光栅光谱仪实验报告

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1、光栅光谱仪的使用学号学生姓名张家梁专业名称应用物理学(通信基础科学)所在系(院)理学院2017年3月14日光栅光谱仪的使用张家梁1实验目的1.了解光栅光谱仪的工作原理。2.学会使用光栅光谱仪。2实验原理1.光栅光谱仪光栅光谱仪结构如图所示。光栅光谱仪的色散元件为闪耀光栅。入射狭缝和出射狭缝分别在两个球面镜的焦平面上,因此入射狭缝的光经过球面镜后成为平行光入射到光栅上,衍射光经后球面镜后聚焦在出射狭缝上。光栅可在步进电机控制下旋转,从而改变入射角度和终聚焦到出射狭缝处光线的波长。控制入射光源的波长范围,确保衍射光无级次重叠,可

2、通过控制光栅的角度唯一确定出射光的波长。光谱仪的光探测器可以有光电管、光电倍增管、硅光电管、热释电器件和CCCD等多种,经过光栅衍射后,到达出射狭缝的光强一般都比较弱,因此本仪器采用光电倍增管和CCD来接收出射光。2.光探测器光电倍增管是一种常用的灵敏度很高的光探测器,它由光阴极、电子光学输入系统、倍增系统及阳极组成,并且通过高压电源及一组串联的电阻分压器在阴极──打拿极(又称“倍增极”)──阳极之间建立一个电位分布。光辐射照射到阴极时,由于光电效应,阴极发射电子,把微弱的光输入转换成光电子;这些光电子受到各电极间电场的加速

3、和聚焦,光电子在电子光学输入系统的电场作用下到达第一倍增极,产生二次电子,由于二次发射系数大于1,电子数得到倍增。以后,电子再经倍增系统逐级倍增,阳极收集倍增后的电子流并输出光电流信号,在负载电阻上以电压信号的形式输出。CCD是电荷耦合器件的简称,是一种金属—氧化物—半导体结构的新型器件,在电路中常作为信号处理单元。对光敏感的CCD常用作图象传感和光学测量。由于CCD能同时探测一定波长范围内的所有谱线,因此在新型的光谱仪中得到广泛的应用。3.闪耀光栅在光栅衍射实验中,我们了解了垂直入射时(Φ=90°)光栅衍射的一般特性。当入

4、射角Φ=90°时,衍射强度公式为光栅衍射强度仍然由单缝衍射因子和多缝衍射因子共同决定,只不过此时当衍射光与入射光在光栅平面法线同侧时,衍射角θ取+号,异侧时取-号。单缝衍射中央主极大的条件是u=0,即sinΦ=-sinθ或Φ=θ。将此条件代入到多缝干涉因子中,恰好满足v=0,即0级干涉大条件。这表明单缝衍射中央极大与多缝衍射0级大位置是重合的(图9.1a),光栅衍射强度大的峰是个波长均不发生散射的0级衍射峰,没有实用价值。而含有丰富信息的高级衍射峰的强度却非常低。为了提高信噪比,可以采用锯齿型的反射光栅(又称闪耀光栅)。闪耀

5、光栅的锯齿相当于平面光栅的“缝”。与平面光栅一样,多缝干涉条件只取决于光栅常数,与锯齿角度、形状无关。所以当光栅常数及入射角与平面光栅一样时,两者0级极大的角度也一样。闪耀光栅的沟槽斜面相当于单缝,衍射条件与齿面法线有关。,中央极大的衍射方向与入射线对称于齿面法线N,于是造成衍射极大与0级干涉极大方向不一致。适当调整光栅参数,可以使光栅衍射的某一波长强峰发生在1级或其它高级干涉极大的位置。图是平面光栅和闪耀光栅衍射各级谱线强度示意图。闪耀光栅是许多光栅光谱仪中采用的色散器件。3实验步骤1.粗调狭缝宽度。不打开光谱仪控制箱电源

6、,取下入射狭缝前的光源,调节入射狭缝的缝宽,直接观察狭缝宽度的改变。先顺时针调节,观察狭缝宽度逐渐增大,然后减小狭缝宽度至狭缝刚好完全关闭。后,调节缝宽至约0.50mm。同样,调节出射狭缝至0.5mm。注意,出射狭缝后挂接着光电倍增管,光电倍增管只能接收微弱光强,不可在室内照明强度下使用,因此实验过程中不可取下光电倍增管。2.寻找狭缝的零点误差。狭缝宽度由微分头调节,存在零点误差,我们可通过实际现象来判断。打开光谱仪电源控制箱和计算机,启动光谱仪软件。将溴钨灯安装到入射狭缝处(灯的前端接口与狭缝是配套的,可直接挂上),打开溴

7、钨灯电源,调节电流至大。调节负高压至300V,设在软件“参数设置”中选择工作模式为“能量”,间隔1.00nm,工作范围(即起始波长和终止波长)为200-660nm,采集次数为25,其它参数不变。点击菜单“定点”按钮,弹出的对话框中设置波长(500nm)和扫描时间(60s),设置后仪器将自动扫描至500nm处连续测量光强,60秒后停止。在扫描过程中,分别调节入射和出射狭缝,可即时看到出射光强的变化。保持出射狭缝0.50mm不变,减小入射狭缝,使光强刚好减小至零(或小到不变,光强一般至少小到10以下),此临界位置即为入射狭缝的零

8、点。同样,调节入射狭缝至0.50mm并保持不变,逐渐减小出射狭缝,使光强刚好减小至零(或小到不变),此临界位置即为出射狭缝的零点。记录零点误差。3.用钠灯双黄线校正光谱仪。点亮钠灯,使其对准入射狭缝,调节入射狭缝为0.40mm,出射狭缝为0.20mm,工作范围580-600nm,间隔0.0

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