测试参数对鼓室导抗测试结果的影响

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1、测试参数对鼓室导抗测试结果的影响王海涛1　钟乃川1△　　近100余年，特别是近30年的研究发现，许多因素可影响鼓室导抗图的形态及各种鼓室导抗测值的大小，其中测试参数的设置即为最重要的因素之一。本文综合近年来已发表的有关文献，对这一问题的研究状况进行综述，以供同道参考。1　探测音　　主要指探测音的频率。1.1　单频探测音　　单频探测音单成分鼓室阻抗测试是最早应用于临床的声导抗测试技术。开始仅仅选择了220或226Hz低频探测音。其后，Hirsch、Hunter和Margolis等人先后报道某些中耳疾病患者在低频探测音时表现为正

2、常鼓室导抗图，而在较高频探测音时却出现了异常鼓室导抗图，故建议加用678、1000Hz等高频探测音或共振频率探测音进行测试〔1〕。　　1965年Moller观察了猫的220～800Hz探测音间的鼓室压图，发现随着探测音频率的升高，阻抗图的“V”形凹陷逐渐变深；外耳道正压时，高频探测音的导抗值要高于低频探测音的导抗值。1970年Liden对正常人作了同样的研究，发现探测音频率越高，阻抗图的凹陷越深越宽，峰压点越偏正压侧。其后Colletti(1976)对200～2000Hz探测音频率与鼓室导抗图之间的关系进行了更系统和更深入的研

3、究，曾称多频率探测音鼓室导抗图测试，实为许多不同频率的单频探测音鼓室导抗图的组合。Colletti指出，探测音频率不同，鼓室导抗图的形态及其各种导抗值的大小亦不同。根据探测音的频率分为3个区：①低频探测音区。频率范围为200～600Hz，在阻抗图中表现为“V”型图，在导纳图中表现为“∧”型图。②中频探测音区。600～1350Hz之间，阻抗图表现为“W”型，导纳图表现为“M”型。③高频探测音区。1350～2000Hz之间，阻抗图表现为“∧”型，导纳图表现为“V”型。国内外许多学者报道：226Hz探测音正常鼓室导抗图全部为单峰型，

4、678Hz探测音鼓室导抗图则部分出现了双峰型，1000Hz探测音鼓室导抗图则主要以双峰型为主；在这3种探测音条件下，声导(G)、声纳(B)、声导纳(Y)图的各种测值均有显著差异〔2～5〕。笔者曾在这方面作过较系统的研究工作，发现：探测音频率越高，Y、B、G图的峰数比例越高，且其峰最大静态Y、B、G值，峰补偿Y、B、G值，外耳道容积Y、B、G值，峰压值等均有显著变化〔2〕。　　共振频率探测音是指在进行鼓室导抗测试时，反映鼓室质量和劲度因素的质纳(-Bm)和顺纳(+Bc)或质抗(+Xm)和顺抗(-Xc)相等，中耳的导纳或阻抗相位角

5、是0，此时的探测音即为共振频率探测音，其频率为共振频率探测音频率〔1〕。共振频率探测音是一种特殊的单频探测音，在正常人中，其频率恰好位于多频率探测音之中频区，表现为“M”或“W”型鼓室导抗图。1993年Margolis等〔1〕报道了8种共振频率的测定方法及其正常值范围：①多频鼓室导纳压图负侧法，710～2000Hz；②多频鼓室导纳压图正侧法，630～1400Hz；③多频鼓室导纳压图正负侧法，630～2000Hz；④多频鼓室导纳压图法，800～1800Hz；⑤扫频鼓室导纳图负侧法，710～2000Hz；⑥扫频鼓室导纳图正侧法，8

6、00～2000Hz；⑦扫频鼓室导纳图正负侧法，800～2000Hz；⑧扫频鼓室导纳压图法，800～2000Hz。他认为，在诊断耳硬化症等具有较高共振频率的疾病时，应采用多频鼓室导纳压图正侧法，因为该测试方法所测到的共振频率偏低，有利于正常耳与病变耳的鉴别诊断；在诊断分泌性中耳炎等具有较低共振频率的疾病时，应采用扫频鼓室导纳图正侧法，因为该测试方法所测到的共振频率偏高，有利于正常耳与病变耳的鉴别诊断。1.2　扫频探测音　　扫频探测音是指当进行扫频鼓室导抗图测试时，探测音的频率按一定的速度、间隔、范围进行变化，此时所使用的探测音即

7、称之为扫频探测音。如GSI33声导抗仪之扫频探测音的频率变化速度为50Hz/s，间隔为每50Hz一档，频率变化范围为250～2000Hz。1988年Funasaka利用扫频探测音(220～2000Hz/4s)，对+200daPa与0daPa压力间的鼓室声导抗差和相位角差进行了测试。他发现：应用扫频鼓室导抗图测试法，10/12的听骨链断裂，5/6的锤、砧骨粘连，12/22的蹬骨固定呈阳性结果，主要表现为听骨链断裂时，共振频率＜720Hz，相位角＜25°，听骨链粘连固定时，共振频率＞1880Hz，相位角＞64°。故认为扫频探测音鼓

8、室导抗图测试对传音性疾病有较高的诊断价值，特别是对听骨链中断和粘连有鉴别诊断意义〔6〕。三维立体鼓室导抗图，是在外耳道压力变化和探测音频率变化两种条件下所测定的鼓室导抗图。它是1980年由Berg首先建立起来的。优点是人听觉系统在外耳道压力和探测音频率均动态改变时，对功能状态