德律泰培训试题答案(笔试繁体版)

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1、TRI德律泰電子（深圳）有限公司TRT01001-AICT教育訓練測驗試題(筆試部分)客戶名稱：日期:姓名：_________是非題：1.(對)ICT測試時出現電阻+999。電容0或-999，表示該回路OPEN現象造成的。2.(對)保養維護Fixture不可用溶劑清洗針頭。3.(對)小電容並聯大電容線路，小電容無法準確測量。4.(錯)ICT測試機開機後，若發現系統功能自檢測試表中，電阻測試不良，則可更換AC量測板以處理該項問題。5.(對)若先打開PC進入ICT主畫面，再開ICT主機則會發生SWITCH-BOARDCONFIGERROR且壓床無法正常動作。

2、6.(對)ICT測試機可對電晶體作三點測試,例如:測NPN電晶體時將HIGHPIN在C腳,LOWPIN加在E腳,GuardingPin加在B腳上.7.(對)ICT測試時出現電阻爲0,電容爲+9999.表示該相關測試回路SHORT現象造成的.8.(對)ICT主機在關機之前,應先跳出測試程式待DOS提示符出現後,才關機以免造成測試資料丟失.9.(對)ICT系統自我檢測可在DEBUG->SELF_CHECK選項下之SYSTEM及SWITCHINGBOARDCHECK完成.10.(對)ICT測試機壓床部分應作適當之定期保養,定期擦拭及上油,並作放水之動作,同時須

3、檢查壓力錶指標在4~6kg/cm2.選擇題(可複選)：1.(C)欲安裝測試治具程式時，應該將治具廠商所提供之程式拷貝在哪個目錄下：A.根目錄；B.DOS程式所在之目錄；C.ICT主程序所在之目錄;D.沒有限制.2.(B)安裝治具後須將壓床之下壓高度調至下列何種程度:A.壓棒稍貼到PC板;B.壓棒下壓至護板距底座1~2mm;C.護板與底座完全貼緊不留空隙;D.壓至無法下壓.3.(ABC)ICT測試時發現IC-OPEN全部FAIL則可能原因下列何者爲非?A.HPControlBoard不良;B.MuxCard不良;C.ICT主機SystemControlBo

4、ard不良;D.AC量測板不良.4.(D)ICT在程式Debug之前下列那一項動作是不須要的:A.選擇與測試治具相對應之測試程式;B.在TEST->TEST_PAR下將所有參數設定妥當;C.在Learning->Open_Short->Learn下學習短斷路資訊;D.在REPORT中觀查WORST_COMP資訊.5.(BC)ICT系統自我檢定正常但壓床下壓測試待測板時,停留在測試OPEN/SHORT畫面下很久(感覺當機情形)此情形是什麽原因造成的?A.治具本身;B.待測板上有電池之類的零件;C.PC本身;D.壓床本身.6.(D)壓床無法下壓時下列何項檢查

5、是非必要的:A.檢查壓力錶壓強是否正常;B.檢查逆止閥是否有漏氣現象;C.檢查壓床與主機間D-TypeCable是否插接良好;D.檢查治具之64pinsCable是否插接良好.7.(C)ICT測試時發現某一顆IC的IC_OPEN程式全部FAIL其可能原因爲何?A.ICT主機不良;B.HPControlBoard;C.該顆IC的Probe不良或極性相反;D.開關板不良.8.(D)VIA孔上用針之品名與針的頭形角度應爲:A.T型頭(剖三面大頭);B.H型頭(九爪);C.V型頭(七爪);D.T型頭(剖三面小T頭).9.(AB)ICT測試中若經常有一STEP測試

6、FAIL(但待測板是良品)其可能的原因爲何?A.程式本身HI_PIN,LO_PIN或MODE選擇不對;B.治具測試針不良;C.ICT系統不良;D.壓床不良.10.(AD)ICT測試中常發生某一PINOPENFAIL則可能原因爲:A.治具測試針不良;B.ICT系統不良;C.程式錯誤;D.待測板的測試點被MASK住或表面有助焊劑未處理乾淨.簡答題:1.簡述Debug一個新治具的流程爲何?答：治具固定在壓床工作臺上；接好排線；雙面治具注意上下模對位安裝，單面治具注意壓棒種植使待測板壓平；拷貝測試程式到ICT目錄下，進入ICT畫面時，會自動讀入程式；設定測試參數

7、；先對OK之待測板進行ShortGroup及ICClampingDiode的學習；再開始測試；對不良步驟進行調試，依據標準值，Alt-X選擇高低點、隔離點，Alt-P選擇信號源（即Mode）,可以Alt-F7完成自動調整；接著，做細調，即依據測試分佈圖（F9），將量測值調試居中，對不穩定的步驟調整；調整至待測板測試OK；最後，單片板測試須OK，10片左右OK板測試也須OK。2.試舉出三種以上ICT無法測測試或無法準確測試之情形,並解釋爲何不可測.答：Rx//R1，若Rx≥20R1，則Rx不可測；因爲Rx漏件，也僅有5%以下的差異。Cx//C1，若C1≥2

8、0Cx，則Cx不可測；因爲Cx漏件，也僅有5%以下的差異。Dx//L，因爲直流測