材料研究与测试方法实验

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1、为了适应公司新战略的发展，保障停车场安保新项目的正常、顺利开展，特制定安保从业人员的业务技能及个人素质的培训计划材料研究与测试方法实验　　材料研究与测试方法综合性实验　　学号：姓名：专业班级：指导老师：完成日期：　　材料科学与工程学院　　一种研磨介质物相组成与显微结构的综合分析　　摘要：对一种研磨介质进行XRD与SEM测试，得出此种研磨介质的物相组成及其显微结构。由XRD数据分析及SEM图片分析，结果表明此种研磨介质为氧化铝。关键词：研磨介质XRDSEM物相组成显微结构正文　　一、前言　　[　　研磨介质：磨机中靠自身的冲击力和研磨力将物料粉碎的载能体叫做研磨

2、介质。最常用的研磨介质为球介质和棒介质，有些情况下采用圆台、柱球、短圆棒等不规则形体，此称异形介质。制作研磨介质的材料多为经特殊加工的铸铁或合金，其次有陶瓷、氧化铝等；砾磨用的研磨介质砾石有近球体、椭球体、蛋形等，是由矿石或岩石专门制取的。目的-通过该培训员工可对保安行业有初步了解，并感受到安保行业的发展的巨大潜力，可提升其的专业水平，并确保其在这个行业的安全感。为了适应公司新战略的发展，保障停车场安保新项目的正常、顺利开展，特制定安保从业人员的业务技能及个人素质的培训计划　　XRD物相分析工作原理：每一种结晶物质各自都有自己独特的化学组成和晶体结构，没有任

3、何两种结晶物质，它们的晶胞大小、质点的种类和质点在晶胞中的排列方式都是完全一致的。因此当X射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射面网的面间距d和衍射线的相对强度I相来表征。其中d值与晶胞的大小和形状有关，相对强度则与质点的种类和其在晶胞中的位置有关。所以，任何一种结晶物质的衍射数据d和I是晶体结构的必然反映，因此可根据它们来鉴别物相。在实际操作过程中，通过XRD方法来鉴定样品中存在某种物相的过程称为定性相分析,鉴定的依据主要是衍射峰位与标准卡片上的衍射峰位的匹配度。首先要确定试样的三强峰与该物相标样的三强峰是否一致，一

4、般由强到弱依次比较，如果两个最强峰对应的2θ相差较大的话，就肯定不是同种物相。然后再看标准谱线是不是在样品中都有对应的峰。如果标准谱线中有一条比较高的线在样品中根本没有对应的峰存在,可以说这种物相不存在。鉴定的第二个依据是样品谱的衍射强度与标准谱的强度是否一一对应，一般作为附加依据。目的-通过该培训员工可对保安行业有初步了解，并感受到安保行业的发展的巨大潜力，可提升其的专业水平，并确保其在这个行业的安全感。为了适应公司新战略的发展，保障停车场安保新项目的正常、顺利开展，特制定安保从业人员的业务技能及个人素质的培训计划　　SEM显微结构的分析工作原理：扫描电镜

5、是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为5～35keV的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射，二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。　

6、　本次实验的任务是：使用X射线衍射仪与扫描电子显微镜对该研磨介质进行物相与显微结构分析，从而得出它为什么物质，什么结构。　　二、实验器材：德国的BrukerD8-AdvanceX射线衍射仪,JEM-XXFX扫描电子显微镜　　三、测试分析结构讨论：SEM扫描电镜图片　　1　　2　　图一　　图二　　JEM-XXFX型电子显微镜在加速电压20keV,不同放大条件下拍摄的二次电子相。图一、扫描电子显微镜在加速电压20keV，放大倍数4000下的二次电子像；图二、扫描电子显微镜在加速电压20keV，放大倍数1000下的二次电子像；结论　　1.粒径范围：从图中可知，粒径

7、分布在之间，主要粒径分布在之间；2.形貌结构：由图可知，该粉体功能陶瓷形貌较规则，为六方片状结构。目的-通过该培训员工可对保安行业有初步了解，并感受到安保行业的发展的巨大潜力，可提升其的专业水平，并确保其在这个行业的安全感。为了适应公司新战略的发展，保障停车场安保新项目的正常、顺利开展，特制定安保从业人员的业务技能及个人素质的培训计划　　3　　XRD物相分析　　对XRD原始数据分析得样品XRD衍射图谱　　图三—样品XRD衍射图谱上图的所有的峰值为氧化铝的峰值　　数据分析：原始数据导入—背景及Kα2线扣除—图谱平滑处理—寻峰—物相检索。　　4　　材料现代分析测

8、试方法实验》课程教学大纲　　【课程编号】　　【英文名