2009utiii闭卷模拟试题

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1、2009超声专业理论闭卷模拟试题A一、是非题（在括号内正确的划“○”，错误的划“×”。每题2分，共40分）1、一般固体介质的声速和声阻抗均随温度升高而增大。（×）2、固体介质的弹性模量越大或密度越大，则其声速越大。（×）3、透镜的材料声速为C1，第二透声介质声速为C2，若制作凹曲面的聚焦探头，则必须保证C1大于C2。（○）4、调节超声波探伤仪“抑制”旋钮时，抑制越大，仪器动态范围越大。（×）5、超声波通过均匀介质中的异质薄层，当薄层厚度等于1/4波长二倍时，异质薄层对超声波穿透的影响很小。（○）（半波长的整数倍全透射；四分之一波长的奇数倍透射

2、率最低反射率最高）6、距声源200mm处φ4长横孔的回波声压比400mm处φ2长横孔的回波声压高。（○）7、因为有机玻璃/钢界面第一临界角小于有机玻璃/铝界面第一临界角，所以前者的第二临界角也一定小于后者。（×）（CL铝=6260m/s；CL钢=5900m/s；CS铝=3080m/s；CS钢=3240m/s；）8、使用双晶直探头测定钢板内部缺陷边界点时，探头的声波分割面必须与探头的移动方向相垂直。（○）9、双晶探头中发射晶片与接收晶片所用材料不同，因而灵敏度也不相同。（○）10、换能器尺寸不变而频率提高时，其声束扩散角增大，近场长度增大。（×

3、）11、在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波看作平面波，平均声压不随距离的增加而变化。（○）12、仪器脉冲发射上升时间越短，频带就越宽，可配用的探头频率也就越高。（○）513、温度对斜探头折射角的影响是：当温度升高时，折射角变大。（○）14、利用锻件底面调节检测灵敏度，如果两个锻件底面状况不同，一个底面粗糙，而另一个底面光滑，则灵敏度调节结果会不同，后者的灵敏度将比前者高。（×）15、纵波垂直法检测时，侧壁干涉不仅影响缺陷定位，而且影响缺陷定量。（○）16、直探头在圆柱形轴类锻件外园检测时，如发现游动回波信号，都应评定为裂纹。（×）17、

4、数字式超声检测仪的模—数转换器的字长(位数)决定其检测范围的大小。（×）18、TOFD超声检测技术的优点之一是缺陷高度的测量精度很高。（○）19、在TOFD超声检测技术中，将探头对称分布于焊缝两侧，探头平行于焊缝移动的扫查方法称为平行扫查。（×）20、探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1∶1调扫描，则探测显示深度总是大于缺陷实际径向深度。（○）二、单项选择题（将正确答案的序号填在括号内。每题2分，共30分）2、1、探头晶片背面加上阻尼块会导致：（D）（机械品质因子θm=E储/E损）A、θm值降低，灵敏度提高B、θm值增大，分

5、辨力提高C、θm值增大，盲区增大D、θm值降低，分辨力提高3、以下哪一条不是双晶探头的优点：（B）。A、盲区小B、定位精度高C、缺陷测长精度高D、杂波少3、选用大晶片尺寸探头的优点是：（A）A、辐射声能大而且能量集中B、可减少材质衰减损失C、对曲面工件检测时耦合损失小D、可提高缺陷定量精度54、以下关于锻件检测显示特征中，哪条是错误的：（C）A、工件内部有吸收性大的缺陷时，底波明显下降或消失B、荧光屏上出现的“草状回波”是因材料晶粒粗大引起C、用底波法调节检测灵敏度时，必须考虑材质衰减修正D、长轴类锻件从端部作轴向检测时，易出现“迟到波”5、

6、短横孔回波声压：（A）A、与其长度成正比，与其直径平方根成正比，与其距离的平方成反比B、与其长度成正比，与其直径平方成正比，与其距离的平方成反比C、与其长度成反比，与其直径平方根成正比，与其距离的平方成反比D、与其长度成正比，与其直径平方根成正比，与其距离的平方根成反比6、以下关于铸钢件检测的叙述，哪点是错误的：（C）A、应选择较低的检测频率，一般为0.5~2.5MHzB、检测前应测定其透声性，测得底波B1与B2的dB差愈小，其透声性愈好C、试块平底孔直径为φ2mm，其材质与被检工件相似D、对厚度特别大的铸件，可采用分层法检测（Φ3Φ4Φ6）

7、7、采用直探头检测对接焊接接头两侧母材的目的是：（C）A、检测热影响区的裂纹B、提高对接焊接接头两侧母材的验收标准，以保证焊缝质量C、检测可能影响斜探头检测结果的分层D、以上都不对58、以下哪一条不是影响缺陷定量的因素（C）A、表面耦合状况B、仪器垂直线性C、探头尺寸D、扫查方向9、使用模拟超声检测仪，影响缺陷定位精度的最主要因素是（D）A、工件形状B、探头声束指向性C、探头频率D、仪器时基线性10、下列哪种方法可以增加超声波在粗晶材料中的穿透能力：（C）A、将纵波检测改为横波检测B、将接触法检测液浸法检测C、在细化晶粒的热处理后进行检测D、

8、选用直径较大的探头进行检测11、关于反射体回波声压变化规律的叙述，错误的是：（B）A、空心圆柱体在内表面进行检测时，其底面回波声压比同声程大平面高B、理想的大平面对