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1、AgilentNewTestSolutionsinRF/uWComponentsandCircuitsinRF/uWComponentsandCircuits安捷伦新一代微波射频电路与元器件测试解决方案Page1AMF2010议程ò射频微波器件及测试技术发展òAgilent网络仪产品:PNAPNA--X,E5061BX,E5061Bò频率源测试技术ò微波器件的系统级参数测试ò热点技术问题的解决方案ò有源电路非线性参数测试和建模分析ò脉冲器件测试ò混频器测试ò噪声系数测试ò太赫兹测试AMF20101电子系统对微波电路的要求雷达系统卫星系统军用通信系统•宽频段•线性好•高功
2、率•高效率•低噪声•低成本AMF2010微波半导体器件技术的发展AMF20102射频多芯片封装技术SIPAMF2010系统中的射频微波器件MixerTestAmplifierTestSingleConnection:Gaincompression,IMD,noisefigure,harmonics,truedifferential,PAE,hotS22T/RModuleOnwaferOSC&PLLPulsedRFTestandDCAMF20103射频微波器件测试要求ò器件线性特性测试S参数,增益,反射,相位非线性,群时延,隔离度等ò器件非线性特性测试增益压缩,交调,谐波
3、,杂散ò变频器件和通道测试变频增益,相位,群时延,ò模块一致性测试幅度一致性,相位一致性ò噪声特性测试相位噪声,噪声系数ò器件功率特性测试峰值功率,脉内功率,平均功率,功率下降ò复杂激励下器件和通道特性测试线性调制线性度,干扰测试,临道功率比测试ò脉冲特性测试脉冲边沿,过冲AMF2010微波电路测试的挑战测试应用对测试仪表的要求•仪表提供满足要求的大功率激励信号。•仪表对大功率的承载能力,大功率状态仪表的校准问题和被测件参数测试。功率放大器测试•热状态下S22参数测试。•非线性参数的建模和非线性参数的测试•完整的性能参数测试,包含传输反射参数,非线性参数,噪声系数。•小
4、功率激励状态下仪表的测试精度低噪声放大器•小噪声系数的精确测试,噪声参数的建模•混频器完整传输反射参数测试,混频器传输相位参数测试•混频器各种工作模式下参数的测试(固定中频,固定本振等)混频器测试•混频器本振信号的提供•脉冲的测试应用,脉冲状态下扫频合时域参数的测试。仪表满足各种脉冲宽度的测试要求。•脉冲状态下仪表的测试精度,特别是相位参数测试精度。T/R组件测试•T/R组件增益参数大动态范围可控,需要仪表在具备相应的测试动态范围。•仪表的测试速度。•完整的差分和共模混合S参数测试•真实的差分激励状态的参数测试平衡器件测试•功率扫描模式下参数测试AMF20104器件测试
5、新思路–单次连接多参数测量SCMMGain,match,isolationPulsed-RFIMD,harmonics,spurs不仅仅是VNA,还是可内部和路的双源矢量噪声系数分析•节省时间,资金,尺寸,维修成本脉冲调制器和发生器频谱仪•改善精度,速度,指标非线性分析AMF2010关键模块微波特性测试系统外部源和信号分析NPR/复杂信号激励仪连接网络仪后背频谱分析&NPR测试板连接点,所有测80MHzor1GHzBWOptions试使用同一个测试解调分析通路N8241A1GHzN9030APXA单音或双音CW测试,脉冲测试噪声测试,NVNAE8267DVectorPS
6、GSourceN5242/4APNA-XScopes/Digitizers/VSASoftware校准标准E5052B信号源分析仪PowerSensor,E-Cal,NoiseSourceWelcometothePNA-XPage10January2009AMF20105安捷伦矢量网络仪PNA-X,NVNAIndustry-leadingperformance10MHzto13.5,26.5,43.5,50GHzBandedmm-waveto2THzPNA测试附件PerformanceVNA10MHzto20,40,50,67,110GHzBandedmm-waveto
7、2THzPNA-LWorld’smostcapablevalueVNA300kHzto6,13.5,20GHz10MHzto40,50GHzENA-BENAMm-waveLowFreqVNAWorld’smostpppopular5Hzto3GHzeconomyVNAsolutions9kHzto4.5,8.5GHzUpto2THzENA-L300kHzto20.0GHzLowcostVNAPNA-X300kHzto1.5/3.0GHzFieldFoxreceiverRFAnalyzer8530Areplacement5Hzto4/6GH