微机原理与应用第三次实验报告.docx

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1、微机原理与应用第三次试验报告电92雷云泽实验4开发工具的使用和单片机结构一、实验目的1.了解MSP430F1xx实验板结构，掌握MSP430F1xx实验板检测方法2.了解MSP430单片机开发工具EW430的基本使用方法3.掌握EW430下常用的View的DEBUG命令4.了解MSP430F149单片机结构5.掌握P1~P6基本输入/输出有关寄存器功能二、实验任务1.了解MSP430F1xx实验板结构，掌握MSP430F1xx实验板检测方法参看“附录DMSP430F1xx实验板简介”中的原理图，了解+5V和+3V电源、发光二级管、按键、蜂鸣器等电路工作原理，设计检测这些电路的方法，并记

2、录检测结果。2.EW430开发工具的初步使用1）用短线块（也称跳线块）将单片机的引脚P2.7~P2.0与发光二级管的控制端LED8~LED短接2）参看“附录EEW430的使用方法”中的一至六，在S_number_name工程空间下建立项目Lab_4，汇编语言源程序参看test_asm.s43，了解汇编语言程序项目建立、程序下载和运行方法。3）在Lab_4项目中，将test_asm.s43中的MOV#10h,R15，改为MOV#2,R15，重新编译、连接和下载，观看执行的结果有什么不同。答发光二级管闪烁频率改变。4）退出EW4303.掌握查看和修改寄存器、存储器、外围模块端口寄存器方法。

3、点击任务2中建立的S_number_name.eww工程项目文件，见图4-1，进入EW430环境，点击project/debug，进入Lab_4调试状态。参看“附录EEW430使用入门”中的“七、EW430各命令的使用”，掌握查看和修改寄存器、存储器、外围模块端口寄存器的方法。完成下面操作：(1)练习将CPU寄存器R4、R5分别修改为0x1234，0x5678；答如图(2)练习将P2DIR修改为0xFF，将P2OUT修改为0x55；答如图(1)练习将地址为0200h开始的5个存储器单元改为0x12、0x34、0x56、0x78、0x90；答如图(2)练习将地址为0210h开始的6个存储

4、器单元改为“MSP430”对应的ASCII码。答如图4.了解端口P1~P6的选择PxSEL、方向PxDIR、输入PxIN、输出PxOUT各寄存器功能在Lab_4项目的DEBUG下，打开Register窗口，查看P1/P2端口，修改下面I/O寄存器，结合实验板原理图P1和P2端口的连接，解释观察到的现象1)修改P2DIR=0xFF，设置端口P2为输出方向，按表4-1，修改P2OUT的值，记录看到放光二极管L8~L1的现象，并分析原因表4-1I/O寄存器P2OUT和引脚P2.7~P2.0的关系L8~L1的状态P2.7~P2.0的逻辑值P2OUT=0x00全灭P2OUT=0xFF全亮P2OU

5、T=0xBD亮灭亮亮亮亮灭亮P2OUT=0x6E灭亮亮灭亮亮亮灭2）修改P1DIR=0x00，设置端口P1为输入方向，按照表4-2，按下相应的按键，打开Register窗口查看P1IN的值，可用按位查看的方式查看P1IN各位的值，见图4-2。注意：每按下实验板按键，需在Register下退出P1/P2，比如选一次CPUregister，然后再选P1/P2，重新查看P1/P2，否则P1IN的值没有更新。表4-2P1IN和管脚P1.7~P1.0的关系操作P1IN的值按下K80x7F同时按下K5，K40xE7同时按下K3，K10xFA图4-2按位方式查看P1IN5.了解程序计数器PC（即R0

6、寄存器）的变化规律1）已知复位后，MSP430F1xx的PC寄存器从存储器0xFFFE~0xFFFFH单元获取一个字内容作为执行的第一条指令地址，请问实验中查看到该地址的值是多少？在实验中，程序执行的第一条指令是什么指令？如果用Go(F5)命令执行程序，CPU将从目前PC值指向的存储单元开始取指令并执行，用break可以暂停程序的执行，当前PC指针指向暂停处，用View中的命令可以查看当前MCU的状态,如当前各寄存器的值、各存储单元值等。答①第一条指令的地址是1100H②程序执行的第一条指令是init:MOV#SFE(CSTACK),SP;setupstack2）在调试器是FETDEB

7、UG下，如果将FFFE~FFFFh内存的内容改为1200h，可否？为什么？答不可以，因为FFFE~FFFFH的内存属于FLASH，是存放指令的地方，相当于CPU中的ROM，在调试为FETDebuggger时不可修改。3）更改项目的属性设置，选调试器是simulator，编译、连接后，进入DEBUG，先将存储器FFFE~FFFFh的内容改为1200h，在DEBUG下用reset操作复位后，观察此时PC值的变化，再发Go命令执行程序，出现什么结果？