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《r.s.t测试内存颗粒方法》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 1 2 3 4 5 6 7 8 闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。 从左至右，0-7代表第一区域，8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;……依次代表内存条的8颗颗粒。 ⒈DDR8位与16位的单面测法: ⑴.0-7(1)区域如果出现乱码,代
2、表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏 ⑵.8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏 ⑶.0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏 ⑷.8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏 ⑸.0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏 ⑹.8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏 ⑺.0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏 ⑻.8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根DDR内
3、存条的第8颗粒已经损坏 注意:DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8 ⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图: 1-16M---------------------------------------------------------------------------- 16-32M ------------------------------------------------------------------ 32-48M------------------------------------
4、-------------------------------------------------------- 48-64M----------------------------------------------------------------------------------------------- 从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明) 64-80M----------------------------------------------
5、--------------------------------------------------- 80-96M ------------------------------------------------------------------------------------------------ 96-112M---------------------------------------------------------------------------------------------- 112-128M----
6、------------------------------------------------------------------------------------------- 从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明) 意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用. ⒊SD的8位与16位的单面测法: ⑴.0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经
7、损坏 ⑵.8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏 ⑶.0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏 ⑷.8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏 ⑸.0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏 ⑹.8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏 ⑺.0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏 ⑻.8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏 （注：
8、PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意） 4.通过以上的介绍，说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要
