高度计基础知识.docx

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1、优选一、产品概述中图公司研发生产的SJ200系列高度计是是针对众多工业应用领域及检测机构进行设计的大量程、高精度的测量设备。本仪器采用高精度进口光栅作为测量基准，遵循阿贝原则，按照机械稳定性和热稳定性最好的原则设计而成，因此具有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。SJ200系列高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。二、结构原理本仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。SJ200系列高度计采用高精度光栅，即玻璃

2、基体的增量式光栅尺作为测量基准，所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的稳定特性。增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距，从而确保一个信号周期微小位置误差。三、性能特点u测量精度高（高精度进口光栅、高精度导轨）；9/9优选u可靠性好（经过10万次重复性实验）；u检测速度快：快速检测、示值稳定；u校准方便；u采用密珠导轨的测量杆能够承受很高的径向力且运动摩擦力极小；u应用广泛，自动检测设备、手动测量或定位设备-无论是长度、间距、高度、厚度或

3、直线位移都可以快速、准确和可靠的测量。一、SJ217高度计9/9优选中图SJ217高度计，测量系统由测头、数显装置SJ101和瓷台架组成。系统量程围为0~50mm，测量精度高。可用于精密零件质量控制和计量等领域。配专用指示表检定软件。uSJ217高度计技术参数型号SJ217测量围（0~50）mm配置50mm测头+SJ101+瓷台架+软件测量基准进口高精度增量式光栅精度(20℃)0.4μm重复性优于0.1μm分辨力0.01μm测量力垂直方向：1.25N-1.75N；水平方向：0.75N-1.15N测量速度小于7.2m/s驱动系

4、统被测物驱动，弹簧复位测头硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测头等）外部输出RS-232显示4.3寸触摸屏9/9优选单位切换mm/inch输入电压AC100V～240V50Hz～60Hz功能数据存储/数据校准/自动归零/预设值，配专用指示表检定仪检定软件工作温度（20±1）℃一、SJ207高度计中图SJ207高度计，测量系统由测头、数显装置SJ102和瓷台架组成。系统测量精度高，量程为0~50mm。uSJ207高度计技术参数：型号SJ207测量围（0~50）mm配置50mm测头+SJ102+瓷台架测量基准进口高

5、精度增量式光栅精度(20℃)1μm重复性优于0.2μm分辨力0.1μm、0.5μm、1μm可切换测量速度小于7.2m/s测量力（1~1.4）N驱动系统被测物驱动，弹簧复位9/9优选测量测头硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测头等）显示8位LED单位切换mm/inch输入电压DC12V，配专用适配器功能自动归零/数据校准工作温度（0~40）℃，标准温度20℃一、SJ228高度计中图公司的SJ228高度计由测头、数显装置SJ101及瓷台架组成，测量围大、测量精度高。SJ228高度计的测量杆由部电机控制伸出和缩回。可

6、连接按键盒，通过按键盒的控制信号控制电机驱动。亦可配置电脑软件，具有强大的测量及数据管理功能。uSJ228高度计技术参数：型号SJ228测量围（0~100）mm9/9优选配置100mm测头+SJ101+瓷台架+按键盒+软件测量基准进口高精度增量式光栅示值误差（0.2+L/1000）μm重复性优于0.1μm分辨力0.01μm测量速度探测速度1~5mm/s可调测量力1.5N驱动系统电机驱动测量测头硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测头等）显示4.3寸触摸屏或PC单位切换mm/inch输入电压AC100V～240V5

7、0Hz～60Hz功能具有强大的测量及数据管理功能工作温度（20±0.5）℃一、配置说明u数显装置SJ101SJ101采用真彩色4.3英寸TFT液晶显示，用于与SJ200系列高度计进行配套使用。系统采用CPLD高速信号采集处理电路，保证数据的稳定可靠。简单易用的全触控操作方式，支持数据存储、简单计算和导出等功能。9/9优选功能特点：1、高速信号采集处理，数据稳定可靠；2、4.3英寸TFT液晶显示，全触控操作；3、测量精度高，分辨力最高达0.01um4、数据修正、测量单位切换技术参数：输入频率≤500KHz细分倍数2000分辨力

8、0.01μm显示65536色真彩色，4.3英寸操作方式触控操作数据接口RS232工作电源AC100V~240V50Hz~60Hz工作温度（0~45）℃外壳材料铝合金重量约3.2kg尺寸（225×208×125）mmuSJ102光栅数显装置9/9优选SJ102用于与SJ200系列高度计进行配