5动态部件BIT技术723.2.6功能单元BIT实例743.3测试点的选择与设置773.3.1测试点类型773.3.2测试点要求783.

4、3.2测试点选择783.3.3测试点设置举例794．系统级BIT834.1系统级测试性设计技术834.1.1系统级测试性需求分析技术834.1.2系统级测试性方案优化生成技术834.1.3基于模型的测试与诊断策略构建技术834.1.4系统级BIT设计技术844.1.5测试性评估技术844.2系统级BIT的主要方法和技术途径844.2.1系统级BIT体系结构844.2.2主要采用的研究方法854.2.2实现的技术途径854.3一种普适的系统级BIT架构方案884.3.1测试性设计要求884.3.2一种普适的数字通信系统模型9

5、04.3.3数字通信系统FMECA914.4测试性分配994.4.1概述994.4.2等值分配法和经验分配法1024.4.3按系统组成单元的故障率分配法1034.4.4加权分配法1044.4.5分配方法优化简介1065．测试性验证技术1135.1测试性验证概述1135.1.1测试性验证试验类型及发展趋势1135.1.2故障样本选取1175.1.3故障注入1205.1.4测试性评估1235.2测试性验证试验风险与评估精度、置信度建模分析1245.2.1测试性验证试验风险建模与分析1255.2.2测试性评估精度和置信度建模与分

6、析1295.3测试性验证试验故障样本优化选取方法1355.3.1测试性验证试验故障样本优化选取总体技术思路1355.3.2基于研制阶段先验信息的优化抽样方案确定方法1365.3.3分层故障样本量分配随机抽样误差分析及故障率估计方法1455.3.4基于距离模型的故障样本集评估优选方法1525.3.5小结1635.4故障注入方法与故障注入策略优化设计1645.4.1测试性验证试验故障注入有效性分析1645.4.2故障传递特性分析与量化1715.4.3基于故障传递特性的位置不可访问故障注入方法1755.4.4基于相关等效集的故障

7、注入策略优化设计1795.4.5小结1815.5测试性综合评估方法1815.5.1基于Bayes变动统计理论的测试性综合评估总体技术思路1825.5.2系统FDR/FIR先验值确定方法1825.5.3FDR/FIR的Bayes综合评估模型1845.5.4模型稳健性分析1935.5.5案例验证1955.5.6小结2005.6示例：某系统测试性验证试验优化设计与综合评估2005.6.1系统功能原理概述2005.6.2系统测试性设计分析2015.6.3系统故障模式分析2015.6.4系统测试性先验数据分析2035.6.5系统FD

8、R验证试验优化设计2035.6.6系统FDR综合评估205附A.故障模式、影响及危害性分析（FMECA）206A.1FMECA计划及有关工作206A.1.1FMECA计划206A.1.2FMECA方法的选取206A.1.3FMECA表的格式206A.1.4定义约定层次207A.1.5制订编码体系209A