如何选择合适的测量系统

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时间:2018-04-29

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1、如何选择合适的测量系统如何选择合适的测量系统坐标测量系统初步如何选择适合的测量系统面向不同类型几何量的测量应用坐标测量机的定义坐标测量机的定义:通过测头系统与工件的相对移动,探测工件表面点三维坐标的测量系统将被测物体置于三坐标测量机的测量空间,可获得被测物体上各测点的坐标位置,根据这些点的空间坐标值,由软件进行数学运算,求出待测的几何尺寸和形状、位置坐标测量技术与传统测量技术的区别传统测量技术坐标测量技术对工件要进行人工的精确及时的调整不需对工件进行特殊调整专用测量仪和多工位测量仪很难适应测量简单

2、地调用所对应的软件完成测量任务任务的改变与实体标准或运动学标准进行测量比较与数学的或数字模型进行测量比较尺寸形状和位置测量在不同的仪器上进行尺寸、形状和位置的评定在一次安装中不相干的测量即可完成手工记录测量数据产生完整的数字信息,完成报告输出、统计分析和CAD设计坐标测量技术的优势通用性强,可实现空间坐标点位的测量,方便地测量出各种零件的三维轮廓尺寸和位置精度;测量精确可靠;可方便地进行数据处理与程序控制。只要测量机的测头能够瞄准(或感受)到的地方(接触法与非接触法均可),就可测出它们的几何尺寸和

3、相互位置关系,并借助于计算机完成数据处理。这种三维测量方法具有极大的万能性。因而它可纳入自动化生产和柔性加工线中成为一个重要的组成部分坐标测量系统的构成显示控制指令计算测量机测量机控制数控系统数控系统指令计算主机主机三轴三轴机机打印输出机械部分机械部分控制器控制器//光栅尺光栅尺三轴三轴软件绘图仪反馈数据软件测头系统反馈驱动器数据系统测头系统驱动器系统FMS、CAM和加工测量机测量机测量机测量机CAD/计算机中心等内设备内设备外设备外设备辅助设计工作站主机固定桥式活动桥式水平臂式龙门式触发式探测系

4、统机械测头包括三个电气触点。在探针偏移后,至少一个触点断开。这时,测量机将立即读取X、Y和Z坐标。这些坐标值代表了这一瞬间的探针测球中心坐标。接触断开触发式探测系统的主要类型TesaStarTesaStar-ITesaStar-M自动可分度测头系统手动旋转测头可分度手动旋转测头软件系统的选择考虑要素1.便于使用简单的测量任务需要通过简单、明显和直观的方法来完成。同时,在软件设计上,需要符合人的思维逻辑进行设计,便于进行程序的操控,同时还需要具备在线的帮助,以便对测量操作人员及时进行提醒和帮助。这样

5、,使得整个软件只需简单的培训,就可使得操作人员能够进行基本的操作和维护。2.非规则形状工件的找正涉及到复杂形状工件基准平面和基准点的找正问题,需要软件具备多种找正的方法,以适应不规则几何形状工件的找正问题。扫描式探测系统的主要类型定义:为快速获取复杂轮廓和自由形状物体的几何数据而采用的探测装置主要目的:精确重现物体的几何形状主要应用领域:精确测量逆向工程工件/CAD模型的尺寸校准仿形铣快速造型非接触扫描式探测系统PolygonizedModel原始多边形点云扫描–获取数据曲面数据探测系统的构成测头

6、适合不同偏转力的四个测头型号测头加长杆全套加长杆适合不同的应用探针包含直探针、星型探针的探针组件更换支架模块化的配置。适用于所有TESA和Renishaw测头。非常紧凑的控制单元。测量软件通用测量软件专用测量软件数据统计分析软件箱体类工件,无CAD模型具备CAD模型的箱体类工件具备CAD模型的自由曲面工件几何量的分类几何量可分为:简单几何量(通过简单的方程式进行定义:线、圆柱、平面等等)复杂几何量(通过复杂的方程式进行定义:双曲线、渐开线、椭圆等等)自由曲面类几何量(由高级多项式构成:Coons、

7、贝塞尔曲线、NURBS曲面)如何选择合适的测量系统简单几何量主机行程范围精度探测系统测座复杂几何量测头软件通用测量专用测量其他环境自由曲面类几何量工作效率技术服务和技术支持主机:行程范围250650300工件长度:650mm需要间隙(左边):250mm需要间隙(右边):300mm⇒最小需要的行程范围:1200mm主机:精度指标ISO10360–坐标测量机的性能评定标准MPEEMPEPMPETHPZ2314YXMPE:MPE:MPE:EPTHP长度测量最大允许示值误差最大允许探测误差最大允许扫描探测

8、误差MPE值与MPE值应用的场合EP长度测量最大允许示值误差MPE最大允许探测误差MPEEP应用在以下测量应用于所有形状的测量,如:-距离-直线度-直径-平面度-圆度-圆柱度-自由形状公差0.0200.0070.0070.0050.0050.005360±0.015360±0.0150.010.010.0200.020±±Ø70H5Ø70H5385385Ø100H7Ø100H70.0050.005500±0.030MPE值应用的场合THP最大允许扫描探测误差MPETHP应用与所有形

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