GB 12085.6-1989 光学和光学仪器环境试验方法 砂尘.pdf

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1、UDC翻1.7.08N30中华人民共和国国家标准GB12085.1~12085.14-89光学和光学仪器环境试验方法Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods1989一12一29发布1990一08一01实施国家技术监督局发布中华人民共和国国家标准光学和光学仪器环境试验方法GB12085.6-89砂尘Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Dust1主题内容与适用范围本标准规定了砂尘试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本标准适用于二光学仪器、装

2、有光学零部件的仪器和光学零部件。2试验目的研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到砂尘影响的变化程度，特别是研究运动部件(如滑动面、轴承、接触器、控制装置、齿轮)的故障或不能允许的表面磨损。本试验不用来确定对粗粒砂尘的耐磨性。3引用标准GB12085.1光学和光学仪器环境试验方法术语、试验范围4试验条件暴露期间，光学表面应用各种措施防止砂尘的影响，如防尘Wo若试样在暴露时光Y表面不必罩炭，则应在有关标准中加以说明。试验箱(室)应具有一定的空间以保证试样的占有面积不大于试验箱(室)横截面积(与空气流动方向垂直的面积)的50%，体积不超过试验箱(室)有效体积的50%-矿物砂尘应

3、由边缘锐利的微粒组成，其中Si02按重量应不少于970,o。微粒尺寸分布和分析用的kf!"A丝筛网应符合表1的规定。表1Ivitifb尘'R+ifiv:尺于分布按玉嗽的白分比，%(允许偏差上20o)TO粉尺、卜mm筛网网格，泛、卜Pm20.1-0.1414080.071-0.1100150.045-0.0717175、0.04545每次试验应使用新的砂尘。试样应尽可能放在试验箱(室)III心附近，如多个试样同时试验时，国家技术监督局1989一12--29批准1990一08一01实施GB12085.6-89试样的位置均应与空气流动方向垂直，并且试样之间以及试样与试验箱(室)壁的距离均

4、大于100mm,试样的安置应使最易损表面朝着喷尘。在试验期间试样的位置可重新定位，以便将各个不同的表面暴露于空气流，在有关标准中应规趁对空气流暴露的试样表面蒯立置和数量，暴露周期应均匀分酉do每暴露面。5条件试验条件试验方法52:喷尘条件试验方法52喷尘的严酷等级按表2。表2严酷等级0102v033)温度，℃18-2818一2818-28相对湿度，%_<25<25<25步骤1空气速度，m/，8-108-108-10砂粒密度，9/m“5"155-155-15暴露时间，卜666温度，℃55-65一相对湿度，%<25步骤2"空气速度，m厂51~3暴露时间，h16温度，℃35-4555一6

5、5相对湿度，%<25<25少IN3空气速度，m/s8-108一10砂粒密度，9了m35一155-15暴露时间，h661一作状态I或2注:1)砂粒的进出是断续的。2)步骏1试验后立即进人步骤303)步骤1至步骤3应紧接着进行。Gs12085..一.白.试脸程序:I预处理预处理未作规定时，试样应清洁和干澡.8.2恢复除有关标准另有规定外，沈积的砂尘应通过摇动或攘刷的办法去除，不得将砂尘枯到试样上，也不用吹或吸的清洗方法除去砂尘。T环境试脸标记例.选用本标准中的条件试脸方法':f喷尘、严酷等级。1.工作状态2的标记为:GB12086.6一62-01一2.有关标准应包括的内容.环境试脸标记

6、.七.试样数量.c.未经保护的侍暴庵光学表面.d.预处理.二初始检测的内容和范围.t.暴露于空气流的试样表面的位置和数量.5.工作状态2工作周期的确定.h.工作状态2中间检测的内容和范围，:恢复.，.最后检测的内容和范围，.评价判据sI二试脸报告的内容和范围。GB12085.8-89附录A试验箱结构的示意圈(参考件)图A1试验箱结构的示意图1一包括计量器和除湿装置的进尘装置，2一风扇.3一气流矫直器.4一加热元件，‘一温度传感器.。一温度ifo，一气流控制阀1一YEqllfoTW度计:。一除湿《冷却，器.10一易窗室.1一栅格板t1Y-砂T.排除口“3一反向传1814=光电0尘w度

7、计11‘一暴礴窒的门I1.一风a电机.17-标准光旅，1e=温度传感器，19-42*GB12085.6-89附加说明:本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由上海光学仪器研究所归口。本标准由上海光学仪器研究所和贵阳光电技术研究所共同负责起草。