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时间:2018-07-10
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1、表面粗糙度测量-表面粗糙度测量 表面粗糙度测量-正文 长度计量技术中对工件加工表面的微观几何形状特性的测量。常用的测量方法有比较法、触针法、光切法和干涉法等。 比较法 将表面粗糙度比较样块(简称样块,图1)根据视觉和触觉与被测表面比较,判断被测表面粗糙度相当于那一数值,或测量其反射光强变化来评定表面粗糙度(见激光测长技术)。样块是一套具有平面或圆柱表面的金属块,表面经磨、车、镗、铣、刨等切削加工,电铸或其他铸造工艺等加工而具有不同的表面粗糙度。有时可直接从工件中选出样品经过测量并评定合格后作为样块。利用样块根据视觉和触觉评定表面粗糙度的方法虽然简便,但会受到
2、主观因素影响,常不能得出正确的表面粗糙度数值。 触针法 利用针尖曲率半径为2微米左右的金刚石触针沿被测表面缓慢滑行,金刚石触针的上下位移量由电学式长度传感器转换为电信号,经放大、滤波、计算后由显示仪表指示出表面粗糙度数值,也可用记录器记录被测截面轮廓曲线。一般将仅能显示表面粗糙度数值的测量工具称为表面粗糙度测量仪(见彩图),同时能记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙度轮廓仪(简称轮廓仪,图2。这两种测量工具都有电子计算电路或电子计算机,它能自动计算出轮廓算术平均偏差Rα,微观不平度十点高度RZ,轮廓最大高度Ry和其他多种评定参数,测量效率高,适用于测量Rα为0.02
3、5~6.3微米的表面粗糙度。 光切法 光线通过狭缝后形成的光带投射到被测表面上,以它与被测表面的交线所形成的轮廓曲线来测量表面粗糙度(图3)。由光源射出的光经聚光镜、狭缝、物镜1后,以45°的倾斜角将狭缝投影到被测表面,形成被测表面的截面轮廓图形,然后通过物镜2将此图形放大后投射到分划板上。利用测微目镜和读数鼓轮(图中未示)先读出h值,计算后得到H值。应用此法的表面粗糙度测量工具称为光切显微镜。它适用于测量RZ和Ry为0.8~100微米的表面粗糙度,需要人工取点,测量效率低。 干涉法 利用光波干涉原理(见平晶、激光测长技术)将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显
4、示出来,并利用放大倍数高(可达500倍)的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量,以得出被测表面粗糙度。应用此法的表面粗糙度测量工具称为干涉显微镜。这种方法适用于测量Rz和Ry为0.025~0.8微米的表面粗糙度。 3D表面粗糙度的测量方法分析[2009-03-26]关键字:测量 用于表面微观形貌分析的测量系统,按基于不同的物理原理,可将它们分为参数方法和轮廓方法。参数法所产生的参数表示所检测表面的一些平均性能;而轮廓法逐点扫描获得形貌信息。轮廓法被认为是可以测量真实的3D形貌,给出相对于位置高度的定量信息。 按传统的分类方式,表面测量又可分为接触式
5、和非接触式。触针式仪器是典型的接触方法,而光学仪器是非接触式方法,扫描探针显微镜既是接触式又是非接触式。1 触针方法 触针法自1927年以来就一直被采用,目前仍然被广泛地用于表面粗糙度测量,而且用它所获得的结果经常作为评价其它方法的参考标准。 在传统的2D测量中,触针装在具有滑橇的测杆上,沿一个方向在水平面上“爬行”,而且它的垂直位移是相对于滑橇的位置。滑橇“走过”的迹线作为基准线。 在3D分析中,在具有同一个采样步距的平行平面内,测得许多轮廓。这种情况下,不能使用滑橇,因为所有的轮廓必须具有相同的参考基准面,以便不丢失信息。严格地讲,应采用一个独立的表面作为基
6、准。由于同样的原因,数据在获取过程中,不能象在2D仪器中那样被滤波。如果需要滤波,可以在获取数据以后进行数字化滤波。应该注意的是,对于2D仪器新的标准同样也需要一个独立的基准。 当用X-Y平台获取三维表面的z值时,基准由工作台的移动而产生。移动精度在整个的测量精度中起着基准的作用。有些制造者给出平台的偏差图,以便使用数字技术校正基准。 在2D和3D分析中,触针的几何形状对于测量的准确性影响很大,而且一直是设计和制造者考虑的重要因素之一。它的形状以锥角和顶尖球半径R表示[1];的标准值是60°和90°,R的标准值是2、5和10m;三种半径的最大载荷分别是0.7、4、
7、16mN。 针尖中心点的坐标被认为是测量表面点的坐标,但是实际的接触点根据表面邻近点的形状和高度而变化。在假定触针和表面均是刚性的情况下,触针具有一个自由度,其垂直位移仅由与表面的点接触而定义。然而,这些点的顺序不是包含在一个垂直平面内,而是依赖于表面的斜率分散在一个“带”内,测量误差是表面结构的函数。在对随机的、各向异性的结构表面进行分析时,如磨削表面,Whitehouse[2]指出用2m的半径触针并未减少表面的RMS值,而使用10m的半径触针却减少10%~15%。 一些描述表面形状的参数直接受触针的几何形状的影响,例如: ①针尖的半径R增加
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