简易三极管特性参数测试系统设计

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时间:2018-02-08

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1、简易三极管特性参数测试系统设计[摘要]三极管是一种很常见的电子元器件,在电子线路中起到很大的作能。为了能够实现对三极管参数快速测量,设计了以ADC0832和单片机最小系统为主体的三极管测量系统。对三极管进行电压采样,将采样值送入ADC0832进行模数转换,再传送至单片机,通过LCD显示出来相应的结果,单片机的输出为三极管提供稳定的恒压源。论文详细地介绍了各个功能模块的特点及作用,重点阐述了DAC0832转换电路的整个运算过程。由于本系统具有鲜明的模块化特点它在抗干扰能力、性价比和功耗等方面相比于其他一些系统有一定的优势。最后的仿真实现了三极管电流放大倍数的测量,其余的三极管特性参数可以通

2、过丰富采样模块来实现[6]。[关键词]三极管;单片机;模块化;测试;DesignofSimpleTestSystemforTransistorParametersAbstract:Transistorisaverycommonelectroniccomponentsinelectroniccircuitscanplayagreatwork.InordertoachievetherapidmeasurementoftransistorparametersdesignedtoADC0832andsmallestsingle-chipsystemasthemainbodyofthetransi

3、stormeasurementsystem.Fortriodevoltagesampling,thesampledvaluesintotheADC0832analogtodigitalconversion,thensenttomicrocontroller,throughtheLCDdisplaythecorrespondingresults,microcontrolleroutputtransistortoprovideastablevoltagesource.Paperdescribesindetailthecharacteristicsofthevariousfunctionalm

4、odulesandfunctions,focusingontheconversioncircuitDAC0832entireoperationprocess.Sincethesystemhasdistinctivecharacteristicsofitsanti-jammingcapabilitymodular,costandpowerconsumptioncomparedtosomeotheraspectsofthesystemhascertainadvantages.Thefinalsimulationtoachievethetransistorcurrentamplificatio

5、nfactorofthemeasurement,andtheremainingparametersofthetransistorcanbeachievedbyextensivesamplingmodules.Keywords:Triode;Singlechipmicrocomputer;modular;tests;II目录1引言12设计方案与选择22.1总体方案设计22.2采样电路22.3主体控制、数据处理部分22.4显示部分23系统硬件电路设计33.1系统模块概述33.2单片机处理模块33.2.1单片机AT89C52概述33.2.2单片机最小系统43.3液晶显示模块43.4模数转换模块

6、63.5数模转换模块73.5.1DAC0832芯片概述73.5.2输出转换电路74系统软件程序设计104.1proteus与keil软件介绍104.2软件流程图115电路调试仿真145.1DAC0832转换电路调试145.2集电极采样电路调试155.3测试数据分析及结果166PCB版图设计186.1PCB简介186.2PCB设计流程18致谢23参考文献24附录25附录A:外文翻译25附录B:总体原理图42附录C:元器件列表43附录D:源程序44II1引言三极管是一种很常见的电子元器件,它虽然体积较小,结构简单,但是往往在电子线路中起到很大的作用,三极管的好坏和特性参数能对电路产生很大的影

7、响,甚至直接影响电路的功能。目前有很多方法测试晶体三极管,同时用于测量晶体三极管的各种图示仪有很多,它们大多用于测量或者观察三极管的各种输入、输出等特性,这些图示仪有良好的性能和较高的精度,但是这些仪器的性价比和实用性不强,主要原因是因为这些仪器的电路制作比较麻烦,性价比不高。而另外一些采用数字电路制作晶体管特性图示仪,由于测量精度较低,且一般只能测量输出特性,所以其应用也不是很广。传统的三极管特性参数等的测试主要采用晶体特性图示仪

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