da芯片测试系统的设计

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1、密级学号070270毕业设计（论文）D/A芯片测试系统的设计院（系、部）：机械工程学院姓名：易成龙班级：测072专业：测控技术与仪器指导教师：林顺英教师职称：讲师2011年06月15日·北京北京石油化工学院学位论文电子版授权使用协议论文《D/A芯片测试系统的设计》系本人在北京石油化工学院学习期间创作完成的作品，并已通过论文答辩。本人系作品的唯一作者，即著作权人。现本人同意将本作品收录于“北京石油化工学院学位论文全文数据库”。本人承诺：已提交的学位论文电子版与印刷版论文的内容一致，如因不同而引起学术声誉上的损失由本人自负。本人完全同意本作品在校园网上提供论文

2、目录检索、文摘浏览以及全文部分浏览服务。公开级学位论文全文电子版允许读者在校园网上浏览并下载全文。注：本协议书对于“非公开学位论文”在保密期限过后同样适用。院系名称：机械工程学院作者签名：易成龙学号：0702702011年06月27日D/A芯片测试系统的设计摘要随着计算机技术和微电子技术的迅速发展，D/A芯片测试系统的应用越来越广泛。测试过程应用于D/A芯片的制造过程，其主要目的都是为D/A芯片质量与可靠性提供一种度量。本文介绍了D/A芯片测试的重要地位，分析了芯片测试系统的发展和现状，提出了相应的设计方案。系统选择美国NI公司的数据采集卡（NI-DAQ）

3、PCI-6221对待测参数进行采集，应用LabVIEW编程语言对该测试系统的控制部分以及结果比对部分进行了设计，最终实现了一个闭环的测试系统的设计并给出测试结果。与传统的测试方法相比，设计更开放与灵活，便于修改，成功的实现了数字端口的控制，模拟量的采集以及结果的比对与显示。关键词：数模转化，虚拟仪器，LabVIEW，数据采集VID/A芯片测试系统的设计AbstractWiththerapiddevelopmentofthecomputertechnologyandmicroelectronicstechnology,D/Achip-testingsyste

4、msareusedmorewidely.ThetestingprocessareusedinD/Achipprocess,MainpurposeistoprovideameasureforD/Achipqualityandreliability.ThearticleintroducestheimportantroleoftheD/Amicrochiptestingandanalyzesthechiptestsystemdevelopmentandsituation.Italsoputsforwardthecorrespondingdesignscheme.

5、ThesystemusesdataacquisitioncardtocollectthemeasuringparametersandchooseAmericaNIcompany’sdatacollectioncard(DAQ)MseriesNI-models:PCI6221foracquisitionsignalequipment,appliestheLabVIEWprogrammingsoftwareforthetestsystemsoftwareparts,thecontrolpartsandtheresult.TheLabVIEWrealizesth

6、edesignofclosedlooptestingsystemandgivesouttheresults.Comparedwiththetraditionaltestmethods,itismoreopenandflexible,easytomodify.Itmakesthedesignofdigitalcontrolports,analogcaptureandcompareanddisplaytheresultssucceed.Keywords:Analog-to-digitalconversion，virtualinstrument，LabVIEWE

7、lectromagneticinterference，DataacquisitionVID/A芯片测试系统的设计目录第一章前沿································································11.1课题背景及研究意义················································11.1.1现代工业生产的热点研究···········································11.1.2测试系统设计技术的产生················

8、···························21.2研究