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《JBT54282-1999量具量仪产品质量分等微米千分尺.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、J42JB/T54282-1999量具量仪产品质量分等微米千分尺(内部使用)1999-06-09发布2000-01-01实施国家机械工业局发布JB/T54282-1999前言本标准是对JB/T54282—94《微米外径千分尺产品质量分等》的修订。本标准与JB/T54282—94的技术内容一致,仅按有关规定重新进行了编辑。本标准自实施之日起代替JB/T54282—94。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位:江西工具厂。本标准主要起草人:李维国、陈庚泉、金明生。本标准于1990年首次发布。中华人民共和国机械行业标准JB/T54282-1999量具量仪产品
2、质量分等微米千分尺代替JB/T54282—94(内部使用)1范围本标准规定了微米千分尺的合格品、一等品和优等品的各项质量指标。本标准适用于成批生产的微米千分尺质量等级的评定。2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。JB/T10032—1999微米千分尺JB/T54247.1—1996量具量仪产品质量分等通则JB/T54247.2—1996量具量仪产品质量分等抽样验收细则3合格品合格品必须达到JB/T10032规定的各项要求,按照JB/T54247
3、.1的规定,其不合格项分为:3.1A类不合格(致命缺陷类)微米千分尺的示值误差和测量面的平行度公差应不大于表1的规定。表1测量范围示值误差平行度公差mmμmμm0~1510~25225~501.550~753275~1003.2B类不合格(重缺陷类)3.2.1微米千分尺上不得有影响使用性能的外部缺陷。3.2.2微米千分尺测微螺杆移动应平稳,无卡滞现象,其轴向和径向间隙应不大于0.01mm。3.2.3微米千分尺两测量面不应有明显偏位。3.2.4微米千分尺锁紧装置应能保证牢固地锁紧测微螺杆,锁紧时两测量面间距离变化应不大于0.001mm。国家机械工业局1999-06-09批准2000
4、-01-01实施1JB/T54282-19993.2.5Ⅱ型、Ⅲ型微米千分尺的微米游标与微分筒刻线面连接处的轴向间隙应不大于0.10mm。3.2.6Ⅰ型微米千分尺固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边的距离应不大于0.4mm;Ⅱ型、Ⅲ型微米千分尺微米游标与微分筒刻线面的高度差应不大于0.03mm。3.2.7Ⅰ型微米千分尺固定套管上的纵刻线以及Ⅱ型、Ⅲ型微米千分尺微米游标上的游标刻线与微分筒上的刻线宽度差应不大于0.03mm。3.2.8微米千分尺对零位时,微米游标上的“零”刻线和尾刻线与其微分筒上相应刻线的重合度应不大于表2的规定。表2mm“零”刻线的重合度尾刻线的重合度0.0050.
5、053.2.9微米千分尺测量面应镶硬质合金;测微螺杆的硬度应不低于664HV(≈58HRC)。3.2.10微米千分尺测量面表面粗糙度Ra的最大允许值为0.04μm。3.2.11微米千分尺测量面与球面接触时的测力应为6~10N,其测力变化应不大于2N。3.2.12微米千分尺测量面的平面度公差为0.0006mm。3.2.13微米千分尺校对量杆的尺寸偏差和两测量面的平行度公差见表3。表3标称尺寸尺寸偏差两测量面平行度公差mmμmμm25±1150±1.5751.53.2.14校对量杆测量面的硬度应不低于766HV(≈62HRC)。3.2.15校对量杆测量面的表面粗糙度R的最大允许值为0
6、.04μm。a3.2.16微米千分尺上应标志:a)制造厂厂名或注册商标;b)测量范围;c)分度值;d)产品序号。3.2.17校对量杆上应标志标称尺寸。3.2.18包装盒上应标志:a)制造厂厂名或注册商标;b)产品名称;c)测量范围。3.2.19产品合格证上应标志:2JB/T54282-1999a)产品标准的标准编号;b)产品序号;c)出厂日期。3.3C类不合格(轻缺陷类)3.3.1外观:应符合JB/T54247.1—1996附录B中第B2章的规定。3.3.2微米千分尺和校对量杆应有隔热装置。3.3.3微米千分尺刻线宽度应为0.15~0.20mm。3.3.4微米千分尺对零位时,Ⅰ型
7、微分筒锥面的端面以及Ⅱ型、Ⅲ型微米游标锥面的端面至固定套管刻线的距离允许压线不大于0.05mm,离线不大于0.10mm。4一等品一等品除达到合格品的各项要求外,还必须达到如下要求。4.1A类不合格(致命缺陷类)将微米千分尺合格品的示值误差压缩10%。4.2B类不合格(重缺陷类)4.2.1测微螺杆的螺距误差不应大于0.002mm。4.2.2微米千分尺清洁度不应大于表4的规定。表4mg微米千分尺类型Ⅰ型Ⅱ型Ⅲ型清洁度810124.2.3微米千分尺两测量面的偏位值不应大于表5的规定。表
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