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252cf 随机脉冲源法测量深次临界瞬发中子衰减常数

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2、次临界(的测量是有效的$#L关键词!)B)GO&次临界&瞬发中子衰减常数中图分类号!9]T**’)!!!文献标识码!+!!!文章编号!*"""@#L>29$’7O)"9!"’#&C-.,B-9*#R*B%0&’F&B0+*6=(E].14@&.!dC=DC7%@IJ1!cS(KJ!]Sc.71@L:214!dC+(EK.!]SG:J1@5J71"41&#.6,.3(52)*7#8

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6、西黄陵人!硕士研究生!核能科学与工程专业)B)第#期!!宋凌莉等’GO随机脉冲源法测量深次临界瞬发中子衰减常数A*BI发射)个裂变碎片和平均?’A#个瞬发中子的.)B)"UQ84G2eP"I(%#8%"*#I))*特性!研制*种纳秒级响应的快电离室$.@-"若)B)式中’.为*次)B)GO自发裂变产生的平均中GO自发裂变平均时间间隔远大于核系统)B)瞬发中子衰减时间!则可认为)B)子数&"为)B)GO自发裂变中GO自发裂变中子价值&"为核系统子在核系统内诱发的裂变链在时间上相互独平均中子价值&U为*次)B)GO自发裂变探测器立!相互之间不产生影响

7、$将电离室置于核系对核系统中子的总探测计数&Q为核系统瞬发统旁!*次)B)中子增殖系数&.为核系统每次裂变平均中子GO自发裂变时!电离室探测*个裂变碎片!准确确定裂变时刻!相应地给出)B)数&@为*次)B)GOGO自发裂变诱发核系统裂变自发裂变中子入射核系统的时刻信号$将该信数&-为瞬发中子寿命$号作为起始信号触发时间分析器$用快响应中实际测量时!需考虑非相关计数!则由多道子探测器探测裂变链泄漏中子!准确确定泄漏时间分析器测到的由式"*#累计的相关中子计中子入射探测器时刻!并用时间分析器记录泄数统计分布和非相关计数统计分布两部分用单漏中子入射时刻

8、分布$时间分析器*次测量的指数形式表示为’量程H由裂变链衰减时间确定!一般取(H值R"%#8%GK8%NW2eP"I(%#8%")#为A

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