GBT 6148-2005 精密电阻合金电阻温度系数测试方法

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1、ICS77.040.01H21召Ii中华人民共和国国家标准GB/T6148-2005代替GB/T6148-1985精密电阻合金电阻温度系数测试方法Testmethodfortemperature-resistancecoefficientofprecisionresistancealloys2005GB/T6148-2005o9吕本标准制定时参照采用了ASTMB84:2001《精密电阻合金丝电阻温度系数测试方法》。本标准代替GB/T6148-1985《精密电阻合金电阻温度系数测试方法》本标准与GB/T6148-1985相比，除了编辑、文字、格式

2、上的修订外，其主要差异为:—本标准将使用温度范围从一600C-150℃修改为一650C-2500C，与ASTMB84:2001一致。-一本标准增加了规范性引用文件:GB/T8170-1987《数值修约规则》;—本标准对试样制备及预处理章节中条文内容进行了修改;一一本标准对恒温槽的部分技术要求进行了修改;一一本标准对试验数值的修约采用GB/T8170-1987的规定。本标准的附录A为资料性附录本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由机械工业仪表功能材料标准化技术委员会归口。本标准负责起草单位:重庆仪表材料研究所。本标准参加起草单位:绍兴春晖自动化

3、仪表有限公司、上海合金有限公司、江苏华鑫合金厂、常州市潞城伟业合金厂本标准主要起草人吴承汕、湛立新、邹华、王幼德、袁勤华、王伯伟、何伦英。本标准所代替的标准的历次版本发布情况为:-IS1778-1976,GB/T6148--1985GB/T6148-2005精密电阻合金电阻温度系数测试方法范围本标准规定了精密电阻合金电阻温度系数的测试方法。本标准适用于在一650C--2500C温度范围内，对精密电阻合金电阻温度系数的测量。也适用于其他合金在此温度范围内的电阻温度系数的测量。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是

4、注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T8170-1987数值修约规则3术语和定义下列术语和定义适用于本标准3.1电阻温度系数temperature一resistancecoefficient合金的电阻与温度的关系通常用以20℃为参考温度的二次方程式表示:www.bzfxw.comR,=Rao[1+a(t一20)+P(t一20)2]·····。············⋯⋯(1)式中

5、:R—t℃时的电阻值，,f1;R2o200C时的电阻值，。;t—试验温度，℃;a—一次电阻温度系数，1/0C;P-一二次电阻温度系数，1/'CZ.3.2平均电阻温度系数meantemperature-resistancecoefficient在两给定的温度范围内，电阻的相对变化除以引起这种变化的温度差。即:al，一(R一R,o)/CR,o(t一to)]············⋯⋯(2)式中:R,-t℃时的电阻值，tZ;R,o—to℃时的电阻值，。;t—试验温度，℃;‘。—参考温度，℃，，。通常取200C;气-t。到t区间的平均电阻温度系数，l/

6、'Co3.3峰值温度temperatureofmaximumorminimunresistance在合金的使用温度范围内，当电阻值为最大或最小时的温度，即:t一“0一2a/P⋯，，，.·..·..·..·.。·····.·。，。，(3)Gs/T6148-2005式中:，。—峰值温度，℃;口—一次电阻温度系数,1/'C;卢二次电阻温度系数，1/0c}04试样制备及预处理4.1试样制备4.1.1试样从被检合金的连续长度中截取，试样的电阻值应满足测量要求的准确度。试样电阻最小不得低于1。一“S1。各种规格试样的电阻值可参照附录A4.1.2对于不需绕制

7、的试样或难于绕制的高电阻率微细丝，当其电阻值满足测量要求的准确度时，可采用直线式试样。在制备试样时应当小心，以免使试样产生应力。4.1.3对于需要绕制才能使电阻值满足测量要求的准确度的试样，在制备试样时应当小心，以免使试样产生无法消除的应力。对于难以保持其形状的试样，可用绝缘框架支撑.以保持其形状。4.1.4绕制有绝缘层的线材时，依线径大小绕成直径为20mm-50mm的线圈。4.1.5对于需绕制的裸线试样，其表面应光滑、平直、无氧化。绕制后，应使裸线不相碰。对于可保持形状的粗裸线可制成直径不小于50mm的螺旋形试样。对于难以保持其形状的细裸线可

8、绕在直径为20mm以上的包有三层黄蜡绸的瓷管上。4.1.6裸片、带材试样可弯成“U”字形或螺旋形，弯曲部分的直径应在50m。以上。可在试样的电位端处冲