GBT 26803.2-2011 工业控制计算机系统 总线 第2部分：系统外部总线 串行接口通用技术条件

《GBT 26803.2-2011 工业控制计算机系统 总线 第2部分：系统外部总线 串行接口通用技术条件》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、ICS25．040．40N18a园中华人民共和国国家标准GB／T26803．2—2011工业控制计算机系统总线第2部分：系统外部总线串行接口通用技术条件Industrialcontrolcomputersyst咖一Bus—Part2：Systemexternalbus--Generalspecificationforserialinterface2011-07-29发布2011-12-01实施宰瞀鹊紫瓣警糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会仪1”GB／T26803．2—2011前言⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯1范

2、围······⋯⋯⋯⋯·2规范性引用文件⋯·3术语和定义⋯⋯⋯·4设计要求⋯⋯⋯⋯·4．1外观⋯⋯⋯⋯⋯·4．2材料⋯⋯⋯⋯⋯·4．3连接紧固性要求·4．4防护要求⋯⋯⋯-4．5布局要求··⋯·⋯·4．6互换性⋯⋯⋯⋯·5性能要求⋯⋯⋯⋯·5．1串行接口电气特性5．2连接器尺寸要求·5．3连接器电气要求·5．4互连电缆特性⋯·5．5安全设计要求·⋯5．6电磁兼容抗扰度·5．7环境影响⋯⋯····5．8抗运输环境影响·5．9抗腐蚀性气体性能5．10防爆要求⋯⋯⋯·表1RS232RJ45形式的接口定义·

3、·····表2RS422DB9插针接口形式接口定义表3RS485DB9插针接口形式接口定义表4元器件额定值⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯目次．1l2457刖吾GB／T26803．2—2011GB／T26803((工业控制计算机系统总线》分为以下部分：——第1部分：总论；——第2部分：系统外部总线串行接口通用技术条件；——第3部分：系统外部总线并行接口通用技术条件。本部分是GB／T26803的第2部分。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国工业过程测量和控制标准化技术委员会(SAC／TC124)归口。本部分

4、负责起草单位：深圳市研祥通讯终端技术有限公司。本部分参加起草单位：南京菲尼克斯电气有限公司、北京研华兴业电子科技有限公司、西南大学、中国计算机学会工业控制计算机专业委员会。本部分主要起草人：陈志列、墙登平。本部分参加起草人：刘朝晖、马飞、刘永池、刘学东、张伟艳、刘鑫、吕静、李涛、张渝、赵亦欣、黄仁杰、杨孟飞。工业控制计算机系统总线第2部分：系统外部总线串行接口通用技术条件GB／T26803．2—2011范围GB／T26803的本部分规定了工业控制计算机系统之系统外部总线串行接口的设计要求、技术要求等

5、。本部分适用于工业控制计算机系统中使用串行接口进行二进制数据交换的电子计算机和各种外部设备之间的互连，亦可用于设备与设备之间的互连。本部分列举了工业控制计算机系统中常用的4种串行接口实例。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB／T26803的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB3836．1—2010

6、爆炸性环境第1部分：设备通用要求(IEC60079—0：2007，MOD)GB4208--2008外壳防护等级(IP代码)(IEC60529：2001，IDT)GB4793．12007测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求(IBc61010-1：2001，IDT)GB／T6107--2000使用串行二进制数据交换的数据终端设备和数据电路终接设备之间的接口(idtEIA／TIA-232一E)GB／T110141989平衡电压数字接口电路的电气特性(eqvEIA-RS422A：1978

7、)GB／T12057--1989使用串行二进制数据交换的数据终端设备和数据电路终接设备之间的通用37插针和9插针接口(eqvEIARS449：1977)GB／T154791995工业自动化仪表绝缘电阻、绝缘强度技术要求和试验方法GB／T17212--1998工业过程测量和控制术语和定义(idtIEC60902：1987)GB／T17214．1—1998工业过程测量和控制装置工作条件第1部分：气候条件(idtIEC60654—1：1993)GB／T17214．3—2000工业过程测量和控制装置的工作条

8、件第3部分：机械影响(idtIEC60654—3：1983)GB／T17626．22006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC61000—4—2：2001，IDT)GB／T17626．33：2002，IDT)GB／T17626．42004，㈣GB／T17626．52005，IDT)2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000—4—2008电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(IEC61000-4-42008电磁兼容试