JBT54276-1999量具量仪产品质量分等奇数沟千分尺.pdf

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1、J42JB/T54276－1999量具量仪产品质量分等奇数沟千分尺（内部使用）1999-06-09发布2000-01-01实施国家机械工业局发布JB/T54276－1999前言本标准是对JB/T54276—94《奇数沟千分尺产品质量分等》的修订。本标准与JB/T54276—94的技术内容一致，仅按有关规定重新进行了编辑。本标准自实施之日起代替JB/T54276—94。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位：青海量具刃具厂。本标准主要起草人：王荣华。本标准于1988年首次发布。中华人民共和国机械行业标准JB/T54276－1999量具量仪产品质量分等代替JB/T542

2、76—94奇数沟千分尺（内部使用）1范围本标准规定了奇数沟千分尺的合格品、一等品和优等品的各项质量指标。本标准适用于成批生产的奇数沟千分尺质量等级的评定。2引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T9058—1988奇数沟千分尺JB/T54247.1—1996量具量仪产品质量分等通则JB/T54247.2—1996量具量仪产品质量分等抽样验收细则3合格品合格品必须达到GB/T9058规定的各项要求，按照JB/T54247.1的规定，其不合格项分为：3.1A

3、类不合格（致命缺陷类）奇数沟千分尺的示值误差和测微螺杆测量面对测砧两测量面交线的平行度公差见表1的规定。表1测量范围示值误差平行度公差型式mmμmμm1~15；5~20；20~35±44三沟千分尺35~50±5550~65；65~80±665~25±44五沟千分尺25~45±55或45~65±66七沟千分尺65~85±773.2B类不合格（重缺陷类）3.2.1外观：奇数沟千分尺上不得有影响使用性能的外部缺陷。3.2.2相互作用：测微螺杆移动应平稳，无卡滞现象，其轴向和径向间隙应不大于0.01mm。国家机械工业局1999-06-09批准2000-01-01实施1JB/T54276－19993.2

4、.3固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度差应不大于0.03mm。3.2.4固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边的距离应不大于0.4mm。3.2.5奇数沟千分尺测量面应镶硬质合金。3.2.6奇数沟千分尺测量面的表面粗糙度R最大允许值为0.1μm。a3.2.7测微螺杆测量面的平面度公差为0.6μm；测砧测量面的平面度公差为1μm。3.2.8测量面与球面接触时的测力应为6~10N，测力变化应不大于2N。3.2.9校对量柱的尺寸偏差、圆柱度公差见表2。表2标称尺寸尺寸偏差圆柱度公差mmμmμm5；20±1.5125；35±2145；50；65±2.51.53.2.10校对量柱测量面的硬度应不低于766HV

5、（≈62HRC）。3.2.11校对量柱测量面的表面粗糙度Ra最大允许值为0.05μm。3.2.12尺架受10N力时的变形量应不大于表3的规定。表3测量范围尺架受10N力时的变形量型式mmμm1~15；5~20；20~352三沟千分尺35~50350~65；65~8045~252五沟千分尺25~453或45~654七沟千分尺65~8553.2.13奇数沟千分尺上应标志：a）制造厂厂名或注册商标；b）产品名称；c）测量范围；d）分度值；e）产品序号。3.2.14校对量柱上应标志标称尺寸。3.2.15包装盒上应标志：2JB/T54276－1999a）制造厂厂名或注册商标；b）产品名称；c）出厂日期。

6、3.2.16产品合格证上应标志：a）产品标准的标准编号；b）产品序号；c）出厂日期。3.3C类不合格（轻缺陷类）3.3.1外观：应符合JB/T54247.1—1996附录B中第B2章的规定。3.3.2奇数沟千分尺应有隔热装置。3.3.3奇数沟千分尺刻线宽度为0.15~0.20mm。3.3.4对零位及测量毫米和半毫米数值时，微分筒锥面的端面至固定套管刻线的距离允许压线不大于0.05mm，离线不大于0.10mm。3.3.5奇数沟千分尺测砧夹角见表4。表4型式测砧夹角三沟千分尺60°五沟千分尺108°七沟千分尺128°34′17″4一等品一等品除达到合格品的各项要求外，还必须达到如下要求。4.1A类

7、不合格（致命缺陷类）奇数沟千分尺的示值误差应不超过表5的规定。表5测量范围示值误差型式mmμm1~15；5~20；20~35±3.5三沟千分尺35~50±4.050~65；65~80±5.05~25±3.5五沟千分尺25~45±4.0或45~65±5.0七沟千分尺65~85±6.04.2B类不合格（重缺陷类）测微螺杆的螺距误差应不大于0.003mm。3JB/T54276－19994.3移动偏差测微