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《virtex型fpga的测试理论和方法-研究》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、摘要摘要本文以Xilinx公司的Virtex型FPGA芯片为实例，研究基于SRAM架构的FPGA芯片的功能测试的测试理论和测试方法。在理论分析的基础上，针对FPGA中的各种功能模块和线网结构，建立故障模型，选择测试算法，生成测试矢量，以及测试布局布线。然后，通过计算测试覆盖率、测试周期，探讨算法复杂度和硬件资源消耗，综合评估测试效率和测试成本。主要的技术应用包括：FPGA片上RAM的测试算法；路径扫描和边界扫描在FPGA逻辑功能测试中的应用；BIST技术在功能模块测试和线网资源测试中的应用；FPGA的测试图形生成及覆盖率计算。针对线网测
2、试，提出了几种独特的测试结构。例如，全长线和总线型长线相结合的内建自测试结构，六倍线、单长线的测试布线结构。本文也对这些结构的测试矢量的生成算法进行了深入讨论。基于这些研究，尤其是在测试的布局布线结构上进行创新，可以有效减少测试时间、硬件资源消耗并简化测试程序的编制。对部分模块的测试，本文结合生产实际说明了对应测试技术的适用范围。本项目研发的最终目标是实现高效率、高故障覆盖率的线上批量测试技术。文中应用的测试理论和方法也适应于所有具有类似结构的FPGA，可广泛应用到整个Virtex，VirtexII系列或更高级FPGA的测试中。关键词：
3、FPGA，测试算法，测试图形，故障覆盖率I万方数据ABSTRACTABSTRACTThepaperselectedXilinxVirtexXCV100asaninstancetoanalyzethetheoryandalgorithmoffunctionaltestingofFPGAbaseonSRAM.Pointtokindsoffunctionalmodulesandnetarchitecturesbuildthefaultmodel,analyzethealgorithm,generatethetestvectors,routin
4、gandplace.Thensyntheticallyevaluatesthecostsandefficiencythroughbycountthetestcoverage,periodtime,complexofalgorithmandhardwareresources.Maintechnologysinclude:thetestalgorithmforRAMonchip,testlogicresourcesofFPGAwithpathscanchainorBundary-Scan,buildBISTtotestfuncational
5、moduleorrouteresources,buildthetestpatternandcountthecoverageforFPGA.Pointthenettesting,developsomeuniquestructure.Forinstance,MBISTofgloballonglineand4bitbus,hex-lineorsinglelineteststructure.Thispaperalsodeeplyresearchedthealgorithmtogeneratethetestpatternforthesearchi
6、tectures.Baseontheseresearches,especiallycreativeplaceandroutearchitecturecaneffectivelydescreasetesttimeandthecostofhardwareresource.Eveneasierbuildthetestcode.Forsomemodules,thispaperillustratestheapplicablerangedepandontheactuallysituation.Thefinaltargetoftheprojectis
7、whatachievehighfaultcoverageandefficientlytestformassproduce.Someoftestingtheorysandmethodologysinthepaperalsocanbeapplicatedotheronesthathasthesimilararchitecture,likelyVirtex,VirtexIIormoreadvancedseries.Keywords:FPGA,testalgorithm,testpattern,faultcoverageII万方数据目录目录第一
8、章绪论....................................................................................................
