阵列感应测井基础理论.ppt

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1、阵列感应测井主要内容第一章电阻率测井基础第一节岩电方程第二节电阻率测井及测井环境第三节电阻率测井的历史背景与发展第四节电阻率测井仪器的分类及适用范围第二章阵列感应测井第一节引言第二节阵列感应测井线圈系结构设计第三节阵列感应测井频率选择第四节阵列感应测井的优化聚焦合成处理第五节阵列感应测井影响因素校正第六节径向电阻率反演第七节阵列感应测井的测井环境和工艺要求第八节阵列感应测井原始资料的质量控制第三章高分辨率阵列感应（HDIL）处理软件第一章电阻率测井基础第一节岩电方程1、电阻率与电导率UAR=——·——IL式中，U—物体两端的电压I—通过

2、的电流A—物体的横截面积L—物体的长度σ=1/R第一节岩电方程2、地层水电阻率3647.582Rw=（0.0123+————)·————Cw0.9551.8T+39式中，Cw—地层水矿化度T—地层温度第一节岩电方程3、地层电阻率和饱和度方程abRwRt=————Swnφm式中，a、b—常数m—胶结指数或孔隙度指数n—饱和度指数一、电阻率测井电阻率测井方法主要分为两种：第一种是传导电流法，该方法使用直流电，需要井眼中有导电泥浆。传导电流法测量的是电阻率。第二种是感应法，使用交流电，井内可以含有任何流体（空气、任何导电或不导电泥浆）。感应法

3、测量的是电导率。第二节电阻率测井及测井环境第二节电阻率测井及测井环境二、井眼附近的测井环境井眼冲洗带过渡带渗透层围岩围岩井眼附近的地层模型第三节电阻率测井的历史背景与发展20世纪初——地面电法勘探；20世纪20年代后期——电测井；（世界上第一条测井曲线是1927年由法国人斯仑贝谢兄弟在法国东北部阿尔萨斯省皮切尔布朗油田的一口井内通过点测测得的。第三节电阻率测井的历史背景与发展1929年8月17日——壳牌石油公司在美国加利福尼亚进行了美国的第一次电阻率测井。1931年——斯仑贝谢兄弟完善了连续记录的方法，研制成第一台笔记录仪，测井曲线包括

4、自然电位和普通电阻率测井曲线。1936年——照相胶片记录仪诞生，电测井曲线已包括自然电位、短电位、长电位以及长梯度电极系电阻率曲线。1938年——Dress-Atlas公司使用电测井进行服务。1939年——翁文波先生在四川隆昌的一口井中测出了中国第一条电测井曲线（点测）。第三节电阻率测井的历史背景与发展1942年——Archie公式诞生。1943年——带有照相井斜仪的三臂倾角仪研制成功，它可以同时确定地层倾斜的方位和角度。1949年——Doll提出感应测井几何因子理论，第一台感应测井仪器研制成功。1951年——Doll首先提出侧向测井的

5、原理，研制出侧向测井仪器，这是第一个聚焦式深探测的电阻率测井仪器。20世纪50年代末——六线圈系的感应测井仪投入使用。1963年——研制出双感应测井仪器。1972年——研制出双侧向测井仪器。第三节电阻率测井的历史背景与发展1983年——BPB公司首先推出了早期的阵列感应测井仪（数字感应测井仪，AIS）。1990年——斯仑贝谢公司发表了AIT仪器的初步研究成果，并进入商用阶段。1992年——Atlas公司开始研究高分辨率阵列仪HDIL，1995年生产出仪器样机。1995年——戴维斯等研制成新一代侧向测井仪-方位电阻率成像测井仪ARI；史密

6、斯等研制出高分辨率方位侧向测井电极系HALS。1998年——斯仑贝谢公司推出阵列侧向测井仪器。第四节电阻率测井仪器的分类及适用范围1、传导电流型传导电流法测井也称直流电法测井，它是用供电电极把电流注入地层，在井周围地层中形成电场，通过测量周围地层中电场或电位的分布，来确定地层的电阻率。要求：井内有导电泥浆，提供电流通道。普通电阻率测井仪器和侧向测井都属于传导电流型测井仪器。第四节电阻率测井仪器的分类及适用范围（1）普通电阻率测井包括电位和梯度电极系测井，普通电阻率测井仪器属于非聚焦电极，它受井眼和邻层的影响很大，对于薄层、低电阻率地层以

7、及侵入较严重的地层，测量精度会受到影响。尤其在盐水泥浆井中，供电电极发出的电流大部分被井内导电的盐水泥浆所分流，因此测出的视电阻率曲线难以反映地层真电阻率。（2）侧向测井当井眼充满高矿化度泥浆，井眼电阻率较低、地层电阻率较高（如碳酸盐岩或地层被高电阻率的淡水所饱和），使得侵入带电阻率小于地层电阻率形成低侵（也称减阻侵入）时，一般使用双侧向测井来确定地层电阻率。双侧向测井仪器的响应范围为0.2-40000Ω·m。第四节电阻率测井仪器的分类及适用范围2、感应型当井眼充满低矿化度泥浆，井眼电阻率较高、地层电阻率较低，使得侵入带电阻率大于地层电

8、阻率（但是地层电阻率不是太低），形成高侵（也称增阻侵入）时，一般使用感应测井来确定地层电阻率。第二章阵列感应测井第一节引言一、问题的提出线圈系由一个主发射和上下非对称布置的8个接收线圈系组成。每个线圈系包含