材料分析方法课后答案

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1、第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（  ）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。3.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）A．Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。4.当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限λ0；B.激发限λk；C.吸收限；D.特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A.光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（

2、A+C）二、正误题1.随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。（）2.激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。（）3.经滤波后的X射线是相对的单色光。（）4.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（）5.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（）第二章一、选择题1.有一倒易矢量为，与它对应的正空间晶面是（）。A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（）衍射线。A.三条；B.四条；C.五条；D.六条。3.一束X射线

3、照射到晶体上能否产生衍射取决于（）。A．是否满足布拉格条件；B．是否衍射强度I≠0；C．A+B；D．晶体形状。4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（）。A．4；B．8；C．6；D．12。二、正误题1.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（）2.X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。（）3.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n。（）4.布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（）5.结构因子F与形状因子G都是晶体结构对衍射强度的影响因素。（）36第三章一、选择题1.最常用的X射线衍射方法是（）。A.劳厄法；B.粉末多法；

4、C.周转晶体法；D.德拜法。2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。A.正装法；B.反装法；C.偏装法；D.A+B。3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（）。A.<325目；B.>250目；C.在250-325目之间；D.任意大小。4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（）。A.保持同步1﹕1；B.2﹕1；C.1﹕2；D.1﹕0。5.衍射仪法中的试样形状是（）。A.丝状粉末多晶；B.块状粉末多晶；C.块状单晶；D.任意形状。二、正误题1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。（）2.在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是

5、辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦圆。（）3.选择小的接受光栏狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会降低接受强度。（）4.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。（）5.衍射仪法和德拜法一样，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。（）第四章三、选择题1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（）。A.外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。2.X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（）进行核对。A.Hanawalt索引；B.Fenk索引；C.Davey索引；D.A或B。3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（）。A.相机尺寸误差；B.底片

6、伸缩；C.试样偏心；D.A+B+C。4.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（）。A.第一类应力（宏观应力）；B.第二类应力（微观应力）；C.第三类应力；D.A+B+C。5.Sin2Ψ测量应力，通常取Ψ为（）进行测量。A.确定的Ψ角；B.0-45º之间任意四点；C.0º、45º两点；D.0º、15º、30º、45º四点。四、正误题1.要精确测量点阵常数。必须首先尽量减少系统误差，其次选高角度θ角，最后还要用直线外推法或柯亨法进行数据处理。（）362.X射线衍射之所以可以进行物相定性分析，是因为没有两种物相的衍射花样是完全相同的。（）3.理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料

7、中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有多少。（）4.只要材料中有应力就可以用X射线来检测。（）5.衍射仪和应力仪是相同的，结构上没有区别。（）第五章一、选择题1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（）。A.1000；B.10000；C.40000；D.600000。2.可以消除的像差是（）。A.球差；B.像散；C.色差；D.A+B。3.可以提高TEM的衬度的光栏是（）。A.第二聚光镜