实验四可编程并行接口芯片8255

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1、实验四可编程并行接口芯片8255一、实验目的1、学习并掌握8255的各种工作方式及其应用2、学习在系统接口实验单元上构造实验电路二、实验设备TDN86/51教学实验系统三、实验芯片简介1、系统中的8255线路8255的数据线片选信号线、地址线、读写控制线等分别与系统总线相连，其A、B、C三个端口以排针形式引出，供8255实验使用，见图4.1。图4.1系统中的8255线路8255端口地址信号线寄存器编址IOY3A口60HB口61HC口62H控制寄存器63H2、接口实验单元中的开关和发光二极管电路图4.2中D7—D0为8个发光二极管的接线点，K7—K0为8个开

2、关的接线点。图4.2拨动开关和发光二极管电路图4.3实验线路图四、实验内容及步骤（一）8255接口方式0应用实验1．使8255端口A工作在方式0并作为输出口，端口B工作在方式0并作为输入口，将图4.3中的K7—K0开关信号顺序与PB7—PB0相连，端口A的PA7—PA0分别与发光二极管D7—D0相连，然后通过对8255芯片编程来实现输入/输出功能。实验程序：ORG20002000B082MOVAL，822002E663OUT63，AL2004E461A1：INAL，612006E660OUT60，AL2008EBFAJMPA12．运行实验程序，拨动开关组，

3、观察发光二极管亮灭情况，并记录之。（二）8255接口应用实验1.使8255端口A工作在方式0并作为输出口，PA7—PA0分别与发光二极管D7—D0相连，然后通过对8255芯片编程来实现输入/输出功能。ORG21002100B082MOVAL，822102E663OUT63，AL2104E461A1：MOVAL，012106E660OUT60，AL2108EBFAJMPA12．运行实验程序，拨动开关组，观察发光二极管应亮灭情况，并记录之。3．若要使D3或D6对应的发光二极管点亮，试修改程序，进行实验并记录之。（三）用8255作为七段数码管的接口1．按照图4.

4、4连接实验线路，并输入下列程序。实验程序：ORG22002200MOVAL,802202OUT63,AL2204MOVAL,3F2206OUT61,AL2208MOVAL,00OUT60,AL图4.4实验线路图2．运行程序，观察记录4个数码管显示情况。3．若要使数码管上显示字形为“5”，应如何修改程序，实验之。4．若要使只有第1、3个数码管显示“3”，应如何修改程序，实验之。（四）综合运用8255的三个端口，使之实现如下功能：当PC0＝1时，在四个数码管上显示K7-K0中处于闭合的开关的位数。实验程序：……3F065B4F666D7D07……图4.5ORG

5、23002300MOVSI，1010(OFFSETDATA)2303LOOP0：XORCX，CXDATA(1010)MOVAL，912307OUT63，AL2309LOOP1：INAL，62ANDAL，01JZLOOP0230FLOOP2：INAL，602311CMPAL，002313JZLOOP2(1017)2315LOOP3：SHRAL，12317INCCX2318JNCLOOP3231ADECCX231BADDSI，CX231DMOVAL，[SI]231FOUT61，AL2321MOVAL，002323OUT62，AL2325XORCX，CX2327

6、MOVSI，1010232AJMPLOOP2实验步骤：1.按实验线路图4.6接线2.输入程序并检查无误，经汇编、连接后装入系统3.按图4.5在存储单元1010——1017内存入0～7的字段代码。（E1010回车）4.改变开关组K0—K7的状态（注：K7-K0中只有一个闭合），使得B口的显示内容值发生变化，最终使数码管显示不同的数字；5．修改程序，使数码管的显示位数不同。将修改内容及结果记录之。图4.6实验线路图五、实验报告要求1、对各实验内容进行分析总结。2、对实验内容(四)的程序进行注释，说明改写后的程序及实验结果。3、写出完整的实验报告。