资源描述：
《基于片外信号源的soc 低成本测试解决方案》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案*钟伟宏1，刘炎华2，孙 玲2,3（1.南通富士通微电子股份有限公司，江苏南通；2.南通大学，江苏省专用集成电路设计重点实验室，江苏南通；3.计算机体系结构国家重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京）摘 要：测试已经成为SoC设计过程中必不可少的步骤。随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高，其测试变得越来越复杂，测试成本也越来越高。按照目前的发展趋势，测试成本将有可能超过芯片自身的设计和制造成本，如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。卫星数字电视信道接收芯片
2、作为机顶盒关键芯片之一，对低成本测试的要求也越来越迫切。本文针对某卫星数字电视信道接收芯片，通过分析该芯片的内部模块功能，采用片外信号源方法设计该芯片的低成本测试方案，并在自动测试系统T6575上实现。实际生产结果表明，本方法能极大降低芯片测试成本。关键词：片上系统；片外信号源；低成本；自动测试系统中图分类号：TP302.8 文献标识码：A 文章编号：1681-1070（2012）11-0001-03IntroductionofLowCostSoCTestingSchemeBasedonOff-chipS
3、ignalSourceZHONGWeihong1,LIUYanhua2,SUNLing2,3（1.NantongFujitsuMicroelectronicsCO.,LTDNantong,China;2.JiangsuKeyLabofASICDesign,NantongUniversity,Nantong,China;3.StateKeyLaboratoryofComputerArchitecture,InstituteofComputingTechnology,ChineseAcademyofScienc
4、es,Beijing,China）Abstract:TestingisanindispensablestepinSoCdesign.Withthecontinuouslyincreasinginchipcomplexityandtransistordensity,thecostofchiptestingisalsoincreasingandevenexceedsthecostofdesignandmanufacturing.Howtodecreasethetestingcosthasbecomehotres
5、earcharea.Channelreceiverchipofsatellitedigitaltelevision,asoneofkeycomponentsinset-topbox,hasgrowingrequirementforthelowcosttesting.Inthispaper,alowcosttestingschemebasedonoff-chipsignalsourceisproposedbyanalysingtheinternalmodule,workingprincipleandchara
6、cteristicsofthechip,whichisimplementedonATET6575.Theresultsofproductiondemonstratethattheproposedtestingschemecanobviouslyreducethetestingcostofthechip.Keywords:SoC;off-chipsignalsource;lowcost;ATE1引言收稿日期：2012-06-27*基金项目：教育部科学技术研究重点项目（No.）；江 苏省专用集成电路设计重点实验
7、室开放课题（JSICK0801）；计算机体系结构国家重点实验室开发课题（ICT-ARCH）随着国内集成电路设计水平和半导体制造技术的不断提高，片上系统（SystemonChip，SoC）已经成为国内集成电路设计公司主流产品和重点研发方向[1~3]。一个典型的SoC系统通常集成了微处理器、嵌入式存储器、模拟IP核和数字IP核等多个功能模块。一些主流的消费类电子产品，如机顶盒、智能手机、导航、平板电脑等，其核心芯片均为SoC芯片。SoC芯片作为消费类电子的核心模块，其市场需求不断扩大。同时随着工艺和设计技术的不
8、断发展，SoC芯片的更新换代速度也在不断提升。由于SoC本身功能的复杂性，使得SoC芯片功能的验证变得非常困难。更快的处理速度以及更低的工作能耗也对SoC芯片测试提出了更为严格的要求。SoC测试技术作为SoC设计的关键技术之一，一直是人们关心研究的热点之一[4~5]。……2待测SoC系统芯片简介2.1基本工作原理……图1基带解调芯片应用框图……2.2基本测试项分析……表1单只芯片测试成本分析表测试系统T2000T
