usb2.0在并行测试中的应用及其优势探讨

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1、USB2.0在并行测试中的应用及其优势探讨传感器与仪器仪表文章编号:1008-0570(2006)12—1—0169—03USB2.0在并行测试中的应用及其优势探讨ResearchonApplicationandAdvantageofUSB2.0inParallelTest(空军工程大学)郑鑫肖明清程嗣怡ZHENGXINXlAOMINGQINGCHENGSlYl摘要:虽然USB2.0技术已经日益成熟,但是它在测试技术领域的应用还是起源于USB仪器的出现.USB仪器的出现不但给传统的自动测试系统带来了冲击,更为并行测试提供了发展空间和技术支持.文章从组建导弹并

2、行测试系统入手.针对USB2.0技术的特点,着重论述了USB仪器在系统中应用,包括数据采集和信号测量等.关键字:自动测试系统;USB2.0技术:并行测试;USB仪器中图分类号:TJ7683文献标识码:AAbstract:ThoughthetechnologyofUSB2.0hasbecomemature,applicationsinparalleltestderivesfromtheemergingofUSBinstro—ments.ItwillheavilyimpactATSandprovidebothdevelopingspaceandtechnical

3、supportforparalleltest.Fromconstitutionofmis—sileparalleltestsystem,applicationsofUSBinstrumentsinthesystem,orepointeduPinthepaperbasedonfeaturesofUSB2.0,in-cludingdataacquisitionandsignalmeasurement.Keywords:Automatictestsystem,technologyofUSB2.0,paralleltest,USBinstruments1引言在NI公

4、司提出"软件即是仪器"的概念后测控技术领域上演了一场重大变革,使得计算机和网络技术得以长驱直入仪器领域,开启了虚拟仪器的时代.而并行技术在计算机领域中的巨大发展将并行概念引入到测试领域中来,为实现并行测试提供了坚实的技术支持.现在.我们利用PC机通过各种不同的接口总线可组建更为灵活的自动测试系统.一般来说,GPIB,VXI,PXI适合大型高精度集成测试系统;PC—DAQ,并行El式,串行口式(如USB式)系统适合普及型的廉价系统:现场总线系统主要用于大规模的网络测试.随着USB总线技术的不断发展.它在测试领域的应用前景也更为广泛.2USB2.0在测试领域的发

5、展和优势2.1USB2.0起源USB2.0发布于1999年.称为"通用串行总线",是由7家主要的计算机与电子科技大厂所研发与规划出来的一种标准的连接接口.在把外面的设备与计算机连接时.允许不必重新配置规划系统或打开机壳另外调整接口卡的指拨开关.而连接上计算机时,计算机会自动识别这些接口设备,并且配置适当的驱动程序.无需用户再另外重新设置,实现了即插即用与热郑鑫:博士研究生基金项目:国防科技重点实验室基金项目(编号不公开)插拔的特性.并且提供了一种"全球通用"的标准连接器,其传输速度最高可以达到480Mbps.2.2USB2.0在测试领域的发展事实上,USB2

6、.0在测试和自动化领域的应用也很多.USB1.1规范的最高传输速率为12MB/s,然而USB2.0的发展又将这一速率推进数倍.USB主机会自动探测新添加的设备,询问并确认设备身份,并适当配置驱动程序.由于总线拓扑结构的影响,一个端口可以同时运行多达127个设备.这与传统的串口形成了鲜明的反差.传统的串口在一个端口上只支持一个设备.此外,通过增加网络集线器(hub),主机上还可以添加更多的端口,为更多的外围设备提供空间.USB端口已成为如今PC机上的标准配置.这意味着您无须为连接USB接口的数据采集设备或仪器购置专用控制器.USB接口进人测量仪器是从1998年

7、开始的,但USB接口普遍被台式,便携式,模块式测量仪器广泛接受,是在2003年安捷伦和NI公司增加了虚拟仪器软件结构(VISA)的I/O层中对USB的支持之后.实际证明,USB接口在测量仪器中简单方便,互连技术成本较低.但USB接口在测量仪器的扩展应用与IEEE488,VXI,PXI等总线有所不同,并无仪器公司或机构的推动,没有组织制定规范和推广,对测量仪器业的影响和促进不大.虽然它在测量和自动化方面刚刚才得到普及,USB拥有的几个特色却让它在此类应用中表现极为出色.2.3USB2.0在测试领域的应用优势2_3.1与传统PC总线的比较@罔邮局订82_9463

8、60~L/-l69—传感器与仪器仪表中翊亥J期刊《微

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