EDA名词解释教学文案.doc

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1、精品好文档，推荐学习交流ASIC：专用集成电路（ApplicationSpecificIntegratedCircuit）AMPP:Altera宏功能模块和IP核开发伙伴组织（AlteraMegafunctionPartnersProgram）BGA:球状矩阵排列（ballgridarray）BSDL:边界扫描描述语言（Boundary-ScanDescriptionLanguage）BST：边界扫描测试（Boundary-ScanTesting）CAD:计算机辅助设计（Computer-AidedDesign）CAE:计算机辅助工程（Computer

2、AidedEngineering）CAM:计算机辅助制造（computer-aidedmanufacturing）：中央地址存储器（CentralAddressMemory）CAT:计算机辅助测试（computer-aidedtest）CPLD:复杂可编程逻辑器件（ComplexProgramableLogicDevice）DFT:可测试设计（DesignForTest）EAB:嵌入式阵列块(EmbeddedArrayBlock)EDA：电子设计自动化(ElectronicDesignAutomation)EDIF:电子设计交换格式(electroni

3、cdesigninterchangeformat)EEPROM:电可擦除可编程只读存储器（ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory）EPROM:可擦除可编程ROM（ErasableProgrammableRead-OnlyMemory）FPGA:现场可编程门阵列（FieldProgrammableGataArray）EPLD:可擦除可编程逻辑器件(ErasableProgrammableLogicDevice)FPSLIC:现场可编程系统级集成电路(FieldProgrammableSystemLe

4、velIntegrationCircu)FSM:有限状态机（FiniteStateMachine）GAL:通用阵列逻辑(GenericArrayLogic)HDL:硬件描述语言(hardwaredescriptionlanguage)IEEE：电子电气工程师协会（InstituteofElectricalandElectronicEngineers）IP:知识产权核（IntellectualProperty）ISP:在系统可编程（InSystemProgrammability）JTAG:联合测试行动组（JointTestActionGroup）；在ED

5、A领域又称“边界扫描测试技术”，常用于可编程逻辑器件的测试下载LAB:逻辑阵列块（LogicArrayBlock）仅供学习与交流，如有侵权请联系网站删除谢谢3精品好文档，推荐学习交流LE：逻辑单元（LogicElement）LPM：参数可设置模块库（LibraryofParameterizedModules）LUT：查找表（lookuptalbe）OLMC:输出逻辑宏单元(OutputLogicMacroCell)OTP:一次性可编程（OneTimeProgrammable）PAL:可编程阵列逻辑：(ProgrammableArrayLogic)PCB

6、:印刷电路板PGA:可编程门阵列（ProgrammableGateArray）PIA:可编程连线阵（ProgrammableInterconnectArray）PLA:可编程逻辑阵列(ProgrammableLogicArray)PLD:可编程逻辑电路（ProgramableLogicDevice）PROM:可编程序只读存储器（ProgrammableRead-OnlyMemory）ROM：只读内存（Read-OnlyMemory）SRAM:静态随机存储器（StaticRandomAccessMemory）RTL:寄存器传输级（RegisterTran

7、sportLevel）SOC:单芯片系统（SystemonaChip）SOPC:片上可编程系统(SystemOnProgrammableChip)UART:通用异步收发器（UniversalAsynchronousReceiver／Transmitter）VHDL:超高速集成电路硬件描述语言（VeryHighSpeedIntegratedCircuitsHardwareDescriptionLanguage）UES:用户电子标签（UserElectronicSignature）ASIC：专用集成电路CPLD:复杂可编程逻辑器件EAB:嵌入式阵列块EDA

8、：电子设计自动化GAL:通用阵列逻辑FPGA:现场可编程门阵列IEEE：电子电气工程师协会HD