毕业论文（设计）-基于multisim 10 的电子电路可靠性研究

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1、专业好文档基于Multisim10的电子电路可靠性研究雷跃谭永红（柳州铁道职业技术学院广西柳州）【摘要】利用Multisim10平台进行电子电路设计的可靠性研究，可以有效地解决传统分析方法难以对电子电路设计进行容差精确分析的技术问题。方法为统计取样法，其理论基础是概率论中的大数定理，基本原理是根据指定的分布规律在器件参数容差范围内随机地选取元器件及电路工作条件参数，再经大量计算，分析出电路性能的统计规律。通过实例，说明应用Multisim10进行蒙特卡罗分析和最坏情况分析的方法和步骤，呈现出Multisim10在电子电路设计的可靠性研究中出色的应用效果和

2、广阔的应用前景。【关键词】容差分析；仿真分析；可靠性【收稿日期】2010-3-5【作者简介】雷跃(1958-)，男，湖南长沙人，柳州铁道职业技术学院现代技术中心主任，高级实验师，主要从事电气自动化控制技术研究；谭永红(1959-)，女，广西桂林人，柳州铁道职业技术学院电子工程系高级实验师，主要从事应用电子技术研究。【中图分类号】TN702【文章标识码】AReliabilityResearchofElectronicCircuitBasedonMultisim10LeiYaoTanYong-hong(LiuzhouRailwayVocationalTech

3、nicalCollege，LiuzhouGuangxi)Abstract：usingMultisim10platformtoresearchthereliabilityofelectroniccircuitdesigncaneffectivelysolveaccuratetoleranceanalysisoftheelectroniccircuitdesign.ThismethodcalledstatisticalsamplingisbasedonBernoulliTheoreminProbabilityTheory.Accordingtothespec

4、ifieddistributionrule,itselectstheElectronComponentandworkconditionparameterswithinthetolerancerandomly,thenbyvirtueofcalculation,analyzesthestatisticalregularityofthecircuitperformance．Throughexamples，themethodsandstepsoftheMonteCarloanalysisandtheworstcaseanalysisbyMultisim10ar

5、eillustrated,andtheoutstandingeffectandbroadprospectofMultisim10inthereliabilityconsiderationofelectroniccircuitdesignarepresented.Keywords：toleranceanalysis；simulationanalysis；reliability1引言对于高精度的复杂电子系统，其稳定性问题在系统可靠性中占有很重要的地位。由于制造工艺和使用条件等原因，任何电子产品都不可避免地会受到随机扰动因素的影响。例如实际电路中的元器件参数和

6、其标称值之间的随机误差、使用时间的增加、环境条件的变化专业好文档等，均会造成元器件容差的积累，以至使电路、设备的输出超出规定值而无法正常使用。为尽可能地消除这种现象，在电子电路的设计过程中应进行有效的电路容差分析，以便在设计阶段采取措施加以纠正。电子电路可靠性设计中的容差分析，通常需要在建立具体电路的数学模型后，进行相关计算分析，这不但计算复杂，工作量巨大，而且大多数电路的模型建立较为困难，这就极大地限制了容差分析技术在电子电路可靠性设计中的应用。而Multisim10提供的容差分析方法，完全可以在电子电路设计中对设计电路进行全面、系统、精确地可靠性分析

7、。将Multisim10中容差分析技术和方法应用于电子电路可靠性分析中，既解决了建立电路模型的困难，又免去了复杂数学计算及大量的数据处理，可很好地实现电路性能和可靠性的并行设计分析，使电子电路的设计达到高质量、高可靠性的同时，还有效地降低成本，缩短了开发周期。基于Multisim10的容差分析方法与其他的分析方法相比，其具有更简便、快速和有效的优势。2容差分析方法的原理Multisim10的容差分析方法包括蒙特卡罗分析和最坏情况分析。蒙特卡罗分析是一种利用概率统计理论计算容差的方法。它是按照元器件的参数容差所服从的统计分布规律，用一组组伪随机数，求出元器

8、件参数的随机抽样序列，而后在不同的器件参数的随机抽样序列下进行电路特性仿真，并通