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时间:2018-02-25
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1、單向ZENER建議使用手冊案例一:1顆藍光芯片或1顆四元芯片-+ZD-anodeZD-cathode⊙適用檔位:A,B,C,D,F,H⊙等效電路以及封裝後建議測試方式:測試項目符號測試條件Min.Max.Unit.測試目的順向電壓VFIF=10uA2.0V漏電偵測(1顆藍光的情況)順向電壓VFIF=10uA1.3V漏電偵測(1顆四元的情況)逆向電流IRVR=0.3V1000nA漏電偵測逆向電壓VzIR=100uA0.51V齊納開路檢測+-ZD-anodeZD-cathode案例二:2顆串連藍光芯片或2顆串連四顆芯片⊙適用檔位:C,D,F,H⊙等效電路以
2、及封裝後建議測試方式:測試項目符號測試條件Min.Max.Unit.測試目的順向電壓VFIF=10uA4.0V漏電偵測(2顆藍光的情況)順向電壓VFIF=10uA2.6V漏電偵測(2顆四元的情況)逆向電流IRVR=0.3V1000nA漏電偵測逆向電壓VzIR=100uA0.51V齊納開路檢測案例三:3顆串連藍光芯片或3顆串連四元芯片⊙使用型號:TK009ZD,TKN09ZD,TK006ZD,TKN06ZD+-ZD-anodeZD-cathode⊙適用檔位:F,H⊙等效電路以及封裝後的建議測試方式:測試項目符號測試條件Min.Max.Unit.測試目的順
3、向電壓VFIF=10uA6.0V漏電偵測(3顆藍光的情況)順向電壓VFIF=10uA3.9V漏電偵測(3顆四元的情況)逆向電流IRVR=0.3V1000nA漏電偵測逆向電壓VzIR=100uA0.51V齊納開路檢測案例四:以此類推多顆串連⊙適用檔位:H⊙最多可串連至7顆藍光芯片或8顆四元芯片
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