J BT7369-1994-机械密封端面平面度检验方法.pdf

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1、J22JB/T7369－1994机械密封端面平面度检验方法1994-07-26发布1995-07-01实施中华人民共和国机械工业部发布中华人民共和国机械行业标准机械密封端面平面度JB/T7369－1994检验方法1主题内容与适用范围本标准规定了机械密封端面平面度的检验装置、检验程序、平面度测定值的判读等内容。本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度。2术语2.1干涉图光波干涉产生的干涉条纹(亮带或暗带)所组成的图形。2.2干涉光谱带(光带)干涉图上的暗带。3检验装置3.1推荐使用的检验装置结构见附录B(参考件)。3.2光源应为单色光源。3.3检验用光学平

2、晶应为一级精度(其平面度应在0.02～0.10μm之间)，光学平晶的直径应大于被检密封环端面的外径。3.4装置放置在干燥、洁净、避免振动干扰的工作间内。3.5装置要有一定的保护元件，避免光束直接照射到观察者的皮肤或眼睛。3.6如果采用反光镜观察，应保证反光镜没有变形和失真。4检验程序4.1检验时，环境温度应控制在20±5℃。4.2打开平面度检测仪的电源开关，预热至灯管充分发光。4.3清除被检密封环端面和光学平晶表面上的纤维、颗粒、油渍、水汽等污物，且使密封环端面和光学平晶表面不受损伤。4.4将被检密封环轻轻放置在光学平晶上(或将平晶轻轻放置在密封环上)，使密封环端面和光

3、学平晶紧密接触，判读光谱带数时不应使其受到附加外力的作用。4.5通过镜面观察密封端面的干涉图形(或透过光学平晶观察密封端面上的干涉图形)，判读干涉光谱带。5平面度测定值的判读5.1平面度测定值的判读按附录A(补充件)的规定。对于附录A未含的图形，判读者应在正确理解应用光干涉原理的基础上，参照附录A的图例进行判读。机械工业部1994-07-26批准1995-07-01实施1JB/T7369－19945.2球形凸面和球形凹面的确定5.2.1观察干涉图由上向下移动眼睛，若干涉光谱带向圆心移动，则为球形凹面；若干涉光谱带向外径移动，则为球形凸面。5.2.2将平晶放在密封环上，用

4、手指轻轻地在平晶外边上加压，若干涉光谱带围着手指弯曲，则为球形凸面；若干涉光谱带向手指外弯曲，则为球形凹面。5.3平面度的测定值的计算公式为：Δ=0.5Nλ式中：Δ——平面度的测定值；N——干涉光谱带数；λ——单色光波波长。2JB/T7369－1994附录A常见干涉光谱带图示例(补充件)A1一条光带图示见图A1。图A1A2二条光带图示见图A2。图A23JB/T7369－1994A3三条光带图示见图A3。图A3A4多条光带(＞三条光带)图示见图A4。图A44JB/T7369－1994附录B推荐采用的检验装置结构示意简图(参考件)B1推荐采用的检验装置结构示意简图见图B1。

5、图B11—箱体；2—活动门；3—密封环；4—光学平晶；5—带孔活动板；6—玻璃镜；7—毛玻璃；8—钠光灯管；9—稳压元件；10—隔光板附加说明：本标准由机械工业部合肥通用机械研究所提出并归口。本标准由机械工业部合肥通用机械研究所负责起草。本标准主要起草人李小瓯、吕康、何玉杰、程传庆。51994－JB/T7369中华人民共和国机械行业标准机械密封端面平面度检验方法JB/T7369－1994*机械科学研究院出版发行机械科学研究院印刷（北京首体南路2号邮编100044）*开本880×12301/16印张1/2字数10,0001995年4月第一版1995年4月第一次印刷印数1－

6、500定价3.00元编号94－114机械工业标准服务网：http://www.JB.ac.cn