4、火处理。17、沉积掺杂硼磷的氧化层18、濺镀第一层金属(1)薄膜的沉积方法根据其用途的不同而不同,厚度通常小于1um 。(2)真空蒸发法(Evaporation Deposition )(3)溅镀(Sputtering Deposition ) 19、光刻技术定出 VIA 孔洞,沉积第二层金属,并刻蚀出连线结构。然后,用PECVD 法氧化层和氮化硅保护层。 20、光刻和离子刻蚀,定出PAD 位置 21、最后进行退火处理,以保证整个Chip 的完整和连线的连接性 晶圆制造总的工艺流程 芯片的制造过程可概分为晶圆处理工序(Wafer Fa
5、brication)、晶圆针测工序(Wafer Probe)、构装工序(Packaging)、测试工序(Initial Test and Final Test)等几个步骤。其中晶圆处理工序和晶圆针测工序为前段(Front End)工序,而构装工序、测试工序为后段(Back End)工序。 1、晶圆处理工序:本工序的主要工作是在晶圆上制作电路及电子元件(如晶体管、电容、逻辑开关等),处理程序通常与产品种类和所使用的技术有关,但一般基本步骤是先将晶圆适当清洗,再在其表面进行氧化及化学气相沉积,然后进行涂膜、曝光、显影、蚀刻、离子植入、金属溅