ram芯片测试系统与其专用芯片设计

ram芯片测试系统与其专用芯片设计

ID:33731959

大小:410.67 KB

页数:56页

时间:2019-02-28

ram芯片测试系统与其专用芯片设计_第1页
ram芯片测试系统与其专用芯片设计_第2页
ram芯片测试系统与其专用芯片设计_第3页
ram芯片测试系统与其专用芯片设计_第4页
ram芯片测试系统与其专用芯片设计_第5页
资源描述:

《ram芯片测试系统与其专用芯片设计》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、厦门大学硕士论文方法就是伪穷举测试。该方法用的也是穷举测试集,但测试矢量在施加的时序上具有随机性。伪随机测试的特征是测试信号的每位字都是随机的,他按照数学上的特征多项式采用线性反馈移位寄存器(LinearFeedbackShiftRegister)来产生。伪随机法需用故障模拟器来排列测试序列和测试覆盖率,对于固定型故障其故障覆盖率可以达到85%以上[6]。确定性测试是基于故障的测试,它是对特定的故障类型生成测试的图形,一般确定型测试信号的生成是按照算法来进行的。按测试的施加时间,可以分为离线测试和在线测试[7]。离线测试是指

2、测试施加时在非工作情况下运行,而在线测试则是指测试实施时电路运行在正常工作条件下。在线测试需要专门的代码、检测装置和复用技术。按测试的施加方式,可以分为片上测试和片外测试。片上测试即为嵌入式测试,主要是针对SoC(SystemonaChip)等系统级的芯片进行测试。片外测试则是采用片外的逻辑电路对待测电路进行激励施加、输出比较等。随着技术的快速发展和市场竞争的加剧,产品的市场寿命相对于开发周期变得越来越短,而测试对产品的上市时间、开发周期所产生的影响将会变得越来越大。对于如何在保证产品的高可靠性和缩短上市时间的情况下尽可能地

3、降低测试成本,已经形成了专门的测试方法学对此加以研究,由此可见,芯片检测技术在集成电路领域乃至整个电子工业都有着极其重要的影响力。存储器存在于当今绝大多数的数字系统当中,对整个电子系统的稳定性起着至关重要的作用。对存储器的检测已经成了一个既具有广泛性又兼备重要性的一项技术。1.2关键技术问题鉴于存储检测技术在当今信息技术产业中的重要作用,本文从实际出2第一章绪论发,尝试研究实现一款存储器件检测芯片。随着半导体技术的发展与芯片规模的扩大,传统的电路设计方法已经不能满足现代电子电路设计的需求。对于系统设计方法的选择已经成了实现整

4、个系统设计的关键。同时,对于目前存在的多种存储器检测算法的选择也是本设计的需考虑的关键问题之一。另外,芯片检测可靠性的考虑也成了需关键考虑的部分。在大量调查研究的基础上,从实用性的角度,本文研究设计了存储芯片自动故障检测模块,CPU接口硬件模块,存储器接口硬件模块。在实现本设计的过程中,涉及到如下关键技术:1.2.1系统设计方法在CAD用于电子系统设计以前,人们一直都是采用传统的硬件设计方法来设计电子系统。这种方法采用自下向上的设计思路[8],应用电路原理图的设计方式,先用元器件搭电路,完成各个功能模块后再将各个模块连接来实

5、现整个设计。由于电路原理图中详细标明元器件的名称和相互信号连接关系,因此大系统的原理图往往很难在一张上完成,这对设计文件的阅读、修改和使用带来了极大的不便。而且传统的设计方法只有等整个系统已经完成后才能够对整个系统进行测试,设计的问题在后期才容易发现,这无形延长了设计周期。随着计算机技术和大规模集成电路的发展,传统的设计方法已经越来越不能适应现代电子系统的设计。当CAD应用于电子系统的设计后,电子系统设计渐渐演变成了EDA。EDA技术是以电子系统设计为应用方向,以计算机为工作平台,以EDA软件工具为开发环境,以硬件描述语言(

6、HDL,HardwareDescriptionLanguage)为设计基础,以可编程器件(PLD,ProgrammableLogicDevice)为实验载体,以专用集成电路(ASIC,ApplicationSpecificIntegratedCircuit)和片上系统(SOC,SystemOnChip)芯片为目标器3厦门大学硕士论文件,对电子产品进行自动化设计的过程[9]。目前,EDA技术已经成为现代电子设计技术的核心。20世纪90年代以来,微电子工艺有了惊人的发展,工艺水平已经达到了深亚微米级别,在一个芯片上已经可以集成上

7、百万、上千万个晶体管,芯片的工作速度也得到了极大的提高[10]。没有EDA技术的支持,想要完成如此大规模集成电路的设计制造是不可想象的。从发展的过程来看,EDA技术经历了下面三个发展阶段[11]:计算机辅助设计(CAD,ComputerAidedDesign)、计算机辅助工程分析(CAE,ComputerAidedEngineering)和电子设计设计自动化。虽然EDA技术一直都是滞后于制造工艺的发展,但正是在制造技术的驱动下,EDA工具不断地被赋予新的要求,从而随着微电子技术与计算机技术的进步而不断向前发展。总的说来,ED

8、A技术将向着智能性更高、功能性更强,高层综合的方向发展[12]。主要包括支持软、硬件协同设计,超大型系统的仿真验证工作等。1.2.2芯片的检测算法存储器检测技术是在存储器电路功能模型的基础上,通过对存储器失效模型的建立与分析,并采用一定的方法来发现错误的技术[13]。存储器的故障类型有数据

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。