连接器测试之鹽霧試驗

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1、连接器测试之鹽霧試驗1前言鹽霧試驗是集成電路可靠性試驗之一,它可以用來檢驗產品的抗腐蝕環境能力的強弱。而鹽霧試驗所需的條件又比較多,?些條件會對試驗產生一定的影響。2試驗一般我們做鹽霧試驗的條件是鹽液:NaCl(無水);pH值:6.5~7.2;溫度:32-38℃;鹽霧沉積率:20000~50000/m2(24h);鹽霧持續時間:24h,48h,96h,240h;鹽濃度:0.5%-3%。鹽霧沉積率与鹽濃度是相對應的,?是因為它們之間的對應關系如下式Sd為鹽霧沉積率;[Cl]-為氯离子濃度。因為鹽濃度就是氯离子濃度,所以鹽濃度与鹽霧沉積率之間是相對應的。根据以上條件可以判斷,在進行鹽霧試驗時,影響

2、試驗的主要條件有以下几點:溫度;鹽液濃度;氧的溶解度;流速。為了驗証以上的條件對試驗的影響,本文選用若干表面干淨的電路按下列方法進行試驗驗証。方法1:鹽選用NaCl(無水);溫度為35℃;時間為24h。流速一定;按鹽濃度為1%,2%,3%,4%,5%分五組進行試驗,每一組五個電路。方法2:鹽選用NaCl(無水);濃度為3%;鹽霧沉積率為50000/m224h;時間為24h。流速一定;按溫度20℃,25℃,30℃,35℃,40℃,50℃分六組進行試驗,每一組五個電路。方法3:鹽選用NaCl(無水);濃度為3%;鹽霧沉積率為50000/m2(24h);時間為24h。溫度為35℃;按流速正常和流速變

3、大分兩組進行試驗,每一組五個電路。另外,為了研究樣品的擺放對試驗的影響,我們用方法4進行試驗。方法4:將15只樣品平均分成三組,蓋板向上,樣品偏离垂直方向30°,45°,75°,90°進行試驗,其他試驗條件是:鹽選用NaCl(無水);濃度為3%;鹽霧沉積率為:50000/m2(24h);時間為24h。流速一定;溫度為35℃。試驗后用純淨水清洗電路,放置1小時后,試驗結果見表1。3試驗分析本文對以上試驗結果進行了分析。在鹽霧試驗中,由于各种金屬的電极電位不同以及它們在鹽液中的過電位大小不一,所以在鹽霧中會發生很多的電化學反應。在陽极是金屬失去電子,成為离子,在陰极發生的電化學反應類型有析氫反應和

4、氧去极化反應等,其中氧去极化反應(吸氧反應)是最主要的反應類型。它是由于鹽液中含有的溶解氧而造成的,溶液中的氧可通過擴散作用不斷地向陰极區移動。氧向電极表面擴散決定整個吸氧腐蝕過程的速度,因為氧在鹽溶液的溶解度是有限的,吸氧腐蝕速度往往被氧向金屬表面的擴散速度所控制,也就是說,金屬腐蝕速度是与氧在陰极還原的极限電流密度相一致的。氧向陰极擴散速度由Fick第二定律得出式中,D為溶解氧擴散系數;δ為擴散層厚度;Ce為電极表面氧的濃度;C為溶液中氧的濃度。電极反應速度可由法拉第定律得出id:极限電流密度;n:价數;F:法拉第常數。當電极反應達到平衡,即擴散控制時:V1=V2由公式(2)、公式(3)得

5、出由于隨著電极反應的進行,電极附近氧原子不斷消耗,Ce降低,當Ce→0時,公式(4)可變為從公式(5)中可以看出,极限電流密度id与擴散層厚度δ、溶解氧擴散系數D、溶解氧的濃度C、价數n等有關;极限電流密度的大小也就意味著腐蝕速度的大小;其中D与環境溫度成正比。3.1溶液溫度的影響從公式(5)中可知,溶液溫度升高,使溶液粘度降低,從而使溶解氧的擴散系數D增加,所以溫度升高可以加速腐蝕過程。試驗結果見圖1(由表1中的結果轉化而來)。從圖1中知道,隨著溫度的升高,腐蝕速度也在逐漸增大,但是當溫度超過35℃后,腐蝕速度反而隨著溫度的增大而變弱。?一現象的產生主要是在溶液濃度一定的情況下,由于氧气在

6、溶液中的溶解度是与溫度成反比的。而腐蝕速度是受到兩個主要的因素來控制的,即溫度与溶解在溶液中的氧含量。在溫度低于35℃時,雖然氧的含量隨著溫度的升高而降低,由于在?种情況下電化學反應所需要的氧是足夠的,因而腐蝕速度受溫度控制。由于溫度的升高可以使溶解氧的擴散系數D變大,所以在溫度小于35℃時,腐蝕速度(即電化學反應速度)是与溫度成正比的。當溫度高于35℃,隨著溫度的升高,溶液中的氧的含量降低,不能滿足電化學反應所需要的含量。?時,腐蝕速度是受溶解氧的含量控制的,雖然溫度升高會使化學反應速度提高,但由于是氧在參与電化學反應,因氧濃度降低,所以腐蝕速度逐漸地隨溫度的升高而減慢。3.2溶液濃度的影響

7、在鹽霧試驗中,Cl离子的半徑小,破坏性很強。由于它的存在,使電路發生腐蝕現象。當NaCl溶液濃度增大,則Cl离子濃度也就變大,?時,電化學反應速度就應當變快。試驗結果見圖2(表1中的結果轉化而來)。由圖2可知,隨著鹽濃度的增大,腐蝕速度開始是与濃度成正比的,但當濃度超過3%后,腐蝕速度与濃度的關系是反比的,即反應速度隨鹽濃度的增加而降低。氧的溶解度与濃度成反比關系。?是由于在一定溫度條件下,腐蝕

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