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时间:2020-03-10
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1、LCD電測常見不良簡介生產二部李振華RedGreenBlueITOlayerGlassBlackMatrixBMLiquidCrystalSealingOverCoatPolarizerPolarizerGlass穿透式LCDCell構造半透式LCDCell構造ITOlayerGlassRedGreenBlueBlackMatrixBMLiquidCrystalSealingOverCoatPolarizerPolarizer反射板Glass一.PI及內污不良PI不良現象:電測通電時,產品內出現點,線或霧狀異常,未點燈則看不到異常內
2、污不良現象:電測未通電,在擋片及背光下就可以看見產品內有點線或霧狀異常PI,內污不良細項簡介PI,內污不良製程責任層別無核:無法判斷為CS或CF側CS:包括SPACER聚集、定向後膜上異物、PI刷、水痕、PI膜下異物CF:包括OC異物、CF異物、CF針孔與刮傷、BM來料針孔、BM蝕刻不良ITO:包括ITO異物與ITO破洞3F反射板:包括反射層殘留、反射層破洞、反射層刮傷Spacer聚集PI水痕定向後膜上異物分析步驟:1.以顯微鏡觀察旋轉偏光片時,異物周圍之PI層會產生色差,且可發現沿定向方向之刷痕2.未剖片前,在產品上推擠,異物會隨
3、之移動3.剖開產品,異物可能被沖走,再於顯微鏡下觀測時看不到異物4.若異物未被沖走,以刮片可刮除異物,而且PI層未受損,即可確認為定向後膜上異物圖示PI膜下異物分析步驟:1.以顯微鏡觀察旋轉偏光片時,異物周圍之PI層會產生色差且色差範圍較定向後膜上異物之範圍大2.未剖片前,在產品上推擠,異物不會隨之移動3.剖開後以刮片刮,異物不可刮除,或異物刮除後PI層受損,且異物周圍圍繞光暈,即可確認為PI膜下異物圖示PI刷分析步驟:1.以顯微鏡觀察旋轉偏光片時,可發現拖曳型痕跡2.產品剖片後就看不見拖曳型痕跡刮傷OC異物分析步驟:1.以顯微鏡觀
4、察旋轉偏光片時,可發現兩層暈開的異物且周圍之PI層會產生色差2.將偏光片抽出,異物周圍之RGB層未有色差3.未剖片前,在產品上推擠,異物不會隨之移動4.剖開產品以刮片刮異物,若PI層與ITO層皆損傷,異物仍然存在,異物周圍圍繞光暈,且RGB邊界、BM或反射層無變形,即為O.C.異物圖示CF異物分析步驟:1.以顯微鏡觀察旋,可發現異物周圍之RGB邊界變形或彎曲,而下方之BM或反射層無變形2.將偏光片抽出,異物周圍之RGB層會產生色差圖示CF針孔L-ITO破洞分析步驟:1.ITO層剝落2.與ITO異物比較,ITO破洞中間無異物殘留ITO
5、異物分析步驟:1.以顯微鏡觀察旋轉偏光片時,異物周圍之PI層會產生色差,且可發現異物周圍之PI層與ITO層已經破損2.剖開以刮片刮異物,異物刮除後,PI層與ITO層受損,但RGB層未損傷,而且異物周圍有一明顯凹痕3.量測破洞深度為ITO厚度之內者4.破洞中殘留異物之突起圖示剖片前圖示剖片後L-ITO異物圖示剖片後H-ITO異物BM蝕刻不良BM來料針孔反射層殘留反射層破洞反射層刮傷二.缺失現象:通電,出現圖形不全或少圖的現象不顯示缺失不良細項簡介缺失不良製程責任層別SEG缺失H-ITO:包括ITO異物、ITO膜刮(大口>5μ)與玻璃基
6、板刮(細口<5μ)CS:包括PR塗佈異物與PR後刮傷COM缺失L-ITO:包括ITO異物、ITO剝落、ITO膜刮(大口>5μ)與玻璃基板刮(細口<5μ)CS:包括PR後刮傷、PR氣泡、PR後異物、導通不良(兩側重疊)、蝕刻不良與不穩定缺失玻璃基板刮ITO膜刮外觀爲線路有橫斷過整條線的缺口,而造成整條線路斷線,ITO的線路的缺口較平整ITO異物光阻塗佈不良玻璃表面殘留水膜、洗劑未洗淨造成光阻附著不良,顯影時光阻剝落,蝕刻時將須留下的ITO蝕去,造成缺口。特徴是無固定位置、形狀及範圍光阻塗佈異物玻璃表面塗布前異物附著造成光阻附著不良,顯
7、影時光阻剝落,蝕刻時將須留下的ITO蝕去,造成缺口光阻刮傷外觀爲線路有橫斷過整條線的缺口,而造成整條線路斷線,ITO的線路的缺口較粗糙曝光異物玻璃塗布後至曝光作業前,異物附著,經過顯影的過程異物被衝開,光阻劑剝離,造成欲留下ITO經蝕刻蝕去形成斷路不明A不明B蝕刻不良外觀爲不規則的ITO線邊,造成線斷或無線路而導通不良三.內刮現象:PI膜表面受損,經偏光後可見到受損痕跡顯微鏡圖片機械刮傷人為刮傷四.框彩GLASS框膠ITO,T/C及PI框彩的發生為GAP不均造成,一般以正常的產品CELLGAP來看應是一樣,但當邊框即框膠區的上下片膜
8、厚不同時就會有框彩的現象產生五.未定向現象:以偏光片調整角度,可看出產品上火山口現象不良原因:1.前製程未定向2.定向毛輪未下壓至適當深度五.LC反轉現象:LCD通電後字節呈浮動狀不良原因:前製程定向不良THANKYOUFORYOUR
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