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时间:2018-08-04
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1、基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析本文由peuv1ybkqo贡献pdf文档可能在WAP端浏览体验不佳。建议您优先选择TXT,或下载源文件到本机查看。电子测量技术 第3O卷第7期 20年707月 ELECT【Nl MEAs EM旺NT TECHN0【GY ClD基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析 程云波 方葛丰 (.1西安电子科技大学机电工程学院西安707;101 2.电子测试技术国防科技重点实验室青岛265)655 摘要:为满足当今电路测试和故障诊断的需求,可测性设计(F)DT已成为芯片和系统设计中
2、不可或缺的重要组成 部分。IE 191EE14.作为一种标准化的可测性设计方法,弥补了传统测试的缺陷,复杂的电路互连提供了测试手 为段。现在大部分的复杂芯片都支持IE14.EE191标准,怎样利用其来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计 人员必须考虑的问题。本文从边界扫描原理人手,通过对一目标板上互连结构的测试,从可测性设计的角度探讨了如 何使边界扫描技术得到更有效的贯彻和应用。 关键词:边界扫描;可测性设计;扫描链;故障诊断 中图分类号:TN4 1文献标识码:A DFT naye fPCB ae n o
3、ndr-cntcnooyalsso bsdobuaysa ehlg Chn n FagGeeg egYubon fn2(.Sho fgneigXiinUnvri,’n707;1col ier,da iesyXi 101 oEnnta2lcrnc sadMesrmetTcnlg tnlaoaoyQia 655 .EetoiTetn auen ehooyNaiaLbrtr,no265)s o  ̄dAbtatsrc:Tomettene fcrutts n aldanss e h edo icietadfutigoi
4、,DFT a ena nipnal ato C n ytm hsbe nidsesbepr fIadssedsgigeinn.Asasadr tnadDFT ehd,ImtoEEE 19 onaysa ehiu rvdsmesrsfrcmpiae 14.1budr-cntcnqepoie aue o oltdcitronc etn a lmaeu h hrcmigo rdtnletehiusnecnetts dcnwelk ptesoton ftaioa s cnqe.Nody,motcmpe a
5、a ittwaass olxIcnCsspotIupr EEE 191ts etrsI hudb osdrdb h adr einrta ot s hs Cst 14. etfue.tsol ecniee ytehrwaedsge hthW oueteeI oaaheeabte etblyn hge aloeaeBsdo udr-cnpicpeadytsi o h civ etrtsait adihrfutvrg.ae nbnaysa rnil,n b etni cognteitroetsrcueo ag
6、tbad,tepprdsusshw oipeetadapytebudr-cntcnlg necnc tutr fatre roh ae icse ot lmn n pl h naysa ehooymoi r fetewa rm T esetenamoeefci yfoDFprpci.vv Kewod:budr-cn;DF;Sa hifutdanssyrsonaysaTCcan;al igoin 0引 言 比传统的IT测试节省了时间,C缩短了产品推向市场的周 期。另外,边界扫描也支持CL、PA和Fah的在线
7、PDFGls编程(P。但是,I)S在现实情况中,正考虑到边界扫描测 真现代电子技术的高速发展对传统的电路测试技术提 出了新的挑战。器件封装的小型化、面贴装(MT技术 表S)的应用,以及由于板器件密度的加大而出现的多层印制板 技术使得电路节点的物理可访问性逐步减低,原来借助于 试的电路设计并不普遍。本文以对一个目标板所作的测 试工作为例,讨了在把边界扫描机制引入电路设计的前 探提下,增加板级互连的故障诊断覆盖率。如何 针床的在线测试(T的局限性日益增大。电路和系统可 I)c测试性的急剧降低导致测试费用占电路和系
8、统总费用的 比重越来越高。人们已意识到,靠改善测试方法来实现 单电路的测试及故障诊断是远远不够的。要从根本上解决 1边界扫描机制的引入 边界扫描技术的基本思想是在芯片管脚和内部逻辑 之间增加了串联在一起的移位寄存器组,边界扫描测 在试模式下,存器单元在相应的指令下控制引脚状态,寄从 而对外部互连及内部逻辑进行测试。边界扫描结构定义 了4基本硬件单元:试存取口(个测 )TP控制器、、A 一般包括 指令
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