集成电路测试开题报告

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1、本科毕业设计开题报告题目：基于混合模式的集成电路测试研究院（系）：电气与信息工程学院班级：通信07-1班姓名：曹光辉学号：30号指导教师：王昊教师职称：副教授黑龙江科技学院本科毕业设计开题报告题目基于混合模式的集成电路测试研究来源教师科研1、研究目的和意义测试贯穿于集成电路制造的各个阶段，从流片之前对设计原型测试，到生产过程中频繁的测试，封装后芯片的测试，直到用户方的接收测试，其目的在于尽可能早的把有故障发现出来，将有缺陷的芯片检测出来。这是因为故障芯片每逃过一个阶段的检测，那么下一个阶段将故障检测出来的费用将是上一个阶段的5—10倍；另一方面的原因是只有经过有效的测试的芯片才能上市

2、，产品上市时间对企业来说至关重要，研究结果表明产品上市晚三个月，利润减少10%，上市晚六个月，利润将减少33%。由此可见有效的测试能显著降低芯片的成本。集成电路测试现在面临着一个严峻的挑战，即每个晶体管的制造成本呈持续下降的趋势，而每个晶体管的测试成本却基本上保持不变。因而测试成本将很快超过其制造成本。原因很简单，因为自动化测试设备工业要跟上摩尔定律所预期的芯片发展速度非常困难而先进的测试设备的价格非常昂贵使得测试成本居高不下。如何降低测试成本，减少芯片投入市场的时间，集成电路测试技术的研究有其至关重要的地位。要降低测试成本就必须在设计过程中考虑电路的可测性，使得设计成为可测试设计。

3、在设计过程中增加测试电路来降低芯片测试难度的可测性设计技术，能显著提高测试的故障覆盖率，缩短芯片的测试时间，降低测试对自动化设备的依赖，所以成为解决集成电路测试难题的唯一出路。2、国内外发展情况21世纪是技术高度发达的信息化世纪。全球信息化的发展正在加快步伐。在这里起关键性作用的技术是以集成电路为核心的电子信息技术。集成电路测试技术是集成电路产业的重要基础技术,它贯穿集成电路设计、生产、应用的全过程。2003年最大的自动测试设备应用市场为混合信号集成电路测试,其次为存储器测试,分别占市场比重30%与26%。根据我国台湾地区的数据显示混合信号集成电路测试占的比例最大。国际上先进的测试设

4、备制造商都针对主流测试市场推出中、高档测试设备,但任何一款测试设备都不能满足不断更新的测试需求。为解决性能、价格的矛盾,适应性和复杂性的矛盾,各大测试设备制造商(如泰瑞达、爱德万公司)都先后提出测试系统的开放性和标准化,使系统具有灵活配置,不断升级,快速编程,以适应各种测试需求,构造出最优性/价比的系统。3、研究/设计的目标：传统的自动测试设备已经不能满足大规模集成电路测试的需要，芯片内建自测试已经逐步运用到芯片测试中。本文主要是为了解决多扫描的内建自测试中的一些问题，来达到减少测试数据量、缩短测试时间，并尽可能降低硬件开销和测试功耗的目的。然后针对这一现状，提出了一种选择多单元的相

5、容数据重新播种内建自测试方法。4、设计方案（研究/设计方法、理论分析、计算、实验方法和步骤等）：（1）、分析系统的可靠性(2)、分析集成电路的测试方法(3）、改进混合模式内建自测试（4）、选择多个单元相容数据重播种内建自测试(5)、分析实验结果5、方案的可行性分析：本文是基于混合模式的集成电路测试研究，深刻分析了混合集成电路测试的原理和方法。我认为还是有非常大的可行性的。6、该设计的创新之处现今的混合模式内建自测试方法，存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点。在存储测试模式中，提出了一种选择多单元的相容数据重新播种内建自测试测试方法。充分利用线性反馈移位寄存器编码能力产生最适合的种子

6、。并运用测试向量相容压缩方法，减少测试集中包含的确定位位数，降低了计算线性反馈移位寄存器种子复杂度和种子的位数。实验结果表明该方法可以增强线性反馈移位寄存器的编码效率、改进故障覆盖率。7、设计产品的主要用途和应用领域：混合模式的集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。本文主要是为了解决多扫描的内建自测试中的一些问题，来达到减少测试数据量、缩短测试时间，并尽可能降低硬件开销和测试功耗的目的8、时间进程系统分析：4月1日-4月10日总体设计：4月11日-4月20日详细设计：4月21日-5月19日撰写论文：5月20日-6月10日论文打印：6月11日-6月12日论文答辩：6月17日-

7、6月21日9、参考文献：1刘鸿琴.ATE产业发展的新动向，国外电子测量技术,2010,（6）：3-4122中玉.国产集成电路产业发展现状和展望。电子科技导报,2009，（6）：2-53伯恩斯著，冯建华译.混合信号集成电路测试与测量.北京：电子工业出版社出版社，2009，30-354王阳元，黄如，刘晓彦，等.面向产业需求的21世纪微电子技术的发展.中国集成电路,2008,(6)：407-4135朱莉，林其伟.超大规模集成电路测试技术.中国测试技术，2009，