材料分析知识点总结

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1、材料分析（不完全整理）卜1.名词解释吸收限：um随入的变化是不连续的，期间被尖锐的突变分开，突变对应的波长为K吸收限.短波限：连续X射线谱在短波方向上冇一个波长极限，称为短波限入。它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线.景深（Df）：透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深。或者说试样超越物平面所允许的厚度。焦长（D1）：透镜像平面允许的轴向偏茅定义为焦长（深），或者说观察屏或照相底版沿镜轴所允许的移动距离。差热分析（DTA）：在程序控制温度条件下，测量样品与参比物之间的温度差与温度关系的一种热分析方法。热重分析：是指在程序温度控制下，测量物质的质量（m）与温度关系的一种技术。ICTA的命

2、名是Thermogravimetry,我国的标准命名是“热重法”简称“TG”。明场成像：让投射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到的图像衬度的方法叫做明场成像暗场成像：将明场成像川物镜光阑的位置移动一下，使其光阑套住hkl斑点而把透射束挡掉就得到图像衬度的方法叫暗场成像置信度：采用一种概率的陈述方法，也就是数理统计中的区间估计法，即估计值与总体参数在一定允许的误差范围以内，其相应的概率冇多大，这个相应的概率称作置信度。检出限:用于表示在适当置信度下，能检测出的待测元素的最小浓度或最小质量。像衬度：像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。透射电镜的像衬度來源于样品对入射电了束的散射。荧光X射线：由X

3、射线激发所产生的特征X射线称为二次特征X射线或荧光X射线。*试分析下属工件选择一样恰当的的仪器分析方法1•某结构件残余应力的测定-XRD（X射线衍射）2.测定某件金属的熔点或比热容-DTA（差热分析/DSC（差示扫描量热分析）3.首饰小所含元素的无损检-EPMA（电子探针）/EDS（能谱仪）/WDS（波谱仪）4•测定某种废水中的微量元索含量一AAS（原子吸收光谱）/AES（原子发射光谱）5.测定纳米粉末的晶形及晶粒度的大小-XRD（X射线衍射）材料端口形貌观察—SEM（扫描电子显微镜）/TEM复型（透射电镜复型）7•区别TiA13、TI3AL--XRD（X射线衍射）&分析材料的热稳定性一TG（

4、热重分析）9冇机物材料的鉴别—FTIR（红外光谱分析）L晶粒度的测定用XRD2.有机物FTIR3.热重分析TG2.扫描电镜的微观组成:3.二次电子6・X射线衍射仪的核心部件：测角仪第一章1•伦琴把引起奇异现象的未知射线称作X射线2•特征X射线谱实验规律①激发电压Uk>UL>③特征谱线位（波长）仅与靶材（Z）有关，而与U无关。④在X射线多晶衍射中，主要利用ka线作辐射源。②同系各谱线存在入kB<入ka⑤特征X射线的产生遵从光谱选律，特征X射线也有多重线。3•先选阳极靶，再选滤波片4•布拉格方程2dsmO=nA,产生衍射的条件衍射产生的充分必要条件应为:衍射必要条件（布拉格方程）且FHKL2*

5、X射线衍射分析（XRD）3种主要方法：（1）劳埃法（2）周转晶体法（3）粉末法粉末法（powdermethod）的应用根据布拉格方程，SinO不能大于1,因此:看“朋VI,即必<2力对衍射而言，n的最小值为1，所以在任何可观测的衍射角下，产生衍射的条彳牛为2八2d,这也競是说，能够祓晶乐衍射的电磁波的波长必须小于参加反射的晶面中最大面间距的二倍，否则不能产生衍射现象。_测定晶体结构，进行物相分析，精确测定晶体的点阵参数，以及应力、织构、晶粒度大小等等的测定。*德拜相机德拜相机构成：1）圆筒形暗盒，在其内壁安装照相底片；2）装在暗盒中心的样品轴,用以安装样品,它附有调节样品到暗盒中心轴的螺丝及带

6、动样品转动的电机；3）装在暗盒壁上的平行光管，以便使入射X射线成为近平行光束投射到样品上；4）暗盒的另--侧壁上装有承光管，以便让透射光束射出，并装冇荧光屏，用以检查X射线是否投射到样甜上。*相机的直径一般为57.3mm或114.6mm*粉末样品制备一般经过粉碎（韧性材料用挫刀挫）、研磨、过筛（250・325目）等过程，最后粘接为细柱状（直径0・2~0・8mm左右），长度约为10~15mm。*德拜相机底片安装方法：（a）正装法（b）反装法（c）偏装法*衍射仪的构成：①X射线发生器②测角仪（核心部件）③辐射探测器④辐射测量电路⑤电子计算机系统*衍射强度的测量：多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描

7、和步进（阶梯）扫描两种*衍射仪法与照相法的比较照相法：较原始的方法，摄照时间长，衍射线强度靠照片的黑度来估计，准确度不高；但设备简单，价格便宜，样品用量少。衍射仪法：方便、快速、准确，可自动进行数据处理等。*物相分析与元素分析有何区别?级元素分析是指确定材料由哪些元素组成以及它们的含量。b,物相分析则是要分析元素的结合态和相的状态。*物相分析是指确定物质（材料）由哪些相组成（即物相定性分析或称物相